METODO DE PROCESADO SUSTITUTIVO.

EN ESTA INVENCION, EN UN DISCO OPTICO (1) SOBRE EL CUAL TIENEN QUE GRABARSE LOS DATOS EN UNIDADES DE UN BLOQUE ECC CONSTRUIDO POR 16 SECTORES,

SE GRABAN DATOS SIMULADOS EN EL MOMENTO DE LA MANUFACTURACION O EN EL MOMENTO INICIAL TAL COMO EL MOMENTO DE INICIO DE LA APLICACION, ENTONCES LOS DATOS SIMULADOS SON REPRODUCIDOS PARA DETERMINAR UN SECTOR CON UN DEFECTO PRIMARIO, LA DIRECCION DEL SECTOR QUE SE HA DETERMINADO QUE TIENE EL DEFECTO PRIMARIO, SE GRABA SOBRE EL DISCO OPTICO (1), Y EN EL MOMENTO DE LA GRABACION DE DATOS, LA GRABACION DE LOS DATOS SE EFECTUA EN UNIDADES DE UN BLOQUE ECC MIENTRAS SE SALTA POR ENCIMA DEL SECTOR CON EL DEFECTO PRIMARIO. ADEMAS, EN EL DISCO OPTICO (1) SOBRE EL CUAL SE VAN A GRABAR LOS DATOS EN UNIDADES DE UN BLOQUE ECC, LOS DATOS SE GRABAN EN EL MOMENTO DE LA GRABACION DE DATOS DIFERENTE AL MOMENTO INICIAL, ENTONCES LOS DATOS SON REPRODUCIDOS PARA DETERMINAR UN BLOQUE ECC QUE TIENE UN SECTOR CON UN DEFECTO SECUNDARIO, Y LOS DATOS DEL BLOQUE ECC QUE SE HA DETERMINADO QUE TIENE EL SECTOR CON EL DEFECTO SECUNDARIO SE GRABAN EN UN BLOQUE ECC QUE SE PREPARA SEPARADAMENTE. ADEMAS, EL DISCO OPTICO (1) SOBE EL CUAL SE VAN A GRABAR LOS DATOS EN UNIDADES DE UN BLOQUE ECC CONSTITUIDO POR 16 SECTORES, LOS DATOS SIMULADOS SE GRABAN EN EL MOMENTO DE LA MANUFACTURACION O EN EL MOMENTO INICIAL TAL COMO EN EL MOMENTO DE INICIO DE LA APLICACION, ENTONCES LOS DATOS SIMULADOS SON REPRODUCIDOS PARA DETERMINAR UN SECTOR CON UN DEFECTO PRIMARIO, LA DIRECCION DEL SECTOR QUE SE DETERMINA QUE TIENE EL DEFECTO PRIMARIO SE GRABA SOBRE EL DISCO OPTICO (1), LA GRABACION DE LOS DATOS SE EFECTUA EN UNIDADES DE UN BLOQUE ECC MIENTRAS SE SALTA POR ENCIMA DEL SECTOR CON EL DEFECTO PRIMARIO EN EL MOMENTO DE LA GRABACION DE DATOS, LOS DATOS SE GRABAN EN EL MOMENTO DE GRABACION DE LOS DATOS DIFERENTE AL MOMENTO INICIAL, LOS DATOS SE REPRODUCEN PARA DETERMINAR UN GRUPO ECC QUE TIENE UN SECTOR CON UN DEFECTO SECUNDARIO, Y LOS DATOS DEL BLOQUE ECC QUE SE DETERMINA QUE TIENE EL SECTOR CON EL DEFECTO SECUNDARIO SE GRABAN EN UN BLOQUE ECC QUE SE PREPARA SEPARADAMENTE.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA.

Nacionalidad solicitante: Japón.

Dirección: 72, HORIKAWA-CHO, SAIWAI-KU,KAWASAKI-SHI.

Inventor/es: YAMAMURO, MIKIO.

Fecha de Publicación: 16 de Noviembre de 2000.

Fecha Concesión Europea: 28 de Junio de 2000.

Clasificación Internacional de Patentes:

G11B20/18 FISICA. › G11 REGISTRO DE LA INFORMACION. › G11B REGISTRO DE LA INFORMACION BASADO EN UN MOVIMIENTO RELATIVO ENTRE EL SOPORTE DE REGISTRO Y EL TRANSDUCTOR (registro de valores medidos según un procedimiento que no necesita el uso de un transductor para la reproducción G01D 9/00; aparatos de registro o de reproducción que utilizan una banda marcada por un procedimiento mecánico, p. ej. una banda de papel perforada, o que utilizan soportes de registro individuales, p. ej. fichas perforadas o fichas magnéticas G06K; transferencia de datos de un tipo de soporte de registro a otro G06K 1/18; circuitos para el acoplamiento de la salida de un dispositivo de reproducción a un receptor radio H04B 1/20; cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos o sus circuitos H04R). › G11B 20/00 Tratamiento de la señal, no específica del procedimiento de registro o reproducción; Circuitos correspondientes. › Detección o corrección de errores; Ensayos.

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