(16/08/2006). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA. Inventor/es: LAGUARTA BERTRAN,FERRAN, ARTIGAS PURSALS,ROGER, CADEVALL ARTIGUES,CRISTINA.

Comprende una fuente de luz (LED), unos divisores de haz (por lo menos uno es polarizante), y medios de generación de patrones de iluminación (microvisualizador LCOS) y objetivos microscópicos intercambiables que son objetivos convencionales con los que se pueden obtener imágenes confocales y objetivos interferométricos con los que se pueden obtener imágenes interferométricas. El microvisua1izador puede generar una secuencia de patrones de iluminación para obtener imágenes confocales o una apertura total de todos los píxeles de iluminación para obtener imágenes interferométricas. Presenta un diseño compacto que permite la medida rápida y sin contacto de la forma y la textura de todo tipo de superficies a escala micro y nanométrica, incluso en muestras estructuradas o estratificadas que contienen materiales diferentes.

(16/12/2005). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSITY COLLEGE LONDON. Inventor/es: BEARD, PAUL, MILLS, TIMOTHY NOEL, DELPY, DAVID.

Un procedimiento para formar una película de interferómetro para un sensor de interferómetro que comprende la etapa de formar una capa de polímero de espesor sustancialmente uniforme directamente sobre un sustrato de interferómetro, la capa forma la película de interferometría, en el que la capa de polímero se deposita mediante la polimerización de un gas de partículas de monómero entre las que se incluyen un para-xilileno.

(16/04/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: NORTHROP GRUMMAN CORPORATION. Inventor/es: HAAS, EDWIN, G., HILGEMAN, THEODORE, W., RYAN, ROBERT, E.

UN INTERFEROMETRO COMPRENDE UNA BASE PARA FORMAR UNA PARTE INTERIOR Y UNOS MIEMBROS OPTICOS PRIMERO Y SEGUNDO (14 Y 16) SITUADOS EN EL INTERIOR DE LA BASE. EL INTERFEROMETRO COMPRENDE ADEMAS UN PRIMER ENSAMBLAJE RETENEDOR QUE CONECTA EL PRIMER MIEMBRO OPTICO A LA BASE, UNOS MEDIOS DE TRASLACION PARA MOVER EL SEGUNDO MIEMBRO OPTICO CON RELACION AL PRIMER MIEMBRO OPTICO Y VARIAR LA DISTANCIA ENTRE EL PRIMER Y SEGUNDO MIEMBRO OPTICO Y UN SEGUNDO ENSAMBLAJE RETENEDOR QUE CONECTA EL SEGUNDO MIEMBRO OPTICO AL MEDIO DE TRASLACION . LA CONFIGURACION Y DISEÑO MECANICOS PREFERIDOS QUE CARACTERIZAN EL INTERFEROMETRO PRODUCEN UN INSTRUMENTO MUY DURADERO QUE PUEDE RAPIDAMENTE EXPLORAR Y FILTRAR CON PRECISION LA LUZ A TRAVES DE UNA AMPLIA ANCHURA DE BANDA. EL PRESENTE INSTRUMENTO DISEÑADO DE FORMA SINGULAR COMBINA UNA CONMUTACION A ALTA VELOCIDAD, UNA ALTA RESOLUCION, UNA AMPLIA ANCHURA DE BANDA Y CAPACIDADES DE AMORTIGUACION AJUSTABLES EN UN INSTRUMENTO DE VUELO UTIL Y DURADERO.

(01/04/2004). Solicitante/s: ROBERT BOSCH GMBH. Inventor/es: STEINLECHNER, SIEGBERT.

La invención se refiere a la circuitería para procesar una señal de referencia (A) que se produce en un interferómetro heterodino y una señal de medida (B). La señal de modulación de frecuencia básica de la fuente de radiación del interferómetro heterodino conduce a cambios de fase en ambas señales (A,B). El filtrado de la señal de ambas señales, la señal de referencia (A) y la señal de medida (B) con una señal de puerta (C) corta los segmentos de la señal de ambas señales (A,B) mostrando el mismo signo de la fase. La simplificación adicional del procesado de señal ocurre a través de la interpolación de señal que involucra filtros paso banda y mediante la mezcla inferior de las señales a un intervalo de frecuencia más bajo dentro de la frecuencia heterodina (Fh). Las señales de entrada (L,N) facilitadas por la circuitería inventiva puede procesarse por un indicador de fase convencional.

(16/02/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: EUROPEAN COMMUNITY. Inventor/es: LUCIA, ALFREDO CARLO, FACCHINI, MASSIMO.

PARA MEJORAR EL CONTRASTE DE IMAGENES OBTENIDAS CON EL USO DE LA TECNICA ESPI DE ADICION DE IMAGENES PULSATILES, Y EN RELACION CON UN OBJETO SOMETIDOS A ESFUERZOS MECANICOS, SE REALIZA UN CICLO PRELIMINAR DE MEDICION, CON EL OBJETO DE OBTENER, EN ESTADO NO SOLICITADO, UN NUMERO PREESTABLECIDO DE IMAGENES DE INTERFERENCIA QUE DIFIEREN ENTRE SI POR UN DESPLAZAMIENTO DE FASE CONTROLADO DE UNA FRACCION DE LOS IMPULSOS QUE SE DESPLAZAN A LO LARGO DE UNO DE LOS BRAZOS DEL INTERFEROMETRO; SE CALCULA UN VALOR MEDIO DE LA INTENSIDAD LUMINOSA A PARTIR DE LAS IMAGENES DE INTERFERENCIA, SE MEMORIZA Y SE RESTA DE CADA UNA DE LAS IMAGENES DE INTERFERENCIA OBTENIDAS DURANTE EL CICLO REAL DE MEDICION, A FIN DE MEJORAR EL CONTRASTE DE LAS IMAGENES.

(16/12/2003). Ver ilustración. Solicitante/s: DITTO, THOMAS D. LYON, DOUGLAS A. Inventor/es: DITTO, THOMAS D., LYON, DOUGLAS A.

SE DESCRIBE UN MEDIO PARA CONTRARESTAR LA REDUCCION DE PERSPECTIVA EN EL RECEPTOR DE UN TELEMETRO DE DIFRACCION UTILIZANDO UN RETICULO DE DIFRACCION DE PITIDOS. EN UN TELEMETRO DE DIFRACCION, UN RETICULO DE DIFRACCION CON VARIACIONES DE PASO DE MANERA QUE EL DESPLAZAMIENTO DE IMAGENES DE DIFRACCION DE ORDEN SUPERIOR EN UN RECEPTOR ESTAN SEPARADAS DE SU IMAGEN DE ORDEN 0 ASOCIADA EN UN DESPLAZAMIENTO ARBITRARIO CON RESPECTO A UNA DISTANCIA DE BLANCO O ARBITRARIA. SE DESCRIBE UN SISTEMA PARA MEDIR LA DISTANCIA DE UN BLANCO QUE COMPRENDE UN RETICULO DE PASO VARIABLE Y UN RECEPTOR DE LAS IMAGENES DE DIFRACCION FORMADAS POR EL RETICULO.

(01/11/2003). Ver ilustración. Solicitante/s: ROBERT BOSCH GMBH. Inventor/es: DRABAREK, PAWEL.

LA PRESENTE INVENCION SE REFIERE A UN PROCEDIMIENTO PARA MEDIR LAS POSICIONES Y CAMBIOS DE POSICION, ASI COMO LAS CANTIDADES FISICAS DERIVADAS DE DICHA MEDIDA, DE UN ELEMENTO QUE DEBE EXAMINARSE DE ACUERDO CON EL PROCEDIMIENTO DE LA INTERFEROMETRIA HETERODINA. PARA GENERAR LA FRECUENCIA HETERODINA, SE MODULA UN LASER POR MEDIO DE UNA CORRIENTE DE INYECCION CON VARIACION DE TIEMPO, DE MANERA QUE SE CAMBIE SU FRECUENCIA DE RADIACION, QUE SE DIRIJA LA DIRECCION HACIA EL ELEMENTO QUE DEBE EXAMINARSE, POR EL USO DE UNA DESVIACION OPTICA POR UN LADO Y SIN DESVIACION OPTICA POR EL OTRO, Y A CONTINUACION SE CAMBIE LA DIRECCION A UN RECEPTOR DE MEDICION. CON RELACION A UN OBJETO DE TAMAÑO PEQUEÑO, LOS VALORES MEDIDOS SE EVALUAN MEJOR SI LA FORMA DE LA SEÑAL DE CORRIENTE DE INYECCION SE CARACTERIZA POR UN BORDE EN SUBIDA EN FUERTE PENDIENTE, EN RELACION CON LA DURACION DE SU IMPULSO SEGUIDO POR UNA MESETA.

(01/11/2003). Solicitante/s: UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID. Inventor/es: BERNABEU MARTINEZ,EUSEBIO, ALONSO FERNANDEZ,JOSE, CANABAL BOUTUREIRA,HECTOR.

Aparato para caracterización óptica utilizando imágenes controladas automáticamente. Método de caracterización óptica que utiliza imágenes controladas automáticamente, que comprende un sistema que muestra imágenes, un sistema que capta dichas imágenes y un sistema que controla los dos anteriores y analiza la información de las imágenes captadas. El elemento óptico a examinar se coloca de forma tal que los rayos de luz procedentes del sistema formador de imagen atraviesen, o se reflejen, en el objeto a examinar. El análisis de la o las imágenes registradas permite obtener una o varias de las características ópticas del objeto examinado. El control de las imágenes utilizadas permite ajustar las características de la medida (rango, sensibilidad, velocidad, etc) de manera óptima según los requerimientos específicos.

(01/10/2003). Ver ilustración. Solicitante/s: NORTHROP GRUMMAN CORPORATION.

INTERFEROMETRO QUE COMPRENDE UNA BASE QUE FORMA UN INTERIOR Y UN PRIMER Y SEGUNDO ELEMENTOS OPTICOS (14 Y 16) SITUADOS EN EL INTERIOR DE LA BASE. EL INTERFEROMETRO COMPRENDE TAMBIEN UN PRIMER CONJUNTO DE RETEN QUE CONECTA EL PRIMER ELEMENTO OPTICO CON LA BASE, EL MEDIO DE TRANSLACION PARA MOVER EL SEGUNDO ELEMENTO OPTICO CON RESPECTO AL PRIMER ELEMENTO OPTICO , PARA VARIAR LA DISTANCIA ENTRE EL PRIMER Y EL SEGUNDO ELEMENTOS OPTICOS, Y UN SEGUNDO CONJUNTO DE RETEN QUE CONECTA EL SEGUNDO ELEMENTO OPTICO CON EL MEDIO DE TRANSLACION . LA CONFIGURACION MECANICA PREFERIDA Y LAS CARACTERISTICAS DE DISEÑO DEL INTERFEROMETRO PRODUCEN UN INSTRUMENTO MUY DURADERO QUE PUEDE ESCANEAR RAPIDAMENTE Y FILTRAR CON PRECISION LA LUZ A TRAVES DE UN ANCHO DE BANDA AMPLIO. ESTE INSTRUMENTO DE DISEÑO UNICO COMBINA LA CONMUTACION ULTRARRAPIDA, UNA ELEVADA RESOLUCION, UN AMPLIO ANCHO DE BANDA, Y CAPACIDADES DE AMORTIGUACION AJUSTABLES EN UN INSTRUMENTO CAPAZ, LIGERO Y DURADERO.

(16/04/2003). Solicitante/s: AIL SYSTEMS, INC. Inventor/es: WANG, CHUNG-TAO, DAVID, KAGANN, ROBERT, HOWARD.

UN ESPECTOMETRO POR INFRARROJOS QUE MEJORA UNA TRAYECTORIA ABIERTA DE LA TRANSFORMADA DE FOURIER (14A), QUE INCLUYE UN CIRCUITO O ALGORITMO QUE REALIZA UNA ALINEACION ESPECTRAL EN TIEMPO REAL DE LOS INTERFEROGRAMAS MEDIDOS PARA REDUCIR LOS ERRORES DE MEDIDA. DICHO ESPECTOMETRO MEJORA LAS MEDIDAS SELECCIONADAS DE LAS LINEAS DE VAPOR DE AGUA EN UNA TRAYECTORIA DE MEDICIONES Y COMPARA EL EJE DE DICHAS LINEAS DE VAPOR CON UNA BIBLIOTECA DE REFERENCIA.

(16/02/2002). Solicitante/s: BRITISH AEROSPACE PUBLIC LIMITED COMPANY. Inventor/es: SALTER, PHILLIP LANGLEY, PARKER, STEVE CARL JAMIESON.

UN APARATO OPTICO DE PRUEBAS NO DESTRUCTIVAS INCLUYE UN DISPOSITIVO INTERFEROMETRO MACH-ZEHNDER BIARMADO RECORTADO Y DOS MEDIOS DE REGISTRO SEPARADOS . CUATRO CAMBIOS DE FASE DESPLAZADOS LATERALMENTE QUE MARCAN LAS IMAGENES PATRON DE UN MATERIAL, SON RECOGIDAS ANTES DE PRESIONARLES Y CUATRO CAMBIOS DE FASE DESPLAZADOS LATERALMENTE QUE MARCAN LAS IMAGENES PATRON SON RECOGIDAS DESPUES DE PRESIONARLAS. EL CAMBIO DE FASE ES EFECTUADO POR MEDIO DE UN TRANSDUCTOR PIEZOELECTRICO MONTADO EN UN ESPEJO EL CUAL INCREMENTA LA LONGITUD DEL CAMINO DE UNO DE LOS BRAZOS DEL DISPOSITIVO . DE ESTA MANERA CUATRO IMAGENES SUCESIVAS SON GENERADAS Y GRABADAS SOBRE LOS MEDIOS DE REGISTRO SEPARADOS CON UN SIMPLE CAMBIO DE FASE. LAS CUATRO IMAGENES PATRON MARCADAS Y RECOGIDAS ANTES DE LA PRESION, SON UTILIZADAS PARA DERIVAR UN PERFIL DE FASE MARCADO COMO SON LAS CUATRO IMAGENES TOMADAS DESPUES DE LA PRESION Y DOS PERFILES DE FASE MARCADOS SON DIFERENCIADOS PARA REVELAR LOS DEFECTOS DEL MATERIAL.

(16/05/2000). Solicitante/s: CARL ZEISS JENA GMBH. Inventor/es: BECHSTEIN, KARL-HEINZ, MOLLER, BEATE, SALEWSKI, KLAUS-DIETER, DR.

LA INVENCION SE REFIERE A UN INTERFEROMETRO DE INTERFERENCIA CON LONGITUDES DE ONDA VARIABLES, CON UN DISTRIBUIDOR DE INTERFEROMETRO, CON UNA VIA (R) DE RADIACION DE DIFERENCIA Y CON UNA VIA (M) DE RADIACION DE MEDICION PLEGADA QUE DISCURRE ENTRE DOS ESPEJOS PLANOS. UN ELEMENTO QUE MANTIENE LA DISTANCIA ESTA PREVISTO PARA LA REALIZACION DE UNA SITUACION OPUESTA FIJA DE LOS ESPEJOS PLANOS. AMBOS ESPEJOS PLANOS ESTAN DISPUESTOS DE FORMA INCLINADA UNO CON RESPECTO A OTRO, DE TAL MODO QUE A PARTIR DE UN DISTRIBUIDOR DE INTERFEROMETRO SE REFLEJA UN RAYO DE LUZ ACOPLADO QUE LLEGA EN UN LUGAR O DE ENTRADA EN EL ESPACIO ENTRE LOS ESPEJOS PLANOS, EFECTUANDOSE LA REFLEXION MULTIPLES VECES, CON LO CUAL LOS LUGARES DE REFLEXION DESCANSAN SOBRE LAS SUPERFICIES REFLECTORAS DE LOS ESPEJOS PLANOS SOBRE UNA PARABOLA. EL SEGUNDO ESPEJO PLANO ESTA COORDINADO CON UN RETRORREFLECTOR DE TAL MODO, QUE SE GUIA CONJUNTAMENTE CON EL RAYO DE LUZ QUE APARECE HACIA EL LUGAR O DE ENTRADA O AL MENOS EN SU PROXIMIDAD.

(01/02/1998). Solicitante/s: MERLIN GERIN. Inventor/es: KEVORKIAN, ANTOINE, DUPORT-SCHANEN, ISABELLE, BENECH, PIERRE.

DOS HACES DE ENTRADA DEL DISPOSITIVO DE MEDICION INTERFERROMETRICA, REALIZADO CON TECNOLOGIA DE OPTICA INTEGRADA, SE ENSANCHAN DE MANERA A FORMA DOS HACES PLANOS EXTENDIDOS QUE CREANDO UNA FIGURA DE INTERFERENCIA . DOS DETECTORES PROPORCIONAN DOS SEÑALES DE MEDICION, PREFERENTEMENTE EN CUADRATURA DE FASE, REPRESENTATIVOS DE DOS PUNTOS DEL PLANO DE INTERFERENCIA.

(16/11/1997). Ver ilustración. Solicitante/s: FAGOR, S.COOP. LTDA.,. Inventor/es: MORLANES CALVO,TOMAS.

DISPOSITIVO INTERFEROMETRICO Y METODO PARA MEDIR Y PARA ESTABILIZAR LA LONGITUD DE ONDA DE DIODO LASER. EL DISPOSITIVO SE ACOPLA A CUALQUIER SISTEMA OPTICO DONDE SE REQUIERA DISPONER DEL VALOR REAL DE LA LONGITUD DE ONDA, Y COMPRENDE UN ELEMENTO OPTICO UNICO QUE SE INTERPONE DIRECTAMENTE EN EL CAMINO DEL HAZ LASER OBTENIENDO DOS HACES CUYA DIFERENCIA DE CAMINO RECORRIDO ES CONSTANTE PORQUE ESTA LIMITADA AL INTERIOR DEL ELEMENTO ; LA INTENSIDAD LUMINOSA DEL CAMPO INTERFERENCIAL ES LA UNICA VARIABLE EN EL CALCULO DE LA LONGITUD DE ONDA. SE APLICA EL DISPOSITIVO PREFERENTEMENTE EN INTERFEROMETROS DE MAQUINA HERRAMIENTA QUE MIDEN DESPLAZAMIENTOS LONGITUDINALES.

(01/12/1994). Solicitante/s: BUHLER AG BRAN + LUBBE GMBH. Inventor/es: WAGNER, HEINZ, LABHART, MARTIN, GLAUS, ULRICH.

UN INTERFEROMETRO POLARIZADOR COMPRENDE UNA FUENTE DE LUZ , UN COLIMADOR , UN PRIMER ELEMENTO DE POLARIZACION , UN SISTEMA DE ELEMENTOS DE DOBLE REFRACCION Y UN SEGUNDO ELEMENTO DE POLARIZACION, QUE POLARIZA LA LUZ QUE EMERGE DEL ELEMENTO DE DOBLE REFRACCION Y LA CONDUCE HACIA UN DETECTOR DE FOTONES . EL ELEMENTO DE DOBLE REFRACCION CONSISTE EN DOS CUÑAS OPTICAS QUE, JUNTAS, CONFORMAN UN PARALELEPIPEDO RECTO Y QUE ESTAN COLOCADAS DE TAL MODO QUE SE DESLIZAN UNA CONTRA OTRA A LO LARGO DE SUPERFICIES LATERALES CONTRAPUESTAS, Y EN UNA PLACA DE DOBLE REFRACCION CON CARAS PARALELAS QUE ACTUA COMO COMPENSADOR. EL EJE OPTICO DEL COMPENSADOR FORMA UN ANGULO FINITO CON LOS ANGULOS DE LAS DOS CUÑAS . LOS EJES OPTICOS DE LOS DOS POLARIZADORES SE ENCUENTRAN RECIPROCAMENTE PERPENDICULARES O PARALELOS Y NO ESTAN ALINEADOS PARALELAMENTE A LOS EJES DE LAS DOS CUÑAS DEL ELEMENTO DE DOBLE REFRACCION.