CIP-2021 : G01B 9/02 : Interferómetros.

CIP-2021GG01G01BG01B 9/00G01B 9/02[1] › Interferómetros.

G FISICA.

G01 METROLOGIA; ENSAYOS.

G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.

G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00).

G01B 9/02 · Interferómetros.

CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.

ESPECTROMETRO DE IMAGEN Y METODO DE ESPECTROSCOPIA DE IMAGEN.

(15/02/2010) Espectrómetro de imagen y método de espectroscopia de imagen. El espectrómetro de imagen comprende un módulo de formación de imagen para proyectar una imagen de un objeto sobre un módulo de dispersión configurado para captar una franja de dicha imagen y descomponerla en una pluralidad de componentes espectrales, que son detectadas por un módulo de detección . Asociado al módulo de formación de imagen hay al menos un dispositivo dispersor (D, D41, D51) configurado para formar un conjunto de imágenes del objeto desplazadas lateralmente, cada una de ellas correspondiente a una banda espectral diferente, de manera que la franja captada por el módulo de dispersión comprende una pluralidad de componentes espectrales que cada una corresponde…

PROCEDIMIENTO DE MEDICION INTERFEROMETRICA Y DISPOSITIVO.

(01/04/2007) Procedimiento de medición interferométrica para detectar la forma o la distancia de superficies, en el que se crea luz, se modula en cuanto a su frecuencia, se guía por un lado sobre la superficie y por otro lado se alimenta a una superficie de referencia y se pone en interferencia y se guía a un fotodetector y se analiza una fase de la señal del fotodetector (Ph) para detectar la distancia respectiva, en el que se mide la fase al menos en dos puntos (t1 y t2) de tiempo distintos con las longitudes ?1, ?2 de onda correspondientes en cada caso en función a la modulación de frecuencia y se alimenta para el análisis, en el que en un punto (t1) de tiempo correspondiente a una longitud ?1 de onda se determina una diferencia ??1 de fase y se realiza una medición precisa según la relación ?L = ??·?1…

METODO PARA MEJORAR MEDICIONES MEDIANTE INTERFEROMETRO DE LASER.

(01/12/2006) Un método para mejorar la exactitud de mediciones realizadas con el interferómetro de láser y especialmente para mejorar la exactitud de mediciones de distancia, caracterizado porque la velocidad del sonido se mide cuando recorre la misma trayectoria que la trayectoria del rayo láser y de manera simultánea con la medición de distancia realizada mediante el interferómetro de láser, cuando se determina el efecto de los factores sobre toda la trayectoria del rayo láser del interferómetro de láser, los cuales en su conjunto afectan la velocidad del sonido y el índice de refracción del aire, es decir temperatura del aire, presión del aire, humedad relativa y concentración…

CATETER DE BALON.

(16/10/2006) Catéter de balón que comprende un cuerpo que incluye una sección de cuerpo proximal relativamente rígida, principalmente tubular y una sección de cuerpo distal, más flexible que la sección de cuerpo proximal, unida a una parte de extremo distal de la sección de cuerpo proximal y un balón inflable que se extiende en una parte distal de la sección de cuerpo distal, definiendo la sección de cuerpo proximal y distal una luz de inflación que se extiende en ella, que está en comunicación fluida con el interior del balón para permitir que se aplique la presión de inflación hasta el balón, comprendiendo la sección de cuerpo distal una luz de hilo…

PERFILOMETRO OPTICO DE TECNOLOGIA DUAL (CONFOCAL E INTERFEROMETRICA) PARA LA INSPECCION Y MEDICION TRIDIMENSIONAL DE SUPERFICIES.

(16/08/2006). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA. Inventor/es: LAGUARTA BERTRAN,FERRAN, ARTIGAS PURSALS,ROGER, CADEVALL ARTIGUES,CRISTINA.

Comprende una fuente de luz (LED), unos divisores de haz (por lo menos uno es polarizante), y medios de generación de patrones de iluminación (microvisualizador LCOS) y objetivos microscópicos intercambiables que son objetivos convencionales con los que se pueden obtener imágenes confocales y objetivos interferométricos con los que se pueden obtener imágenes interferométricas. El microvisua1izador puede generar una secuencia de patrones de iluminación para obtener imágenes confocales o una apertura total de todos los píxeles de iluminación para obtener imágenes interferométricas. Presenta un diseño compacto que permite la medida rápida y sin contacto de la forma y la textura de todo tipo de superficies a escala micro y nanométrica, incluso en muestras estructuradas o estratificadas que contienen materiales diferentes.

FABRICACION DE PELICULAS SENSIBLES DE POLIMERO PARA INTERFEROMETRO DE FABRY-PEROT.

(16/12/2005). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSITY COLLEGE LONDON. Inventor/es: BEARD, PAUL, MILLS, TIMOTHY NOEL, DELPY, DAVID.

Un procedimiento para formar una película de interferómetro para un sensor de interferómetro que comprende la etapa de formar una capa de polímero de espesor sustancialmente uniforme directamente sobre un sustrato de interferómetro, la capa forma la película de interferometría, en el que la capa de polímero se deposita mediante la polimerización de un gas de partículas de monómero entre las que se incluyen un para-xilileno.

SISTEMA Y METODO PARA REALIZAR MEDICIONES OPTICAS SELECCIONADAS.

(01/12/2005) SISTEMA Y PROCEDIMIENTO PARA REALIZAR MEDICIONES OPTICAS SELECCIONADAS EN UNA MUESTRA QUE UTILIZA UN REFLECTROMETRO DE AMBITO DE COHERENCIA OPTICA QUE INCLUYE UNA REJILLA DE DIFRACCION (G). UNA FUENTE DE LUZ DE BANDA AMPLIA PRODUCE LUZ QUE TIENE UNA LONGITUD DE COHERENCIA CORTA. UN DIVISOR DE HAZ (BS1) DIVIDE LA LUZ EN UN HAZ DE SEÑAL Y UN HAZ DE REFERENCIA. UN ESPEJO DE REFERENCIA (M5) ESTA DISPUESTO PARA RECIBIR EL HAZ DE REFERENCIA. UNA LENTE (O1) PONE EL HAZ DE LA SEÑAL EN UN FOCO CON LA MUESTRA. UNA REJILLA DIFRACTORA (G) RECIBE UNA REFLEXION DE LA MUESTRA Y DEL ESPEJO DE REFERENCIA, Y LAS REFLEXIONES…

DETERMINACION DE FASES DE UN CAMPO DE ONDAS DE RADIACION.

(01/10/2005) Método de determinación cuantitativa de la fase de una radiación de un campo de ondas de radiación, que incluye las etapas de (a) producir una medida representativa de la velocidad de variación de la intensidad de dicho campo de ondas de radiación sobre una superficie seleccionada que se extiende generalmente a través del campo de ondas; (b) producir una medida de intensidad representativa de dicho campo de ondas de radiación sobre dicha superficie seleccionada; (c) transformar dicha medida de la velocidad de variación de la intensidad para producir una primera representación de transformada integral y aplicar a dicha primera representación de transformada integral un primer filtro correspondiente a la inversión de un primer operador diferencial reflejado en dicha medida de la velocidad de variación de la intensidad,…

INTERFEROMETRO DE CIZALLADORA MOTEADA PARA MEDIDA DE DEFORMACION.

(01/07/2005) Un método para incrementar la relación señal/ruido en el ensayo o evaluación no destructiva de una muestra por un sistema de inspección óptica escalonada en fase, en el que, son generadas y captadas imágenes punteadas correlacionadas escalonadas en fase sucesivamente de una muestra que ha de ser ensayada, iluminando la muestra , mientras está en un estado no tensado estático, con radiación coherente, la muestra es iluminada con radiación coherente, tensada incrementalmente en incrementos predeterminados de tensión y son generadas y captadas imágenes punteadas correlacionada escalonadas en fase sucesivamente de la muestra tensada incrementalmente en los incrementos predeterminados de tensión, las imágenes punteadas escalonadas…

DISPOSITIVO DE MEDICION INTERFEROMETRICA PARA LA MEDICION DE LA FORMA EN SUPERFICIES RUGOSAS.

(01/06/2005) LA INVENCION SE REFIERE A UN DISPOSITIVO DE MEDICION INTERFEROMETRICA PARA LA MEDICION DE FORMAS EN SUPERFICIES RUGOSAS DE UN OBJETO QUE SE DESEA MEDIR . LA MEDICION SE EFECTUA POR MEDIO DE RADIACION COHERENTE-CORTA, CON LO QUE EL RECORRIDO DE LA LUZ O LA DURACION DE UN HAZ DE REFERENCIA SE MODULAN PERIODICAMENTE Y SE COLOCAN EN INTERFERENCIA CON UN HAZ DE MEDICION REFLEJADO POR LA SUPERFICIE DEL OBJETO MEDIDO , ANALIZANDOSE EN LA RADIACION INTERFERIDA EL MAXIMO DEL CONTRASTE DE INTERFERENCIA. AUNQUE DE SIMPLE CONSTRUCCION, EL DISPOSITIVO DE MEDICION CONSIGUE UNA ELEVADA PRECISION EN LA MEDICION, DADO QUE COMPRENDE UN SISTEMA DE INTERFEROMETRO DE MODULACION (IM) EN EL QUE EL RECORRIDO DE LA LUZ SE MODIFICA POR MEDIO DE DEFLECTORES OPTICOS-ACUSTICOS Y UN DISPOSITIVO DE COMPENSACION (C1, C2) PARA CORREGIR LA INCOHERENCIA…

PROCEDIMIENTO DE IDENTIFICACION DE UN OBJETO.

(16/10/2004) Procedimiento de identificación de un objeto que comprende las etapas siguientes: (a) elegir una superficie intrínseca de un objeto a reconocer que no ha sufrido un tratamiento específico destinado a estandarizar la figura de interferencia que es susceptible de producir; (b) iluminar por lo menos una zona de identificación en dicha superficie intrínseca de dicho objeto a reconocer con una luz coherente e interceptar por lo menos una parte de la luz reflejada por dicha zona de identificación, de manera que se obtenga una figura de interferencia en unas condiciones de iluminación y de intercepción determinadas; (c) conservar esta figura de interferencia…

METODO Y APARATO PARA EL PERFILADO SUPERFICIAL DE MATERIALES Y CALIBRACION DE LASERES DE ABLACION.

(16/06/2004) La invención se refiere a un procedimiento de medición del perfil superficial de una muestra , que consiste en dirigir un haz luminoso procedente de una fuente luminosa , a través de un divisor de haz de manera que se formen dos haces divididos, en dirigir respectivamente dicho haz sobre una superficie de muestra y una superficie de referencia , en reenviar los haces divididos a través del divisor de haz , y en dirigir los haces divididos hacia un sistema de formación de imagen . La invención se refiere también a un aparato de perfilado superficial para la medición del perfil superficial de una muestra , que comprende una fuente luminosa para generar un haz fuente, un medio de división de haz colocado sobre el trayecto del haz fuente, para dividir este último en haces divididos, una superficie…

INTERFEROMETRO DE ALTA PRECISION CON CONDUCTORES DE LUZ.

(01/05/2004) Interferómetro para la medición de una diferencia de fases entre un haz de referencia y un haz objeto transformado por un elemento óptico compuesto por un medio de fuente luminosa para generar el haz objeto y el haz de referencia; un dispositivo óptico para permitir la interferencia entre el haz objeto transformado y el haz de referencia en un plano de detección ; y un medio de detección, para detectar la diferencia de fase entre los frentes de onda del haz objeto transformado y el haz de referencia en el plano de detección , caracterizado porque el dispositivo óptico consta de: un primer conductor luminoso con una superficie de entrada que acopla el haz objeto generado por el medio de fuente luminoso en el primer conductor luminoso y con una primera…

INTERFEROMETRO DE TIPO FABRY-PEROT CON POSIBILIDAD DE SEPARACION CERO.

(16/04/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: NORTHROP GRUMMAN CORPORATION. Inventor/es: HAAS, EDWIN, G., HILGEMAN, THEODORE, W., RYAN, ROBERT, E.

UN INTERFEROMETRO COMPRENDE UNA BASE PARA FORMAR UNA PARTE INTERIOR Y UNOS MIEMBROS OPTICOS PRIMERO Y SEGUNDO (14 Y 16) SITUADOS EN EL INTERIOR DE LA BASE. EL INTERFEROMETRO COMPRENDE ADEMAS UN PRIMER ENSAMBLAJE RETENEDOR QUE CONECTA EL PRIMER MIEMBRO OPTICO A LA BASE, UNOS MEDIOS DE TRASLACION PARA MOVER EL SEGUNDO MIEMBRO OPTICO CON RELACION AL PRIMER MIEMBRO OPTICO Y VARIAR LA DISTANCIA ENTRE EL PRIMER Y SEGUNDO MIEMBRO OPTICO Y UN SEGUNDO ENSAMBLAJE RETENEDOR QUE CONECTA EL SEGUNDO MIEMBRO OPTICO AL MEDIO DE TRASLACION . LA CONFIGURACION Y DISEÑO MECANICOS PREFERIDOS QUE CARACTERIZAN EL INTERFEROMETRO PRODUCEN UN INSTRUMENTO MUY DURADERO QUE PUEDE RAPIDAMENTE EXPLORAR Y FILTRAR CON PRECISION LA LUZ A TRAVES DE UNA AMPLIA ANCHURA DE BANDA. EL PRESENTE INSTRUMENTO DISEÑADO DE FORMA SINGULAR COMBINA UNA CONMUTACION A ALTA VELOCIDAD, UNA ALTA RESOLUCION, UNA AMPLIA ANCHURA DE BANDA Y CAPACIDADES DE AMORTIGUACION AJUSTABLES EN UN INSTRUMENTO DE VUELO UTIL Y DURADERO.

CIRCUITO PARA EL PROCESAMIENTO DE SEÑALES QUE APARECEN EN UN INTERFEROMETRO HETERODINO.

(01/04/2004). Solicitante/s: ROBERT BOSCH GMBH. Inventor/es: STEINLECHNER, SIEGBERT.

La invención se refiere a la circuitería para procesar una señal de referencia (A) que se produce en un interferómetro heterodino y una señal de medida (B). La señal de modulación de frecuencia básica de la fuente de radiación del interferómetro heterodino conduce a cambios de fase en ambas señales (A,B). El filtrado de la señal de ambas señales, la señal de referencia (A) y la señal de medida (B) con una señal de puerta (C) corta los segmentos de la señal de ambas señales (A,B) mostrando el mismo signo de la fase. La simplificación adicional del procesado de señal ocurre a través de la interpolación de señal que involucra filtros paso banda y mediante la mezcla inferior de las señales a un intervalo de frecuencia más bajo dentro de la frecuencia heterodina (Fh). Las señales de entrada (L,N) facilitadas por la circuitería inventiva puede procesarse por un indicador de fase convencional.

METODO PARA MEJORAR EL CONTRASTE DE IMAGENES OBTENIDAS UTILIZANDO LA TECNICA ESPI DE ADICION DE IMAGENES PULSADAS.

(16/02/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: EUROPEAN COMMUNITY. Inventor/es: LUCIA, ALFREDO CARLO, FACCHINI, MASSIMO.

PARA MEJORAR EL CONTRASTE DE IMAGENES OBTENIDAS CON EL USO DE LA TECNICA ESPI DE ADICION DE IMAGENES PULSATILES, Y EN RELACION CON UN OBJETO SOMETIDOS A ESFUERZOS MECANICOS, SE REALIZA UN CICLO PRELIMINAR DE MEDICION, CON EL OBJETO DE OBTENER, EN ESTADO NO SOLICITADO, UN NUMERO PREESTABLECIDO DE IMAGENES DE INTERFERENCIA QUE DIFIEREN ENTRE SI POR UN DESPLAZAMIENTO DE FASE CONTROLADO DE UNA FRACCION DE LOS IMPULSOS QUE SE DESPLAZAN A LO LARGO DE UNO DE LOS BRAZOS DEL INTERFEROMETRO; SE CALCULA UN VALOR MEDIO DE LA INTENSIDAD LUMINOSA A PARTIR DE LAS IMAGENES DE INTERFERENCIA, SE MEMORIZA Y SE RESTA DE CADA UNA DE LAS IMAGENES DE INTERFERENCIA OBTENIDAS DURANTE EL CICLO REAL DE MEDICION, A FIN DE MEJORAR EL CONTRASTE DE LAS IMAGENES.

APARATO Y METODO PARA EL ENSAYO NO DESTRUCTIVO DE ARTICULOS UTILIZANDO METROLOGIA OPTICA.

(16/12/2003) Aparato para inspeccionar o ensayar una muestra utilizando técnicas de cizallografía, que incluye: un interferómetro de corte con láser que incluye: una fuente de radiación coherente; medios de generación de línea para producir una línea de radiación coherente desde dicha fuente , medios de exploración de línea para explorar dicha línea de radiación coherente sobre dicha muestra , medios de elemento de corte o cizalladura para generar dos imágenes de la muestra desplazadas lateralmente, y medios de escalonamiento o inclinación de fase para escalonar o inclinar la fase de una de las dos imágenes, y .una cámara de vídeo…

RED DE PASO VARIABLE PARA SISTEMA DE TELEMETRIA POR DIFRACCION.

(16/12/2003). Ver ilustración. Solicitante/s: DITTO, THOMAS D. LYON, DOUGLAS A. Inventor/es: DITTO, THOMAS D., LYON, DOUGLAS A.

SE DESCRIBE UN MEDIO PARA CONTRARESTAR LA REDUCCION DE PERSPECTIVA EN EL RECEPTOR DE UN TELEMETRO DE DIFRACCION UTILIZANDO UN RETICULO DE DIFRACCION DE PITIDOS. EN UN TELEMETRO DE DIFRACCION, UN RETICULO DE DIFRACCION CON VARIACIONES DE PASO DE MANERA QUE EL DESPLAZAMIENTO DE IMAGENES DE DIFRACCION DE ORDEN SUPERIOR EN UN RECEPTOR ESTAN SEPARADAS DE SU IMAGEN DE ORDEN 0 ASOCIADA EN UN DESPLAZAMIENTO ARBITRARIO CON RESPECTO A UNA DISTANCIA DE BLANCO O ARBITRARIA. SE DESCRIBE UN SISTEMA PARA MEDIR LA DISTANCIA DE UN BLANCO QUE COMPRENDE UN RETICULO DE PASO VARIABLE Y UN RECEPTOR DE LAS IMAGENES DE DIFRACCION FORMADAS POR EL RETICULO.

PROCEDIMIENTO PARA LA MEDICION INTERFEROMETRICA DE POSICIONES MODIFICACIONES DE LA POSICION Y VARIABLES FISICAS DERIVADAS DE ELLAS.

(01/11/2003). Ver ilustración. Solicitante/s: ROBERT BOSCH GMBH. Inventor/es: DRABAREK, PAWEL.

LA PRESENTE INVENCION SE REFIERE A UN PROCEDIMIENTO PARA MEDIR LAS POSICIONES Y CAMBIOS DE POSICION, ASI COMO LAS CANTIDADES FISICAS DERIVADAS DE DICHA MEDIDA, DE UN ELEMENTO QUE DEBE EXAMINARSE DE ACUERDO CON EL PROCEDIMIENTO DE LA INTERFEROMETRIA HETERODINA. PARA GENERAR LA FRECUENCIA HETERODINA, SE MODULA UN LASER POR MEDIO DE UNA CORRIENTE DE INYECCION CON VARIACION DE TIEMPO, DE MANERA QUE SE CAMBIE SU FRECUENCIA DE RADIACION, QUE SE DIRIJA LA DIRECCION HACIA EL ELEMENTO QUE DEBE EXAMINARSE, POR EL USO DE UNA DESVIACION OPTICA POR UN LADO Y SIN DESVIACION OPTICA POR EL OTRO, Y A CONTINUACION SE CAMBIE LA DIRECCION A UN RECEPTOR DE MEDICION. CON RELACION A UN OBJETO DE TAMAÑO PEQUEÑO, LOS VALORES MEDIDOS SE EVALUAN MEJOR SI LA FORMA DE LA SEÑAL DE CORRIENTE DE INYECCION SE CARACTERIZA POR UN BORDE EN SUBIDA EN FUERTE PENDIENTE, EN RELACION CON LA DURACION DE SU IMPULSO SEGUIDO POR UNA MESETA.

APARATO PARA CARACTERIZACION OPTICA UTILIZANDO IMAGENES CONTROLADAS AUTOMATICAMENTE.

(01/11/2003). Solicitante/s: UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID. Inventor/es: BERNABEU MARTINEZ,EUSEBIO, ALONSO FERNANDEZ,JOSE, CANABAL BOUTUREIRA,HECTOR.

Aparato para caracterización óptica utilizando imágenes controladas automáticamente. Método de caracterización óptica que utiliza imágenes controladas automáticamente, que comprende un sistema que muestra imágenes, un sistema que capta dichas imágenes y un sistema que controla los dos anteriores y analiza la información de las imágenes captadas. El elemento óptico a examinar se coloca de forma tal que los rayos de luz procedentes del sistema formador de imagen atraviesen, o se reflejen, en el objeto a examinar. El análisis de la o las imágenes registradas permite obtener una o varias de las características ópticas del objeto examinado. El control de las imágenes utilizadas permite ajustar las características de la medida (rango, sensibilidad, velocidad, etc) de manera óptima según los requerimientos específicos.

INTERFEROMETRO CON AJUSTE APROXIMADO Y DE PRECISION.

(01/10/2003). Ver ilustración. Solicitante/s: NORTHROP GRUMMAN CORPORATION.

INTERFEROMETRO QUE COMPRENDE UNA BASE QUE FORMA UN INTERIOR Y UN PRIMER Y SEGUNDO ELEMENTOS OPTICOS (14 Y 16) SITUADOS EN EL INTERIOR DE LA BASE. EL INTERFEROMETRO COMPRENDE TAMBIEN UN PRIMER CONJUNTO DE RETEN QUE CONECTA EL PRIMER ELEMENTO OPTICO CON LA BASE, EL MEDIO DE TRANSLACION PARA MOVER EL SEGUNDO ELEMENTO OPTICO CON RESPECTO AL PRIMER ELEMENTO OPTICO , PARA VARIAR LA DISTANCIA ENTRE EL PRIMER Y EL SEGUNDO ELEMENTOS OPTICOS, Y UN SEGUNDO CONJUNTO DE RETEN QUE CONECTA EL SEGUNDO ELEMENTO OPTICO CON EL MEDIO DE TRANSLACION . LA CONFIGURACION MECANICA PREFERIDA Y LAS CARACTERISTICAS DE DISEÑO DEL INTERFEROMETRO PRODUCEN UN INSTRUMENTO MUY DURADERO QUE PUEDE ESCANEAR RAPIDAMENTE Y FILTRAR CON PRECISION LA LUZ A TRAVES DE UN ANCHO DE BANDA AMPLIO. ESTE INSTRUMENTO DE DISEÑO UNICO COMBINA LA CONMUTACION ULTRARRAPIDA, UNA ELEVADA RESOLUCION, UN AMPLIO ANCHO DE BANDA, Y CAPACIDADES DE AMORTIGUACION AJUSTABLES EN UN INSTRUMENTO CAPAZ, LIGERO Y DURADERO.

APARATO Y TECNICA CORRESPONDIENTE QUE PERMITE UNA ALINEACION ESPECTRAL EN TIEMPO REAL PARA ESPECTOMETRO DE INFRARROJOS CON TRAYECTORIA ABIERTA SEGUN LA TRANSFORMADA DE FOURIER.

(16/04/2003). Solicitante/s: AIL SYSTEMS, INC. Inventor/es: WANG, CHUNG-TAO, DAVID, KAGANN, ROBERT, HOWARD.

UN ESPECTOMETRO POR INFRARROJOS QUE MEJORA UNA TRAYECTORIA ABIERTA DE LA TRANSFORMADA DE FOURIER (14A), QUE INCLUYE UN CIRCUITO O ALGORITMO QUE REALIZA UNA ALINEACION ESPECTRAL EN TIEMPO REAL DE LOS INTERFEROGRAMAS MEDIDOS PARA REDUCIR LOS ERRORES DE MEDIDA. DICHO ESPECTOMETRO MEJORA LAS MEDIDAS SELECCIONADAS DE LAS LINEAS DE VAPOR DE AGUA EN UNA TRAYECTORIA DE MEDICIONES Y COMPARA EL EJE DE DICHAS LINEAS DE VAPOR CON UNA BIBLIOTECA DE REFERENCIA.

METODO PARA LA ALINEACION ESPECTRAL EN TIEMPO REAL PARA ESPECTROMETROS DE INFRARROJOS CON TRANSFORMADA DE FOURIER DE TRAYECTORIA ABIERTA.

(16/03/2003) Un método para mejorar la sensibilidad de las mediciones en un Espectrómetro de Infrarrojos con Transformada de Fourier de trayectoria abierta llevando a cabo un desplazamiento del número de onda correctivo en el espectro de los elementos que se van a analizar dentro de una anchura de banda del espectrómetro, comprendiendo el método las etapas de: a) seleccionar una pluralidad de componentes conocidos dentro de una región espectral definida; b) medir la longitud de onda de cada uno de la pluralidad de componentes seleccionados; c) determinar un desplazamiento de número de onda para cada uno de la pluralidad de componentes medidos comparando los valores medidos con los valores de referencia; d) determinar un centro estadístico de la pluralidad de…

APARATO Y METODO PARA EL ENSAYO NO DESTRUCTIVO DE MATERIAL ILUMINADO POR RADIACION COHERENTE.

(16/02/2002). Solicitante/s: BRITISH AEROSPACE PUBLIC LIMITED COMPANY. Inventor/es: SALTER, PHILLIP LANGLEY, PARKER, STEVE CARL JAMIESON.

UN APARATO OPTICO DE PRUEBAS NO DESTRUCTIVAS INCLUYE UN DISPOSITIVO INTERFEROMETRO MACH-ZEHNDER BIARMADO RECORTADO Y DOS MEDIOS DE REGISTRO SEPARADOS . CUATRO CAMBIOS DE FASE DESPLAZADOS LATERALMENTE QUE MARCAN LAS IMAGENES PATRON DE UN MATERIAL, SON RECOGIDAS ANTES DE PRESIONARLES Y CUATRO CAMBIOS DE FASE DESPLAZADOS LATERALMENTE QUE MARCAN LAS IMAGENES PATRON SON RECOGIDAS DESPUES DE PRESIONARLAS. EL CAMBIO DE FASE ES EFECTUADO POR MEDIO DE UN TRANSDUCTOR PIEZOELECTRICO MONTADO EN UN ESPEJO EL CUAL INCREMENTA LA LONGITUD DEL CAMINO DE UNO DE LOS BRAZOS DEL DISPOSITIVO . DE ESTA MANERA CUATRO IMAGENES SUCESIVAS SON GENERADAS Y GRABADAS SOBRE LOS MEDIOS DE REGISTRO SEPARADOS CON UN SIMPLE CAMBIO DE FASE. LAS CUATRO IMAGENES PATRON MARCADAS Y RECOGIDAS ANTES DE LA PRESION, SON UTILIZADAS PARA DERIVAR UN PERFIL DE FASE MARCADO COMO SON LAS CUATRO IMAGENES TOMADAS DESPUES DE LA PRESION Y DOS PERFILES DE FASE MARCADOS SON DIFERENCIADOS PARA REVELAR LOS DEFECTOS DEL MATERIAL.

DETECCION DE FRENTE DE ONDA CON MICROESPEJO PARA REFERENCIA AUTOMATICA Y SU ALINEACION.

(16/06/2001) UN INTERFEROMETRO QUE COMPRENDE UN SEPARADOR DE HACES PARA SEPARAR UN HAZ DE ORIGEN EN UN HAZ DE ENSAYO Y UN HAZ DE REFERENCIA, UN DISPOSITIVO DE FORMACION DE IMAGENES PARA DETECTAR UN PATRON DE INTERFERENCIA, UN ESPEJO DISPUESTO EN UNA TRAYECTORIA DEL HAZ DE ENSAYO PARA LA REFLEXION DEL HAZ DE ENSAYO HACIA EL DISPOSITIVO DE FORMACION DE IMAGENES, UN MICROESPEJO COLOCADO EN UNA TRAYECTORIA DEL HAZ DE REFERENCIA PARA UNA REFLEXION DE UNA PORCION DEL HAZ DE REFERENCIA HACIA EL DISPOSITIVO DE FORMACION DE IMAGENES, Y UN MECANISMO DE ENFOQUE DISPUESTO PARA QUE ENFOQUE EL HAZ DE REFERENCIA SOBRE EL MICROESPEJO. EL MICROESPEJO TIENE UNA DIMENSION LATERAL QUE NO SOBREPASA LA DIMENSION LATERAL APROXIMADA DE UN LOBULO CENTRAL…

PROCEDIMIENTO Y APARATO PARA EL ANALISIS ESPECTRAL DE IMAGENES.

(16/06/2000) SE PRESENTA UN METODO PARA ANALIZAR UNA IMAGEN OPTICA DE UNA ESCENA PARA DETERMINAR LA INTENSIDAD ESPECTRAL DE CADA PIXEL DE LA ESCENA, EL METODO INCLUYE LA RECOGIDA DE LA LUZ INCIDENTE DE LA ESCENA; B) EL PASO DE LA LUZ A TRAVES DE UN INTERFEROMETRO QUE EMITE LUZ MODULADA QUE SE CORRESPONDE CON UN CONJUNTO PREDETERMINADO DE COMBINACIONES LINEALES DE LA INTENSIDAD ESPECTRAL DE LA LUZ EMITIDA DESDE CADA PIXEL; EL ENFOQUE DE LA LUZ EMITIDA DESDE EL INTERFEROMETRO SOBRE UNA MATRIZ DE DETECTORES; Y EL PROCESAMIENTO DE LA SALIDA DE LA MATRIZ DE DETECTORES PARA DETERMINAR LA INTENSIDAD ESPECTRAL DE CADA PIXEL DE LA MISMA. SI EL INTERFEROMETRO ES DE TIPO MOVIL SE REQUIERE LA EXPLORACION EN UNA DIMENSION CUANDO LA MATRIZ DE DETECTORES ES UNIDIMENSIONAL,…

INTERFEROMETRO DE REFERENCIA CON LONGITUD DE ONDA VARIABLE.

(16/05/2000). Solicitante/s: CARL ZEISS JENA GMBH. Inventor/es: BECHSTEIN, KARL-HEINZ, MOLLER, BEATE, SALEWSKI, KLAUS-DIETER, DR.

LA INVENCION SE REFIERE A UN INTERFEROMETRO DE INTERFERENCIA CON LONGITUDES DE ONDA VARIABLES, CON UN DISTRIBUIDOR DE INTERFEROMETRO, CON UNA VIA (R) DE RADIACION DE DIFERENCIA Y CON UNA VIA (M) DE RADIACION DE MEDICION PLEGADA QUE DISCURRE ENTRE DOS ESPEJOS PLANOS. UN ELEMENTO QUE MANTIENE LA DISTANCIA ESTA PREVISTO PARA LA REALIZACION DE UNA SITUACION OPUESTA FIJA DE LOS ESPEJOS PLANOS. AMBOS ESPEJOS PLANOS ESTAN DISPUESTOS DE FORMA INCLINADA UNO CON RESPECTO A OTRO, DE TAL MODO QUE A PARTIR DE UN DISTRIBUIDOR DE INTERFEROMETRO SE REFLEJA UN RAYO DE LUZ ACOPLADO QUE LLEGA EN UN LUGAR O DE ENTRADA EN EL ESPACIO ENTRE LOS ESPEJOS PLANOS, EFECTUANDOSE LA REFLEXION MULTIPLES VECES, CON LO CUAL LOS LUGARES DE REFLEXION DESCANSAN SOBRE LAS SUPERFICIES REFLECTORAS DE LOS ESPEJOS PLANOS SOBRE UNA PARABOLA. EL SEGUNDO ESPEJO PLANO ESTA COORDINADO CON UN RETRORREFLECTOR DE TAL MODO, QUE SE GUIA CONJUNTAMENTE CON EL RAYO DE LUZ QUE APARECE HACIA EL LUGAR O DE ENTRADA O AL MENOS EN SU PROXIMIDAD.

DETERMINACION DE UN FRENTE DE ONDA CON MICROESPEJO PARA AUTO-REFERENCIA Y SU AJUSTE.

(01/04/2000) UN INTERFEROMETRO QUE INCLUYE UN DIVISOR DE HAZ PARA DIVIDIR UNA FUENTE DE HAZ EN UN HAZ DE PRUEBA Y UNO DE REFERENCIA; UN DISPOSITIVO DE REPRODUCCION DE IMAGENES PARA DETECTAR UNA PAUTA DE INTERFERENCIAS; UN ESPEJO DISPUESTO EN EL CURSO DEL HAZ DE PRUEBA PARA EL REFLEJO DEL MISMO HACIA EL DISPOSITIVO DE REPRODUCCION DE IMAGENES; UN MICRO-ESPEJO DISPUESTO EN UN CURSO DEL HAZ DE REFERENCIA PARA EL REFLEJO DE UNA PARTE DEL MISMO HACIA EL DISPOSITIVO DE REPRODUCCION DE IMAGENES, Y UN MECANISMO DE ENFOQUE DISPUESTO PARA ENFOCAR EL HAZ DE REFERENCIA SOBRE EL MICRO-ESPEJO. EL MICRO-ESPEJO POSEE UNA DIMENSION LATERAL…

DISPOSITIVO DE MEDICION INTERFEROMETRICO.

(01/02/1998). Solicitante/s: MERLIN GERIN. Inventor/es: KEVORKIAN, ANTOINE, DUPORT-SCHANEN, ISABELLE, BENECH, PIERRE.

DOS HACES DE ENTRADA DEL DISPOSITIVO DE MEDICION INTERFERROMETRICA, REALIZADO CON TECNOLOGIA DE OPTICA INTEGRADA, SE ENSANCHAN DE MANERA A FORMA DOS HACES PLANOS EXTENDIDOS QUE CREANDO UNA FIGURA DE INTERFERENCIA . DOS DETECTORES PROPORCIONAN DOS SEÑALES DE MEDICION, PREFERENTEMENTE EN CUADRATURA DE FASE, REPRESENTATIVOS DE DOS PUNTOS DEL PLANO DE INTERFERENCIA.

DISPOSITIVO INTERFEROMETRICO Y METODO PARA MEDIR Y PARA ESTABILIZAR LA LONGITUD DE ONDA DE DIODO LASER.

(16/11/1997). Ver ilustración. Solicitante/s: FAGOR, S.COOP. LTDA.,. Inventor/es: MORLANES CALVO,TOMAS.

DISPOSITIVO INTERFEROMETRICO Y METODO PARA MEDIR Y PARA ESTABILIZAR LA LONGITUD DE ONDA DE DIODO LASER. EL DISPOSITIVO SE ACOPLA A CUALQUIER SISTEMA OPTICO DONDE SE REQUIERA DISPONER DEL VALOR REAL DE LA LONGITUD DE ONDA, Y COMPRENDE UN ELEMENTO OPTICO UNICO QUE SE INTERPONE DIRECTAMENTE EN EL CAMINO DEL HAZ LASER OBTENIENDO DOS HACES CUYA DIFERENCIA DE CAMINO RECORRIDO ES CONSTANTE PORQUE ESTA LIMITADA AL INTERIOR DEL ELEMENTO ; LA INTENSIDAD LUMINOSA DEL CAMPO INTERFERENCIAL ES LA UNICA VARIABLE EN EL CALCULO DE LA LONGITUD DE ONDA. SE APLICA EL DISPOSITIVO PREFERENTEMENTE EN INTERFEROMETROS DE MAQUINA HERRAMIENTA QUE MIDEN DESPLAZAMIENTOS LONGITUDINALES.

INTERFEROMETRO POLARIZADO CON FILTRO DE BANDA ESTRECHA.

(01/07/1995) LA INVENCION TRATA DE UN INTERFEROMETRO POLARIZADO Y QUE TIENE UN COLIMADOR PARA LA FORMACION DE UN RAYO DE LUZ POLICROMADO Y PARALELO. TAMBIEN DISPONE DE UN PRIMER ELEMENTO POLARIZADO EN SUS EXTREMOS, EL CUAL POLARIZA AL RAYO DE LUZ PARALELO. TAMBIEN DISPONE DE UN ELEMENTO BIRREFRINGENTE, EL CUAL ESTA DE FORMA VERTICAL HACIA EL RAYO DE LUZ POLARIZADO Y PARALELO. CONSTA ADEMAS DE UN SEGUNDO ELEMENTO POLARIZADO EN SUS EXTREMOS FINALES, EL CUAL POLARIZA LA LUZ SALIENTE DEL ELEMENTO BIRREFRINGENTE Y DE UN DETECTOR DE FOTONES, DONDE EL ELEMENTO BIRREFRINGENTE ESTA COLOCADO DE FORMA OPUESTA Y DESPLAZABLE Y CONSTA DE DOS SUPERFICIES LATERALES Y LONGITUDINALES OPUESTAS ENTRE SI, FORMANDO CUÑAS OPTICAS QUE SE UNEN EN UN RECTANGULO Y DE UNA PLACA DE CARAS PARALELAS BIRREFRINGENTES QUE…

INTERFEROMETRO POLARIZADOR.

(01/12/1994). Solicitante/s: BUHLER AG BRAN + LUBBE GMBH. Inventor/es: WAGNER, HEINZ, LABHART, MARTIN, GLAUS, ULRICH.

UN INTERFEROMETRO POLARIZADOR COMPRENDE UNA FUENTE DE LUZ , UN COLIMADOR , UN PRIMER ELEMENTO DE POLARIZACION , UN SISTEMA DE ELEMENTOS DE DOBLE REFRACCION Y UN SEGUNDO ELEMENTO DE POLARIZACION, QUE POLARIZA LA LUZ QUE EMERGE DEL ELEMENTO DE DOBLE REFRACCION Y LA CONDUCE HACIA UN DETECTOR DE FOTONES . EL ELEMENTO DE DOBLE REFRACCION CONSISTE EN DOS CUÑAS OPTICAS QUE, JUNTAS, CONFORMAN UN PARALELEPIPEDO RECTO Y QUE ESTAN COLOCADAS DE TAL MODO QUE SE DESLIZAN UNA CONTRA OTRA A LO LARGO DE SUPERFICIES LATERALES CONTRAPUESTAS, Y EN UNA PLACA DE DOBLE REFRACCION CON CARAS PARALELAS QUE ACTUA COMO COMPENSADOR. EL EJE OPTICO DEL COMPENSADOR FORMA UN ANGULO FINITO CON LOS ANGULOS DE LAS DOS CUÑAS . LOS EJES OPTICOS DE LOS DOS POLARIZADORES SE ENCUENTRAN RECIPROCAMENTE PERPENDICULARES O PARALELOS Y NO ESTAN ALINEADOS PARALELAMENTE A LOS EJES DE LAS DOS CUÑAS DEL ELEMENTO DE DOBLE REFRACCION.

‹‹ · · 3 · ››
Utilizamos cookies para mejorar nuestros servicios y mostrarle publicidad relevante. Si continua navegando, consideramos que acepta su uso. Puede obtener más información aquí. .