SISTEMA Y DISPOSITIVO PARA MONITOREO DE PARÁMETROS.
La presente invención se refiere a un sistema y dispositivo para monitoreo de parámetros,
el cual es utilizado en la metrología para monitorear uno o varios parámetros físicos de manera remota en el tiempo real. De esta forma el usuario puede monitorear una máquina, un proceso o un fenómeno, por medio de mensajes, correos y/o una aplicación en su teléfono móvil o computadora conectada a internet.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/MX2017/000149.
Solicitante: SUTCLIFFE GUIDO, Roberto Luis.
Nacionalidad solicitante: México.
Dirección: Calle Sierra Vertientes 385 801 Lomas de Chapultepec Ciudad De México, 11000 11000, MÉXICO.
Inventor/es: CRUZ GARCÍA,Gerardo Alberto.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01D3/08 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01D MEDIDAS NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; DISPOSICIONES PARA LA MEDIDA DE DOS O MAS VARIABLES NO CUBIERTAS POR OTRA UNICA SUBCLASE; APARATOS CONTADORES DE TARIFA; DISPOSICIONES PARA TRANSFERENCIA O TRANSDUCTORES NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; MEDIDAS O ENSAYOS NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › G01D 3/00 Disposiciones para la medida con provisiones para los fines especiales indicados en los subgrupos de este grupo. › con provisiones para proteger el aparato, p. ej. contra funcionamientos anormales, contra averías.
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