PROCEDIMIENTO DE INDIVIDUALIZACION DE UN ELEMENTO DE CIRCUITO INTEGRADO.

Procedimiento de individualización de un elemento de circuito integrado,

caracterizado porque comporta las etapas consistentes en: a) determinar a partir de un modelo del circuito, un conjunto de vectores (1) que corresponde cada uno a un momento de funcionamiento teórico del circuito con ocasión de la aplicación de una secuencia de pruebas predeterminada, siendo los coeficientes de cada vector representativo del estado de un mismo conjunto de elementos del circuito entre los cuales figura el elemento a individualizar; b) definir a partir de una comparación de los vectores, una composición de operadores lógicos (2) aplicados sobre dichos vectores y que permitan extraer el coeficiente que corresponde a dichos elementos a individualizar; c) realizar unas imágenes del circuito (32) en funcionamiento en los momentos correspondientes a los vectores en los cuales se aplica dicha composición de operadores lógicos; y d) combinar gráficamente (36) las imágenes realizadas según una composición de operadores gráficos que correspondan a dicha composición de operadores lógicos.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: CENTRE NATIONAL D'ETUDES SPATIALES.

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: 2, PLACE MAURICE-QUENTIN,75001 PARIS.

Inventor/es: DESPLATS, ROMAIN, PERDU, PHILIPPE.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 26 de Junio de 2001.

Fecha Concesión Europea: 18 de Agosto de 2004.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R31/311 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › de circuitos integrados.

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.

PROCEDIMIENTO DE INDIVIDUALIZACION DE UN ELEMENTO DE CIRCUITO INTEGRADO.

Patentes similares o relacionadas:

Procedimiento de caracterización de la sensibilidad a las interacciones energéticas de un componente electrónico, del 13 de Septiembre de 2012, de EUROPEAN AERONAUTIC DEFENCE AND SPACE COMPANY EADS FRANCE: Procedimiento de caracterización de la sensibilidad a las interacciones energéticas en un componenteelectrónico , en el cual, - se pone en servicio el componente […]

Imagen de 'FUENTE DE LUZ EXTENDIDA Y MODULABLE ELECTRICAMENTE Y DISPOSITIVO…'FUENTE DE LUZ EXTENDIDA Y MODULABLE ELECTRICAMENTE Y DISPOSITIVO DE MEDICION PARA CARACTERIZAR UN SEMICONDUCTOR QUE COMPRENDE UNA FUENTE DE DICHAS CARACTERISTICAS, del 10 de Diciembre de 2010, de UNIVERSITE PAUL CEZANNE AIX-MARSEILLE III: Fuente de luz destinada a inyectar unos portadores en exceso en una oblea semiconductora iluminando una superficie de dicha oblea semiconductora […]

METODO Y APARATO DE MEDIDA DE LA RESISTENCIA DE CAPA SIN CONTACTO., del 16 de Octubre de 1999, de INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION: SE PRESENTA UN APARATO Y UN METODO DE MEDIDA DE LA RESISTENCIA DE UNA LAMINA, SIN CONTACTO PARA MEDIR LA RESISTENCIA DE UNA LAMINA DE UNA […]

Utilizamos cookies para mejorar nuestros servicios y mostrarle publicidad relevante. Si continua navegando, consideramos que acepta su uso. Puede obtener más información aquí. .