CIP-2021 : H01J 37/252 : Tubos analizadores de manchas por haces electrónicos o iónicos; Microanalizadores.
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H ELECTRICIDAD.
H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.
H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H).
H01J 37/00 Tubos de descarga provistos de medios o de un material para ser expuestos a la descarga, p. ej. con el propósito de sufrir un examen o tratamiento (H01J 33/00, H01J 40/00, H01J 41/00, H01J 47/00, H01J 49/00 tienen prioridad).
H01J 37/252 · Tubos analizadores de manchas por haces electrónicos o iónicos; Microanalizadores.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
MICROSCOPIO ELECTRONICO CON ESPECTROSCOPIA RAMAN.
(16/12/1998) MICROSCOPIO ELECTRONICO PROPORCIONADO EN LA DIRECCION DEL EJE LONGITUDINAL, CON AL MENOS UN SISTEMA DE GENERACION DE HAZ DE ELECTONES, UN CONDENSADOR Y SISTEMA DE OBJETIVO DE LENTE, UNA CAMARA DE MUESTRA CON UN SOPORTE DE MUESTRA, UN SISTEMA DE PROYECCION DE LENTE CON UNA PANTALLA REPRODUCTORA PARA EL FIN DEL MICROSCOPIO ELECTRONICO DE TRANSMISION (MET) Y/O UN DETECTOR ELECTRONICO PARA EL FIN DEL MICROSCOPIO ELECTRONICO DE ESCANEO (MEE). EL MICROSCOPIO SE USA EN COMBINACION CON UN ESPECTROMETRO DE RAMAN POSICIONADO EXTERNAMENTE Y UNA FUENTE DE LUZ ASOCIADA PAA INYECCION Y EXTRACCION, VIA UNA VENTANA EN LA PARED DEL MICROSCOPIO, UN HAZ DE LUZ ES DIRECCIONADO A LA RADIACION DE RAMAN DE MUESTRA Y DE MUESTRA…
UN DISPOSITIVO PARA GENERAR, AMPLIFICAR Y DETECTSR ELECTRONES SECUNDARIOS.
(01/07/1989). Ver ilustración. Solicitante/s: ELECTRO-SCAN CORPORTATION. Inventor/es: DANILATOS, GERASIMOS D., MANCUSO, JAMES F., MAXWELL, WILLIAM B.
LA INVENCION PROPORCIONA UN DISPOSITIVO PARA GENERAR, AMPLIFICAR Y DETECTAR ELECTRONES SECUNDARIOS DESDE LA SUPERFICIE DE UNA MUESTRA. EL DISPOSITIVO PUEDE COMPRENDER UN MICROSCOPIO ELECTRONICO DE EXPLORACION. LA INVENCION PROPORCIONA TAMBIEN UN METODO PARA GENERAR, AMPLIFICAR Y DETECTAR ELECTRONES SECUNDARIOS PROCEDENTES DE LA SUPERFICIE DE UNA MUESTRA.
