APARATOS Y PROCEDIMIENTO PARA DETERMINAR LA POSICION DE OBJETOS MARCADOS Y PARA LA INSPECCION POSTERIOR DE DICHOS OBJETOS.

Un aparato destinado a detectar una propiedad de objetos marcados contenidos en una muestra de ensayo

(14), comprendiendo el aparato un bastidor, un elemento (17) situado sobre el bastidor y que tiene una superficie que está adaptada para recibir y retener la muestra de ensayo (14), una fuente de luz destinada a la emisión de un haz luminoso (12) hacia la muestra de ensayo (14) retenida por el elemento (17), un detector (1) destinado a la detección de luz emitida desde objetos marcados al interaccionar con el haz luminoso (12), estando dispuestos dicha fuente de luz y dicho detector (1) de modo que una parte de una trayectoria de haz luminoso (12) desde la fuente de luz hasta la muestra de ensayo (14) sea coaxial con una parte de la luz emitida desde los objetos marcados hacia el detector, medios de barrido (18) destinados a explorar por barrido la muestra de ensayo (14) en relación con el detector (1) a lo largo de una curva no lineal, medios de control de barrido destinados a controlar los medios de barrido (18) para explorar por barrido la muestra de ensayo (14) a lo largo de una curva predeterminada, caracterizado porque el aparato comprende medios de almacenamiento destinados al almacenamiento de señales referentes a los objetos detectados proporcionadas por el detector (1) y señales de posición correspondientes proporcionadas por los medios de control de barrido, medios destinados a recuperar señales de posición almacenadas en los medios de almacenamiento, y un microscopio destinado a la inspección óptica de objetos detectados, porque el medio de barrido (18) comprende medios para poner en rotación del elemento (17) y medios para desplazar el elemento (17) a lo largo de un radio de la rotación del elemento (17), de manera que se detecte la propiedad de objetos marcados en toda la muestra de ensayo (14), y porque los medios de control de barrido están adaptados para colocar el microscopio en la posición de cualquier objeto detectado.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: 2C A/S.

Nacionalidad solicitante: Dinamarca.

Dirección: RIRMOSEN 306,2990 NIVAA.

Inventor/es: CASPERSEN, CHRISTIAN.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 30 de Septiembre de 1999.

Fecha Concesión Europea: 16 de Noviembre de 2005.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación o análisis de los materiales por... > G01N21/64 (Fluorescencia; Fosforescencia)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > Investigación de características de partículas;... > G01N15/14 (Investigación por medios electroópticos)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION... > G01N35/00 (Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto)

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Sierra Leona, Tayikistán, Turkmenistán, República Unida de Tanzania, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.

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