MICROSCOPIO ELECTRONICO CON ESPECTROSCOPIA RAMAN.
MICROSCOPIO ELECTRONICO PROPORCIONADO EN LA DIRECCION DEL EJE LONGITUDINAL,
CON AL MENOS UN SISTEMA DE GENERACION DE HAZ DE ELECTONES, UN CONDENSADOR Y SISTEMA DE OBJETIVO DE LENTE, UNA CAMARA DE MUESTRA CON UN SOPORTE DE MUESTRA, UN SISTEMA DE PROYECCION DE LENTE CON UNA PANTALLA REPRODUCTORA PARA EL FIN DEL MICROSCOPIO ELECTRONICO DE TRANSMISION (MET) Y/O UN DETECTOR ELECTRONICO PARA EL FIN DEL MICROSCOPIO ELECTRONICO DE ESCANEO (MEE). EL MICROSCOPIO SE USA EN COMBINACION CON UN ESPECTROMETRO DE RAMAN POSICIONADO EXTERNAMENTE Y UNA FUENTE DE LUZ ASOCIADA PAA INYECCION Y EXTRACCION, VIA UNA VENTANA EN LA PARED DEL MICROSCOPIO, UN HAZ DE LUZ ES DIRECCIONADO A LA RADIACION DE RAMAN DE MUESTRA Y DE MUESTRA AFIN, RESPECTIVAMENTE. EN LA CAMARA DE MUESTRA, UN HAZ DE LUZ Y UN SISTEMA DE GUIA DE RADIACION DE RAMAN SE PROPORCIONA CON UNA GUIA OPTICA PARA GUIAR EL HAZ DE LUZ YLA RADIACION RAMAN DESDE LA MUESTRA. EL SISTEMA DE GUIA Y EL SOPORTE DE MUESTRA ESTAN DESPLAZADOS EL UNO DEL OTRO POR LA ALINEACION MUTUA DE LA MUESTRA Y EL EJE OPTICO DEL ESPECTROMETRO RAMAN. EL SISTEMA GUIAPUEDE COMPRENDER UN SUBSISTEMA DE LENTE Y OBJETIVO POSICIONADO AL EXTREMO DE LA GUIA OPTICA. EL SISTEMA GUIA PUEDE ESTAR EN UNA POSICION FIJADA EN LA CAMARA DE MUESTRA PROXIMA AL EJE LONGITUDINAL DEL MICROSCOPIO, UN MECANISMO DE DESPLAZAMIENTO DE MUESTRA DESPLAZA EL SOPORTE DE MUESTRA DESDE UNA POSICION EN EL EJE LONGITUDINAL DEL MICROSCOPIO A UNA POSICION ALINEADA CON EL EJE OPTICO EN DICHO SISTEMA DE GUIA Y VICEVERSA. IGUALMENTE, LA GUIA OPTICA PUEDE SER DESPLAZADA A UNA POSICION EN LA CUAL EL EJE OPTICO QUE SALE DESDE EL EXTREMO DE LA GUIA COINCIDA CON EL EJE LONGITUDINAL DEL MICROSCOPIO.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: BIOMATERIALS RESEARCH GROUP STICHTING AZL.
Nacionalidad solicitante: Países Bajos.
Dirección: RIJNSBURGERSWEG 10 GEBOUW 55,2333 AA LEIDEN.
Inventor/es: VAN BLITTERSWIJK, CLEMENS ANTONI, KOERTEN, HENDRICK, KLAAS, GREVE, JAN.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 24 de Enero de 1995.
Fecha Concesión Europea: 26 de Agosto de 1998.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N21/65 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Difusión de Raman.
- H01J37/252 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H). › H01J 37/00 Tubos de descarga provistos de medios o de un material para ser expuestos a la descarga, p. ej. con el propósito de sufrir un examen o tratamiento (H01J 33/00, H01J 40/00, H01J 41/00, H01J 47/00, H01J 49/00 tienen prioridad). › Tubos analizadores de manchas por haces electrónicos o iónicos; Microanalizadores.
- H01J37/256 H01J 37/00 […] › que utilizan haces de barrido.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Mónaco, Irlanda, Oficina Europea de Patentes, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Africana de la Propiedad Intelectual.
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