PROCEDIMIENTO PARA LA ESTIMACIÓN DE CARACTERÍSTICAS ELÉCTRICAS DE UN CIRCUITO ANALÓGICO MEDIANTE LA MEDICIÓN EN CONTINUA DE TEMPERATURA.

La presente invención describe un procedimiento para la estimación de características eléctricas de circuitos analógicos integrados en un cristal semiconductor mediante la medición en continua de la temperatura.

La Fig. 1 muestra un cristal semiconductor (1) que puede contener diferentes circuitos analógicos (2). Por ejemplo, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación del presente procedimiento, la figura muestra un amplificador. Este amplificador dispone de entradas de señal (4) y entradas de la tensión de alimentación (3). La polarización del circuito en continua aplicando una tensión a las entradas de alimentación (3), sin aplicar señal a las entradas (4), provoca que los dispositivos que forman el amplificador disipen potencia. Mediciones del incremento de temperatura provocada por esta disipación de potencia en puntos seleccionados del semiconductor (5) permiten obtener características del circuito analógico, tales como, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación del presente procedimiento, ganancia de amplificadores. La medida de la temperatura se realiza en continua y puede hacerse bien mediante sensores de temperatura integrados en el mismo cristal semiconductor, bien mediante sensores externos.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2012/070882.

Solicitante: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA.

Nacionalidad solicitante: España.

Inventor/es: ALTET SANAHUJES,JOSEP, MATEO PEÑA,DIEGO, GÓMEZ SALINAS,Didac.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R31/316 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayos de circuitos analógicos.
PROCEDIMIENTO PARA LA ESTIMACIÓN DE CARACTERÍSTICAS ELÉCTRICAS DE UN CIRCUITO ANALÓGICO MEDIANTE LA MEDICIÓN EN CONTINUA DE TEMPERATURA.

Patentes similares o relacionadas:

Imagen de 'PROCEDIMIENTO PARA LA ESTIMACIÓN DE CARACTERÍSTICAS ELÉCTRICAS…'PROCEDIMIENTO PARA LA ESTIMACIÓN DE CARACTERÍSTICAS ELÉCTRICAS DE UN CIRCUITO ANALÓGICO MEDIANTE LA MEDICIÓN EN CONTINUA DE TEMPERATURA, del 26 de Julio de 2013, de UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA: Procedimiento para la estimación de características eléctricas de un circuito analógico mediante la medición en continua de temperatura. La presente invención […]

METODO DE UTILIZACION PERMANENTE DE UN MATERIAL SEGUN UN EJE Z., del 1 de Junio de 2004, de W.L. GORE & ASSOCIATES, INC.: LA PRESENTE INVENCION ESTA RELACIONADA CON UN SISTEMA Y UN METODO PARA REALIZAR EL EXAMEN DE FIABILIDAD DE LOS DISCOS DE SEMICONDUCTORES, Y […]

MANIPULADOR DE PRUEBAS DE IC., del , de SINANO ELECTRONICS CO., LTD.: ESTA INVENCION SE RELACIONA CON UN MANIPULADOR DE PRUEBA DE IC CON UNA CAMARA DE TEMPERATURA CONSTANTE QUE COMPRENDE SEIS PORTADORES DE IC PLANETARIOS , UN MECANISMO […]

METODO DE PRUEBA DE CIRCUITO., del 16 de Octubre de 1997, de SCHLUMBERGER TECHNOLOGIES LIMITED: LA INVENCION ACTUAL SE REFIERE AL METODO PARA PROBAR CIRCUITOS DIGITALES O ANALOGICOS. SI SE DETECTA UN FALLO DESPUES DE QUE SE HAYA APLICADO UN ESTIMULO, […]

Imagen de 'PROCEDIMIENTO PARA LA SUPERVISION DE ELEMENTOS DE SEMICONDUCTOR…'PROCEDIMIENTO PARA LA SUPERVISION DE ELEMENTOS DE SEMICONDUCTOR DE POTENCIA, del 10 de Noviembre de 2009, de SEMIKRON ELEKTRONIK GMBH PATENTABTEILUNG: Un procedimiento para la supervisión de una disposición de circuito que consiste en lo menos dos superficies de contacto eléctricamente separadas […]

Utilizamos cookies para mejorar nuestros servicios y mostrarle publicidad relevante. Si continua navegando, consideramos que acepta su uso. Puede obtener más información aquí. .