MEMORIA CON CIRCUITO REDUNDANTE.
LA INVENCION SE REFIERE A UNA MEMORIA CARACTERIZADA PORQUE COMPRENDE AL MENOS UNA SERIE DE CELULAS DE MEMORIA QUE CONTIENEN CELULAS DE MEMORIA,
UN CIRCUITO DE REDUNDANCIA QUE CONTIENE AL MENOS UNA CELULA DE MEMORIA REDUNDANTE, Y UN CIRCUITO SELECTOR DE LINEA DE SELECCION DE REDUNDANCIA, QUE TIENE AL MENOS UNA MEMORIA DE ASIGNACION, EN EL QUE PUEDE ALMACENARSE INFORMACION SOBRE ASIGNACION, CON LO CUAL, BASANDOSE EN DICHA INFORMACION SOBRE ASIGNACION, SE PUEDE ASIGNAR AL MENOS UNA CELULA DE MEMORIA REDUNDANTE A AL MENOS UNA CELULA DE MEMORIA. ADEMAS, LA MEMORIA DE ASIGNACION TIENE UNA CELULA DE MEMORIA DE ASIGNACION CON UNA MEMORIA INTERMEDIA PARA ALMACENAR LA INFORMACION SOBRE ASIGNACION. SEGUN EL PROCEDIMIENTO DE PROGRAMACION UTILIZADO, LAS MEMORIAS CONOCIDAS EXIGEN PERIODOS DE PROGRAMACION RELATIVAMENTE LARGOS PARA ASIGNAR CELULAS DE MEMORIA DE REDUNDANCIA A CELULAS DE MEMORIA. EN EL CASO DE LAS MEMORIAS PROPORCIONADAS POR LA INVENCION, LA INFORMACION SOBRE ASIGNACION PUEDE TRANSFERIRSE DESDE LA MEMORIA INTERMEDIA A LA CELULA DE MEMORIA DE ASIGNACION, PERMITIENDO ASI QUE LAS CELULAS DE MEMORIA REDUNDANTES PUEDAN ASIGNARSE A CELULAS DE MEMORIA DEFECTUOSAS, RAPIDAMENTE Y DE MANERA EFICIENTE EN CUANTO AL CONSUMO DE ENERGIA.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: WITTELSBACHERPLATZ 2,80333 MUNCHEN.
Inventor/es: ZETTLER, THOMAS.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 30 de Enero de 1998.
Fecha Concesión Europea: 4 de Julio de 2001.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G06F11/20 FISICA. › G06 CALCULO; CONTEO. › G06F PROCESAMIENTO ELECTRICO DE DATOS DIGITALES (sistemas de computadores basados en modelos de cálculo específicos G06N). › G06F 11/00 Detección de errores; Corrección de errores; Monitorización (detección, corrección o monitorización de errores en el almacenamiento de información basado en el movimiento relativo entre el soporte de registro y el transductor G11B 20/18; monitorización, es decir, supervisión del progreso del registro o reproducción G11B 27/36; en memorias estáticas G11C 29/00). › utilizando un enmascaramiento activo del defecto, p. ej. desconectando los elementos debilitados o insertando los elementos de recambio.
Países PCT: Austria, Suiza, Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Liechtensein, Oficina Europea de Patentes.
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