PROCEDIMIENTO PARA LA COMPENSACION DEL EFECTO DE TEMPERATURA EN LOS SISTEMAS DE MEDIDA.

LA INVENCION SE REFIERE A UN METODO PARA COMPENSAR LA TEMPERATURA EN SISTEMAS DE MEDICION QUE DEPENDEN DE LA TEMPERATURA OPERATIVA Y CUYA DEPENDENCIA DE ESTA TEMPERATURA ESTA CAUSADA POR COMPONENTES SENSIBLES A LA TEMPERATURA,

SISTEMAS DE MEDICION QUE PUEDEN SER ACCIONADOS ELECTRONICAMENTE O SISTEMAS DE MEDICION QUE ESTAN UNIDOS TERMICAMENTE A UN COMPONENTE CONTROLABLE ELECTRONICAMENTE YA UTILIZADO EN EL SISTEMA DE MEDICION. EN EL METODO DE LA INVENCION EL COMPONENTE SENSIBLE A LA TEMPERATURA O UN MODULO CONTIGUO SE OPERA DE TAL FORMA QUE SE PRODUZCA UNA COMPENSACION DE LA TEMPERATURA SIN NECESIDAD DE UTILIZAR OTROS MEDIOS AUXILIARES COMO, P. EJ., UN DISPOSITIVO CALEFACTOR ADICIONAL. ESTA COMPENSACION DE TEMPERATURA PUEDE REALIZARSE DE TRES FORMAS DIFERENTES: EN EL PRIMER METODO SE CALCULA EL COEFICIENTE DE TEMPERATURA, EN EL SEGUNDO METODO SE CALIENTAN LOS COMPONENTES SENSIBLES A LA TEMPERATURA DEL SISTEMA HASTA ALCANZAR LA TEMPERATURA OPERATIVA ESTABLECIDA QUE SIRVE DE BASE PARA TODAS LAS MEDICIONES Y EN EL TERCER METODO SE CALCULA UN PUNTO OPERATIVO INDEPENDIENTE DE LA TEMPERATURA.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: TEMIC TELEFUNKEN MICROELECTRONIC GMBH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: THERESIENSTRASSE 2,74072 HEILBRONN.

Inventor/es: POPPEL, JOSEF, DR.

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 19 de Septiembre de 2001.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01D3/00 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01D MEDIDAS NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; DISPOSICIONES PARA LA MEDIDA DE DOS O MAS VARIABLES NO CUBIERTAS POR OTRA UNICA SUBCLASE; APARATOS CONTADORES DE TARIFA; DISPOSICIONES PARA TRANSFERENCIA O TRANSDUCTORES NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; MEDIDAS O ENSAYOS NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR.Disposiciones para la medida con provisiones para los fines especiales indicados en los subgrupos de este grupo.
  • G01L1/26 G01 […] › G01L MEDIDA DE FUERZAS, TENSIONES, PARES, TRABAJO, POTENCIA MECANICA, RENDIMIENTO MECANICO O DE LA PRESION DE LOS FLUIDOS (pesado G01G). › G01L 1/00 Medida de fuerzas o tensiones, en general (medida de la fuerza producida por un choque G01L 5/00). › Medidas auxiliares tomadas, dispositivos utilizados en relación con la medida de fuerzas, p. ej. para impedir la influencia de las componentes transversales de la fuerza, para impedir la sobrecarga.
  • G01L9/04 G01L […] › G01L 9/00 Medida de la presión permanente, o cuasi-permanente de un fluido o de un material sólido fluyente por elementos eléctricos o magnéticos sensibles a la presión; Transmisión o indicación por medios eléctricos o magnéticos del desplazamiento de los elementos mecánicos sensibles a la presión, utilizados para medir la presión permanente o cuasi-permanente de un fluido o de un material sólido fluyente (medida de las diferencias entre dos o más valores de la presión G01L 13/00; medida simultánea de dos o más valores de la presión G01L 15/00). › de calibres de incitación de resistencia.
  • H01L29/84 SECCION H — ELECTRICIDAD.H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (utilización de dispositivos semiconductores para medida G01; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos análogos H04R; fuentes de luz eléctrica en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación). › H01L 29/00 Dispositivos semiconductores adaptados a la rectificación, amplificación, generación de oscilaciones o a la conmutación que tienen al menos una barrera de potencial o de superficie; Condensadores o resistencias, que tienen al menos una barrera de potencial o de superficie, p. ej. unión PN, región de empobrecimiento, o región de concentración de portadores de carga; Detalles de cuerpos semiconductores o de sus electrodos (H01L 31/00 - H01L 47/00, H01L 51/05 tienen prioridad; otros detalles de los cuerpos semiconductores o de sus electrodos H01L 23/00; consistentes en una pluralidad de componentes de estado sólido formados en o sobre un sustrato común H01L 27/00). › controlables por la variación de una fuerza mecánica aplicada, p. ej. una presión (H01L 29/96 tiene prioridad).
  • H03M1/00 H […] › H03 CIRCUITOS ELECTRONICOS BASICOS.H03M CODIFICACION, DECODIFICACION O CONVERSION DE CODIGO, EN GENERAL (por medio de fluidos F15C 4/00; convertidores ópticos analógico/digitales G02F 7/00; codificación, decodificación o conversión de código especialmente adaptada a aplicaciones particulares, ver las subclases apropiadas, p. ej. G01D, G01R, G06F, G06T, G09G, G10L, G11B, G11C, H04B, H04L, H04M, H04N; cifrado o descifrado para la criptografía o para otros fines que implican la necesidad de secreto G09C). › Conversión analógica/digital; Conversión digital/analógica (conversión de valores analógicos en, o a partir de una modulación diferencial H03M 3/00).
PROCEDIMIENTO PARA LA COMPENSACION DEL EFECTO DE TEMPERATURA EN LOS SISTEMAS DE MEDIDA.

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