PROCEDIMIENTO PARA FORMACION DE LA INFORMACION DE IMAGEN EN UN CONTROL DE SUPERFICIE OPTICO MEDIANTE UN SISTEMA EXPLORADOR ELECTRONICO.
EL INVENTO CONSISTE EN UN PROCEDIMIENTO PARA VALORACION DE LA INFORMACION DE IMAGEN EN UN CONTROL DE SUPERFICIE OPTICO MEDIANTE UNA SISTEMA DE EXPLORACION ELECTRONICO QUE POSIBILITA UNA ELIMINACION DE LAS INFORMACIONES SUBTERRANEAS PERJUDICIALES DE LA SUPERFICIE A OBSERVAR EN EL LUGAR DEFECTUOSO.
PARA GARANTIZAR UNA MEJOR CAPACIDAD DE RECONOCIMIENTO DEL LUGAR DEFECTUOSO SE IMPELEN LAS INFORMACIONES DE PUNTO DE IMAGEN DE LA IMENGEN DE LA FUENTE (QB) A MODO DE LINEAS Y/O RANURAS POR UN FILTRO (F) UNIDIMENSIONAL EN UNA CADENCIA DADA, PARA FORMACION DE UNA IMAGEN DE LINEAS RESULTANTE (ZB) Y UN PRIMER VALOR DE FILTRO (EFWALT) DEL FILTRO UNIDIMENSIONAL (F) SE CORRIGE CON DEPENDENCIA DE OTRO VALOR DE FILTRO (LFW) EN CADA CADENCIA PARA UN NUEVO PRIMER VALOR DE FILTRO (EFWNEU). EL INVENTO ES UTILIZABLE EN PROCEDIMIENTOS OPTICOS PARA CONTROL DE SUPERFICIES, POR EJEMPLO DE PIEZAS DE CHAPA EN LA CONSTRUCCION DE AUTOMOVILES.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: WITTELSBACHERPLATZ 2, W-8000 MUNCHEN 2.
Inventor/es: MAAG, WOLFGANG.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 12 de Agosto de 1992.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G06F15/68
- G06F15/70
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