CIP-2021 : G01Q 60/42 : Funcionalización.
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01Q TECNICAS O APARATOS DE SONDA DE BARRIDO; APLICACIONES DE TECNICAS DE SONDA DE BARRIDO, p. ej. MICROSCOPIA POR SONDA DE BARRIDO [SMP].
G01Q 60/00 Tipos particulares de microscopía por sonda de barrido [SPM] o aparatos empleados; Componentes esenciales al efecto.
G01Q 60/42 · · · Funcionalización.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
MÉTODO PARA OBTENER PUNTAS SENSORAS DE MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA FUNCIONALIZADAS MEDIANTE SILANIZACIÓN POR VAPOR ACTIVADO, Y LAS PUNTAS OBTENIDAS POR DICHO MÉTODO.
(30/01/2020). Solicitante/s: UNIVERSIDAD POLITECNICA DE MADRID. Inventor/es: PEREZ RIGUEIRO,Jose, GUINEA TORTUERO,Gustavo Victor, DAZA GARCIA,Rafael, COLCHERO PAETZ,Luis.
Un método para obtener una punta sensora de microscopia de fuerza atómica funcionalizada, caracterizado porque la funcionalización tiene lugar mediante un proceso de silanización por vapor activado que comprende: a) evaporar un compuesto organometálico que contiene al menos un átomo de silicio y al menos un grupo funcional seleccionado entre amino, hidroxilo, carboxilo y sulfidrilo; b) activar el vapor del compuesto organometálico de la etapa a) mediante calentamiento; y c) hacer incidir el vapor activado dela etapa b) en una punta sensora para microscopia de fuerza atómica para depositar una lámina del compuesto organometálico sobre dicha punta sensora; donde las etapas b) y c) tienen lugar de forma consecutiva. Así como la punta sensora funcionalizada obtenida por dicho método.
MÉTODO PARA OBTENER PUNTAS SENSORAS DE MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA FUNCIONALIZADAS MEDIANTE SILANIZACIÓN POR VAPOR ACTIVADO, Y LAS PUNTAS OBTENIDAS POR DICHO MÉTODO.
(04/10/2018). Solicitante/s: UNIVERSIDAD POLITECNICA DE MADRID. Inventor/es: PEREZ RIGUEIRO,Jose, GUINEA TORTUERO,Gustavo Victor, DAZA GARCIA,Rafael, COLCHERO PAETZ,Luis.
Método para obtener puntas sensoras de microscopia de fuerza atómica funcionalizadas mediante silanización por vapor activado,y las puntas obtenidas por dicho método.
Un método para obtener una punta sensora de microscopia de fuerza atómica funcionalizada, caracterizado porque la funcionalización tiene lugar mediante un proceso de silanización por vapor activado que comprende: a) evaporar un compuesto organometálico que contiene al menos un átomo de silicio y al menos un grupo funcional seleccionado entre amino, hidroxilo, carboxilo y sulfidrilo; b) activar el vapor del compuesto organometálico de la etapa a) mediante calentamiento; y c) hacer incidir el vapor activado de la etapa b) en una punta sensora para microscopia de fuerza atómica para depositar una lámina del compuesto organometálico sobre dicha punta sensora; donde las etapas b) y c) tienen lugar de forma consecutiva. Así como la punta sensora funcional izada obtenida por dicho método.
PDF original: ES-2684851_A1.pdf
Método de imagenología y uso del mismo.
(08/10/2014) Método para determinar y cuantificar los elementos topográficos de superficies biológicas usando los datos recibidos por microscopía de fuerza atómica, que comprende las etapas de
a. Preparar, in vitro, una sola célula, monocapa celular o sección de tejido;
b. Predefinir una máscara en el plano xy para estructuras subcelulares de dicha célula única, monocapa celular o sección de tejido;
c. Determinar el volumen de desviación local (LDV) de dichas estructuras subcelulares en dicha máscara predefinida en el plano xy, en donde el volumen de desviación local se define como una excursión a nanoescala en la dirección z sobre dicha máscara predefinida en el plano xy, en donde se evalúa el volumen local…
MODIFICACIÓN DE PUNTAS DE MICROSCOPÍA DE FUERZAS ATÓMICAS MEDIANTE DEPÓSITO DE NANOPARTÍCULAS CON UNA FUENTE DE AGREGADOS.
(15/10/2012) Modificación de puntas de Microscopía de Fuerzas Atómicas mediante depósito de nanopartículas con una fuente de agregados.
La presente invención se refiere a un procedimiento para recubrir puntas de AFM (Atomic Force Microscopy, microscopio de fuerzas atómicas) mediante el depósito de un material en forma de nanopartículas con una fuente de agregados.