PROCEDIMIENTOS PARA EL ANALISIS DE DATOS DE PROCESOS DE UNA INSTALACION TECNICA.
EN EL PROCEDIMIENTO PROPUESTO PARA ANALISIS DE DATOS DE PROCESO EN UNA INSTALACION TECNICA,
EN PARTICULAR UNA PLANTA DE GENERACION DE ENERGIA CON CONTROL AUTOMATICO DE LAS DIFERENTES PARTES (A{SUB,I}) DE PLANTA, LOS RASGOS (M{SUB,I}) CARACTERISTICOS DEL PROCESO DE PLANTA SON PRIMERO DETERMINADOS Y SE PREPARAN LOS PARAMETROS (P{SUB,I}) RELEVANTES DEL PROCESO DE PLANTA, A FIN DE ASEGURAR LA COMPRESION DE LOS DATOS Y FILTRADO, ASI COMO UN DIAGNOSIS DE FALLO PREMATURA. PARA ELLO, PARA CADA PARTE (A{SUB,I}) DE LA PLANTA, SE CONFIRMA LA PRESENCIA DE CADA RASGO (M{SUB,I}) CARACTERISTICO UTILIZANDO EL PARAMETRO (P{SUB,I}); LOS RASGOS (M{SUB,I}) COMUNES A LAS DIFERENTES PARTES (A{SUB,I}) DE PLANTA Y DIFERENTES RASGOS (M{SUB,I}) CARACTERISTICOS DENTRO DE LAS PARTES (A{SUB,I}) DE PLANTA SON UTILIZADOS PARA ELABORAR CORRELACIONES PARA COMBINACIONES DE PARTES (A{SUB,I}) DE PLANTA Y RASGOS (M{SUB,I}) CARACTERISTICOS. LAS PARTES (A{SUB,I}) DE PLANTA Y/O LOS RASGOS (M{SUB,I}) SON ENTONCES INDICADOS COMO ELEMENTOS (I{SUB,I}({SUB,AI}), I{SUB,I}({SUB,MI})) DE DATOS Y POSICIONADOS DE TAL FORMA QUE LA DISTANCIA (L, W) ENTRE CUALQUIERA DE DOS ELEMENTOS (I{SUB,I}({SUB,AI}), I{SUB,I}, ({SUB,MI})) DE DATOS REPRESENTA EL GRADO DE CORRELACION ENTRE ELLOS.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: WITTELSBACHERPLATZ 2,80333 MUNCHEN.
Inventor/es: MEDERER, HANS-GERD, FUHRING, THORSTEN, PANYR, JIRI, JACOBY, KONSTANTIN, MICHELIS, RAINER.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 23 de Octubre de 1995.
Fecha Concesión Europea: 26 de Agosto de 1998.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G05B23/02 FISICA. › G05 CONTROL; REGULACION. › G05B SISTEMAS DE CONTROL O DE REGULACION EN GENERAL; ELEMENTOS FUNCIONALES DE TALES SISTEMAS; DISPOSITIVOS DE MONITORIZACION O ENSAYOS DE TALES SISTEMAS O ELEMENTOS (dispositivos de maniobra por presión de fluido o sistemas que funcionan por medio de fluidos en general F15B; dispositivos obturadores en sí F16K; caracterizados por particularidades mecánicas solamente G05G; elementos sensibles, ver las subclases apropiadas, p. ej. G12B, las subclases de G01, H01; elementos de corrección, ver las subclases apropiadas, p. ej. H02K). › G05B 23/00 Ensayo o monitorización de sistemas de control o de sus elementos (monitorización de sistemas de control por programa G05B 19/048, G05B 19/406). › Ensayo o monitorización eléctrico.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Liechtensein, Países Bajos, Suecia, Oficina Europea de Patentes.
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