DISPOSICION DE CIRCUITO PARA VERIFICAR DATOS ALMACENADOS EN UNA MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO.
LA DISPOSICION DE CIRCUITO COMPRENDE, PARA CADA UBICACION DE BIT EN UNA COLUMNA DEL RAM,
UN REGISTRO DE CORRIMIENTO DE ENTRADA, UN MULTIPLEXADOR Y UN COMPARADOR. LOS BITS DE DATOS DE ENTRADA SE ALMACENAN EN EL REGISTRO DE CORRIMIENTO, Y SE DISPONE EL MULTIPLEXADOR DURANTE UN CICLO DE ESCRITURA, PARA QUE ESCRIBA LOS BITS DE DATOS EN LA POSICION DE BITS. DURANTE UN CICLO DE VERIFICACION, SE DISPONE EL MULTIPLEXADOR PARA QUE ESCRIBA LOS BITS DE DATOS INVERSOS EN LA MISMA POSICION, Y EL COMPARADOR COMPARA LA POSICION DEL BIT DE SALIDA DEL RAM CON EL BIT DEL DATO INVERSO. EL RESULTADO SE ALMACENA EN EL REGISTRO DE CORRIMIENTO, QUE SE PUEDE DESCARGAR PARA SU ANALISIS.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: PLESSEY SEMICONDUCTORS LIMITED.
Nacionalidad solicitante: Reino Unido.
Dirección: CHENEY MANOR,SWINDON, WILTSHIRE SN2 2QW.
Inventor/es: CLIFF, RICHARD GUY, HASTIE, NEIL STUART.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 19 de Junio de 1996.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G06F11/00 FISICA. › G06 CALCULO; CONTEO. › G06F PROCESAMIENTO ELECTRICO DE DATOS DIGITALES (sistemas de computadores basados en modelos de cálculo específicos G06N). › Detección de errores; Corrección de errores; Monitorización (detección, corrección o monitorización de errores en el almacenamiento de información basado en el movimiento relativo entre el soporte de registro y el transductor G11B 20/18; monitorización, es decir, supervisión del progreso del registro o reproducción G11B 27/36; en memorias estáticas G11C 29/00).
- G11C29/00 G […] › G11 REGISTRO DE LA INFORMACION. › G11C MEMORIAS ESTATICAS (dispositivos semiconductores para memorias H01L, p. ej. H01L 27/108 - H01L 27/11597). › Verificación del funcionamiento correcto de memorias; Ensayo de memorias durante su funcionamiento fuera de línea (offline")o en espera ("standby").
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