SISTEMA Y MÉTODO DE DETECCIÓN DE DEFECTOS EN SUPERFICIES ESPECULARES O SEMI-ESPECULARES MEDIANTE PROYECCIÓN FOTOGRAMÉTRICA.
La presente invención se refiere a un sistema de detección de defectos en superficies especulares o semi-especulares de objetos a inspeccionar,
apto para su integración en una línea de producción industrial, que comprende: una pluralidad de medios de emisión de luz (1) sobre los objetos; una pluralidad de cámaras (2) para la detección de la luz reflejada por los objetos; un subsistema de control y análisis fotogramétrico de información asociada a la luz emitida por los medios de emisión de luz (1) y a la luz detectada por las cámaras (2); y una estructura de soporte (3), integrada en la línea de producción de los objetos a inspeccionar, en la que se encuentran dispuestos los medios de emisión de luz (1) y las cámaras (2) del sistema. Ventajosamente, los medios de emisión de luz (1) se disponen en el sistema de forma que la luz emitida sobre la superficie de los objetos posee un patrón periódico de luz y sombra, y dicho patrón se emite con un movimiento relativo sobre los objetos a inspeccionar, recorriendo su superficie.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2016/070865.
Solicitante: UNIVERSIDAD DE ZARAGOZA..
Nacionalidad solicitante: España.
Inventor/es: AGUILAR MARTIN,JUAN JOSE, SANTOLARIA MAZO,JORGE, SAMPER CARNICER,David, VELÁZQUEZ SANCHO,Jesús.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/30 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de la rugosidad o la irregularidad de superficies.
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