SISTEMA DE NANO-INDENTACION INSTRUMENTADA.
Sistema de nano-indentación instrumentada, que permite la medida local de los módulos elásticos de Young y de cortadura y de la resistencia plástica a la cortadura,
además de la dureza convencional, mediante una combinación de indentación con un penetrador de punta piramidal combinada con torsión, a partir de las medidas de fuerza de penetración, par torsor, profundidad penetrada y ángulo girado.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: CENTRO DE ESTUDIOS E INVESTIGACIONES TECNICAS DE GUIPUZCOA (CEITG).
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: GUIPÚZCOA.
Inventor/es: GIL SEVILLANO,JAVIER, MARTINEZ ESNAOLA,JOSE MANUEL.
Fecha de Solicitud: 28 de Octubre de 2004.
Fecha de Publicación: .
Fecha de Concesión: 16 de Julio de 2008.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N3/42 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 3/00 Investigación de las propiedades mecánicas de los materiales sólidos por aplicación de una incitación mecánica. › efectuando huellas bajo una carga permanente por dispositivos de penetración, p. ej. esfera, pirámide (G01N 3/54 tiene prioridad).
Clasificación PCT:
- G01N3/42 G01N 3/00 […] › efectuando huellas bajo una carga permanente por dispositivos de penetración, p. ej. esfera, pirámide (G01N 3/54 tiene prioridad).
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