DISPOSITIVOS, SISTEMAS Y PROCEDIMIENTOS DE FORMACION DE IMAGENES.
UN DISPOSITIVO DE IMAGEN CONSTA DE UNA CAPA SEMICONDUCTORA(16) QUE INCLUYE UN ARRAY DE CELDAS DE PIXELS.
CADA CELDA CONTIENE UN CIRCUITO DE PIXEL(18) DIRECCIONABLE INDIVIDUALMENTE PARA ACUMULAR CARGA RESULTANDO UNA RADIACION INCIDENTE EN UN DETECTOR DE PIXEL. EL CIRCUITO DE PIXEL Y EL DETECTOR SE PUEDEN IMPLEMENTAR EN UN SUSTRATO SENCILLO O EN DOS SUSTRATOS CONECTADOS. EL DISPOSITIVO DE ALMACENAJE DE LA CARGA PUEDE SER UN TRANSISTOR, POR EJEMPLO UNO DE UN PAR DE FETS CONECTADOS COMO FASE DE AMPLIFICACION EN CASCADA. UN PLANO DE IMAGEN PUEDE ESTAR FORMADO DE UN DISPOSITIVO DE IMAGEN O MULTITUD DE ELLOS COLOCADOS EN FORMA DE MOSAICO. LOS DISPOSITIVOS SE PUEDEN CONFIGURAR COMO UNA RANURA PARA CIERTAS APLICACIONES, SIENDO LA RANURA ESCANEADA SOBRE EL PLANO DE LA IMAGEN. LA ELECTRONICA DE CONTROL(24) PUEDE INCLUIR LOGICA DE DIRECCIONAMIENTO PARA DIRECCIONAR CIRCUITOS DE PIXEL INDIVIDUALES PARA LEER CARGA ACUMULADA DESDE EL CIRCUITO DE PIXEL. LA OPTIMIZACION DE LA IMAGEN SE PUEDE LOGRAR DETERMINANDO LOS VALORES DE CARGA MAXIMA Y MINIMA POR PIXEL PARA CADA DISPLAY, ASIGNANDO LA ESCALA GRIS O VALORES DE COLORES A LOS VALORES DE CARGA MAXIMO Y AL MINIMO Y SEÑALANDO LA ESCALA GRIS O VALORES DE COLORES A UN PIXEL INDIVIDUAL DE ACUAERDO CON UNA ESCALA GRADUAL ENTRE LOS VALORES EXTREMOS. LA REDIACION POR DISPERSION SE PUEDE DETECTAR Y DESCARTAR COMPARANDO EL VALOR DEL PIXEL DETECTADO CON UN UMBRAL RELACIONADO CON UN VALOR DE CARGA DETECTADA MINIMA ESPERADA, PARA RADIACION INCIDENTE DIRECTA, Y DESCARTANDO VALORES DE PIXEL DETECTADOS MENORES QUE DICHO UMBRAL.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: SIMAGE OY.
Nacionalidad solicitante: Finlandia.
Dirección: TEKNIIKANTIE 12,02150 ESPOO.
Inventor/es: SCHULMAN, TOM, GUNNAR, PYYHTIA, JOUNI, ILARI, SPARTIOTIS, KONSTANTINOS, EVANGELOS, ORAVA, RISTO, OLAVI, SARAKINOS, MILTIADIS, EVANGELOS.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 29 de Mayo de 1995.
Fecha Concesión Europea: 14 de Octubre de 1998.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01T1/29 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01T MEDIDA DE RADIACIONES NUCLEARES O DE RAYOS X (análisis de materiales por radiaciones, espectrometría de masas G01N 23/00; tubos para determinar la presencia, intensidad, densidad o energía de una radiación o de partículas H01J 47/00). › G01T 1/00 Medida de los rayos X, rayos gamma, radiaciones corpusculares o de las radiaciones cósmicas (G01T 3/00, G01T 5/00 tienen prioridad). › Medida efectuada sobre haces de radiaciones, p. ej. sobre la posición o la sección del haz; Medida de la distribución espacial de radiaciones.
- H04N3/15
- H04N5/32 ELECTRICIDAD. › H04 TECNICA DE LAS COMUNICACIONES ELECTRICAS. › H04N TRANSMISION DE IMAGENES, p. ej. TELEVISION. › H04N 5/00 Detalles de los sistemas de televisión (Detalles de los dispositivos de análisis o sus combinaciones con la producción de la tensión de alimentación H04N 3/00). › Transformación de rayos X.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Mónaco, Irlanda, Oficina Europea de Patentes, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Africana de la Propiedad Intelectual.
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