CIP-2021 : G01N 23/225 : utilizando microsondas electrónicas o iónicas.
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q).
G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00.
G01N 23/225 · · utilizando microsondas electrónicas o iónicas.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
Dispositivo para producir un parche de una capa sobre un sustrato y medir el espesor del parche, y método para medir un espesor de un parche de una estructura de capa sobre un sustrato.
(05/02/2020). Solicitante/s: TE Connectivity Germany GmbH. Inventor/es: SCHMIDT, HELGE, FRECKMANN,DOMINIQUE, SACHS,SÖNKE, REEDER,CRAIG, SARRAF,DAVID, PANOS,KONSTANTINOS, MYERS,MARJORIE, WEIER,EVA.
Dispositivo para producir un parche de una estructura de capa sobre un sustrato mediante la aplicación de un material sobre el sustrato y la fusión del material dirigiendo un haz de electrones de alta energía sobre el material, y para medir un espesor (T) del parche , en particular un área funcional de un elemento eléctrico , que comprende una fuente de electrones para emitir un haz de electrones, un dispositivo de aceleración de electrones para acelerar los electrones en el haz de electrones, un detector para detectar una señal procedente del parche sometido al haz de electrones, estando adaptado el dispositivo para mover el parche y el haz de electrones uno con respecto al otro, y comprendiendo el dispositivo un dispositivo de análisis para determinar el espesor (T) del parche , estando adaptado el dispositivo para fundir el parche (2, 2A) con el haz de electrones.
PDF original: ES-2779419_T3.pdf
Procedimiento integrado para analizar cristales en depósitos.
(24/10/2019) Un procedimiento para analizar cristales en un depósito en una superficie de una superficie de calentamiento de central de generación nuclear, que comprende:
extraer una muestra de material de la superficie de la superficie de calentamiento de central de generación nuclear (etapa 20); llevar a cabo al menos uno de una microscopía electrónica de barrido de alta resolución/espectrometría de rayos X de dispersión de energía de la muestra (etapa 100) y una microscopía electrónica de transmisión y barrido/difracción de electrones de área seleccionada/análisis de cartografía puntual y elemental de la muestra (etapa 400) en su condición "tal como se encuentra";
si se lleva a cabo microscopía de barrido de alta resolución/espectrometría de rayos X de dispersión de energía (etapa 100), comprende además las etapas…
Procedimiento y herramienta de análisis de impurezas de un reactor de agua en ebullición y un reactor de agua presurizada in situ.
(04/01/2017). Solicitante/s: AREVA Inc. Inventor/es: POP,MIHAI G.M, LOCKAMON,BRIAN G, LAMANNA,LAURENCE S, WILLSE,JOHN T.
Un procedimiento para realizar un análisis de depósito no identificado tipo Chalk River (CRUD, por sus siglas en inglés) en una barra de combustible nuclear, que comprende:
proporcionar una barra de combustible nuclear con una capa de CRUD en un exterior de la barra de combustible;
el raspado de CRUD de la barra de combustible con una herramienta de raspado de CRUD ; donde la herramienta de raspado tiene una cuchilla con una rigidez que se corresponde a una resistencia a cizalladura del depósito CRUD prevista.
la recogida de las escamas CRUD de la herramienta de raspado de CRUD;
la clasificación de las escamas de CRUD en fracciones de partículas; y
el análisis de CRUD con un microscopio electrónico de barrido,.
PDF original: ES-2621121_T3.pdf
Dispositivo de análisis de un material irradiante con ayuda de una microsonda.
(17/12/2015). Ver ilustración. Solicitante/s: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES. Inventor/es: LAMONTAGNE,JÉRÔME, BLAY,THIERRY, BENARD,PHILIPPE.
Dispositivo de análisis de un material con ayuda de una microsonda , que incluye:
- un recinto principal que contiene un recinto secundario ;
- una microsonda ubicada dentro del recinto principal y equipada con un movimiento objeto ;
- una esclusa de aire ubicada dentro del recinto principal y unida a la microsonda y al recinto secundario;
- un soporte móvil de muestra desplazable del recinto secundario hasta la esclusa de aire y de la esclusa de aire hasta el movimiento objeto;
y en el que la esclusa de aire y el movimiento objeto incluyen cada cual un órgano de guía del soporte móvil de muestra para guiar este soporte en su desplazamiento, así como un sensor de detección de presencia del soporte móvil de muestra.
PDF original: ES-2554277_T3.pdf
Método para determinar la transferencia de potencia de un componente nuclear con una capa de material situada en una superficie calentadora del componente.
(15/04/2015) Un método para caracterizar una transferencia de potencia de una superficie calentadora de un componente calentador nuclear con una capa de depósito de material situada en un lado del componente, que comprende:
obtener una muestra de la capa de depósito en el lado del componente calentador;
obtener una imagen de una superficie interna opuesta al interior de la muestra;
obtener una imagen de una superficie externa opuesta al exterior de la muestra;
analizar las imágenes de la superficie interna y la superficie externa de la muestra para verificar la presencia de capilares y chimeneas de vapor;
determinar un número de capilares y chimeneas de vapor para la superficie interna y la superficie externa;
determinar…
METODO PARA EL MICROANALISIS CUANTITATIVO DE RAYOS X DE ALEACIONES METALICAS BASADO EN UN CONJUNTO DE MUESTRAS PATRON DE LA ALEACION Y UN MODELO MATEMATICO DE AJUSTE.
(01/02/1999) METODO PARA EL MICROANALISIS CUANTITATIVO DE RAYOS X DE ALEACIONES METALICAS BASADO EN UN CONJUNTO DE MUESTRAS PATRON DE LA ALEACION Y UN MODELO MATEMATICO DE AJUSTE. EL METODO SE BASA EN LA APLICACION DE UN DISPOSITIVO QUE CONTIENE UN CONJUNTO DE ALEACIONES DE LA MISMA BASE METALICA, HOMOGENEAS QUIMICA Y ESTRUCTURALMENTE, ADECUADAS PARA SU UTILIZACION COMO PATRONES EN EL MICROANALISIS CUANTITATIVO DE LA ALEACION METALICA DE INTERES, EN SISTEMAS DE ANALISIS DE RAYOS X QUE UTILIZAN DETECTORES DE DISPERSION DE ENERGIAS (EDS), O DE DISPERSION DE LONGITUDES DE ONDAS (WDS), ACOPLADOS A UN MICROSCOPIO ELECTRONICO DE BARRIDO…
DISPOSITIVO QUE CONTIENE UN CONJUNTO DE MUESTRAS PATRON DE ACEROS PARA EL MICROANALISIS CUANTITATIVO DE ALEACIONES METALICAS DE BASE HIERRO.
(01/02/1999). Ver ilustración. Solicitante/s: ACERINOX, S.A.. Inventor/es: FERNANDEZ DE CASTILLO Y VALDERRAMA,IGNACIO, BOTELLA ARBOLEDAS,JAIME, ALMAGRO BELLO, JUAN FRANCISCO.
DISPOSITIVO QUE CONTIENE UN CONJUNTO DE MUESTRAS PATRON DE ACEROS PARA EL MICROANALISIS CUANTITATIVO DE ALEACIONES METALICAS DE BASE HIERRO. EL DISPOSITIVO CONTIENE UN CONJUNTO DE ACEROS HOMOGENEOS QUIMICA Y ESTRUCTURALMENTE ADECUADOS PARA SU UTILIZACION COMO PATRONES EN MICROANALISIS CUANTITATIVO EDX-SEM, WDX-SEM Y EPMA. ESTOS ACEROS SE ELIGEN DE FORMA QUE CUBREN UN RANGO AMPLIO DE COMPOSICIONES QUIMICAS PARA LOS ELEMENTOS MAS IMPORTANTES EN LA INDUSTRIA DEL ACERO, DENTRO DE SUS RANGOS MAS USUALES DE UTILIZACION. EL DISPOSITIVO SE HA DISEÑADO PARA SU UTILIZACION CON SISTEMAS DE ANALISIS DE RAYOS X ACOPLADOS A MICROSCOPIOS SEM Y SISTEMAS DE MICROSONDA ELECTRONICA, EPMA, CONJUGANDO EL MATERIAL DE FABRICACION Y EL TAMAÑO OPTIMO. EL DISPOSITIVO INCLUYE UN ACCESORIO PARA MEDIR LA CORRIENTE DEL HAZ DE ELECTRONES. ESTE DISPOSITIVO TIENE APLICACION EN LA INDUSTRIA SIDERURGICA.
