PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA LA DETERMINACION DE LA INFORMACION SOBRE FASES Y/O AMPLITUDES DE UNA ONDA ELECTROMAGNETICA.

Procedimiento para la determinación de información sobre fases y/o amplitudes de una onda electromagnética,

en el que se irradia una onda electromagnética sobre la superficie de un elemento fotónico mixto, que presenta al menos un pixel, presentando el pixel al menos dos fotopuertas Gam y Gbm de modulación sensibles a la luz y puertas Ga y Gb de acumulación asociadas; en el que, en las fotopuertas Gam y Gbm de modulación, se aplican tensiones Uam (t) y Ubm(t) de las fotopuertas de modulación, que están configuradas como Uam(t)=Uo+Um(t) y Ubm=Uo-Um(t); en el que se aplica una tensión continua a las puertas Ga y Gb de acumulación, cuyo valor es al menos tan grande como el valor de la suma de Uo y la amplitud de la tensión Um(t) de modulación; en el que los portadores de carga generados por la onda electromagnética incidente en la zona de cargas espaciales de las fotopuertas Gam y Gbm de modulación se exponen, en función de la polaridad de las tensiones Uam(t) y Ubm(t) de las fotopuertas de modulación, a la caída de potencial de un campo de deriva y son derivados a la correspondiente puerta Ga y Gb de acumulación; y en el que las cargas qa y qb derivadas son desviadas en cada caso a las puertas Ga y Gb de acumulación.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: SCHWARTE, RUDOLF.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: KREUZTALER STRASSE 56,57250 NETPHEN.

Inventor/es: SCHWARTE, RUDOLF.

Fecha de Publicación: 16 de Mayo de 2004.

Fecha Solicitud PCT: 5 de Septiembre de 1997.

Fecha Concesión Europea: 19 de Noviembre de 2003.

Clasificación Internacional de Patentes:

G01B11/24 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de contornos o curvaturas.
G01J9/00 G01 […] › G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES. › Medida del desfase de rayos luminosos; Investigación del grado de coherencia; Medida óptica de la longitud de onda (espectrometría G01J 3/00).
H01L27/148 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (utilización de dispositivos semiconductores para medida G01; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos análogos H04R; fuentes de luz eléctricas en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación). › H01L 27/00 Dispositivos que consisten en una pluralidad de componentes semiconductores o de otros componentes de estado sólido formados en o sobre un sustrato común (detalles H01L 23/00, H01L 29/00 - H01L 51/00; conjuntos que consisten en una pluralidad de dispositivos de estado sólido individuales H01L 25/00). › Captadores de imágenes por acoplamiento de carga.
H04N3/15

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Finlandia, Oficina Europea de Patentes, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.

Patentes similares o relacionadas:

Método para generar una imagen en forma electrónica, elemento de imagen para un sensor de imagen para generar una imagen, así como sensor de imagen, del 4 de Enero de 2017, de AIT AUSTRIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY GMBH: Método para generar una imagen de una escena en forma electrónica a través de elementos de imagen, caracterizado porque una medición de exposición […]

CIRCUITO DE EXCITACION CON PROTECCION DE SOBRETENSION PARA CELULAS DE PIXELS., del 1 de Diciembre de 2004, de AGILENT TECHNOLOGIES, INC.: Un aparato de circuito integrado que comprende: un circuito de sobretensión que es capaz de funcionar en un nivel dado (VDD) de tensión de alimentación y […]

CAPTADOR DE IMAGENES EN ESTADO SOLIDO., del 16 de Noviembre de 2004, de CANON KABUSHIKI KAISHA: PARA REALIZAR UN SENSOR MULTIFUNCION EN EL CUAL EN UNA PARTE DE PIXEL UNA ADICION Y UNA NO ADICION, PUEDEN SER ARBITRARIAMENTE EJECUTADAS, HAY SUMINISTRADO UN APARATO […]

DISPOSITIVO SENSOR DE IMAGENES DE ESTADO SOLIDO CON LINEA DE SALIDA COMUN., del 16 de Julio de 2004, de CANON KABUSHIKI KAISHA: UN DISPOSITIVO DE ESTADO SOLIDO SENSOR DE IMAGEN TIENE UN AMPLIFICADOR-INVERSOR CONSTRUIDO CON TRANSISTORES MOS , EL CUAL ESTA PROVISTO DE POTENCIA ELECTRICA […]

CIRCUITO PARA PROCESAR UNA SEÑAL ANALOGICA DE TIEMPOS DISCRETOS Y UN SENSOR DE IMAGEN., del 16 de Diciembre de 2003, de FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FIRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V.: Circuito para procesar una señal analógica que presenta una secuencia temporal de niveles de señal discretos, en el que cada nivel de señal discreto […]

DISPOSITIVO DE CONVERSION FOTOELECTRICA QUE UTILIZA EL BARRIDO SUPERFICIAL DE CARGAS., del 16 de Noviembre de 2003, de CANON KABUSHIKI KAISHA: LA INVENCION SUMINISTRA UN ELEMENTO QUE TIENE UNA FUNCION DE TRANSFERENCIA DE CARGA NIVELADORA EN UN DISPOSITIVO DE CONVERSION FOTOELECTRICO DEL TIPO DE DIRECCION […]

SENSOR DE IMAGENES EN COLOR PARA EXPOSICION DE CORTA DURACION, del 1 de Abril de 2003, de BOHM, MARKUS: LA INVENCION SE REFIERE A UN SENSOR OPTICO QUE CONSTA DE UNA DISPOSICION DE UNIDADES DE PUNTOS DE IMAGEN, CADA UNA DE LAS CUALES COMPRENDE UN CONVERTIDOR OPTOELECTRONICO PARA […]

APARATO DE FORMACIÓN DE IMÁGENES Y MÉTODO DE FORMACIÓN DE IMÁGENES, del 28 de Abril de 2011, de SONY CORPORATION: Un aparato de formación de imágenes que se sirve de un sensor de imagen de estado sólido que obtiene por lectura una seña de cada píxel por medio de un método […]