CIP-2021 : G01R 31/316 : Ensayos de circuitos analógicos.
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12).
G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46).
G01R 31/316 · · Ensayos de circuitos analógicos.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
PROCEDIMIENTO PARA LA ESTIMACIÓN DE CARACTERÍSTICAS ELÉCTRICAS DE UN CIRCUITO ANALÓGICO MEDIANTE LA MEDICIÓN EN CONTINUA DE TEMPERATURA.
(26/07/2013) Procedimiento para la estimación de características eléctricas de un circuito analógico mediante la medición en continua de temperatura.
La presente invención describe un procedimiento para la estimación de características eléctricas de circuitos analógicos integrados en un cristal semiconductor mediante la medición en continua de la temperatura. La fig. 1 muestra un cristal semiconductor que puede contener diferentes circuitos analógicos . Por ejemplo, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación del presente procedimiento, la figura muestra un amplificador. Este amplificador dispone de entradas de señal y entradas de la tensión de alimentación . La polarización del circuito en continua aplicando una tensión…
PROCEDIMIENTO PARA LA ESTIMACIÓN DE CARACTERÍSTICAS ELÉCTRICAS DE UN CIRCUITO ANALÓGICO MEDIANTE LA MEDICIÓN EN CONTINUA DE TEMPERATURA.
(27/06/2013) La presente invención describe un procedimiento para la estimación de características eléctricas de circuitos analógicos integrados en un cristal semiconductor mediante la medición en continua de la temperatura. La Fig. 1 muestra un cristal semiconductor que puede contener diferentes circuitos analógicos . Por ejemplo, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación del presente procedimiento, la figura muestra un amplificador. Este amplificador dispone de entradas de señal y entradas de la tensión de alimentación . La polarización del circuito en continua aplicando una tensión a las entradas de alimentación , sin aplicar señal a las entradas , provoca que los dispositivos que forman el amplificador disipen potencia. Mediciones del incremento de…
METODO DE UTILIZACION PERMANENTE DE UN MATERIAL SEGUN UN EJE Z.
(01/06/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: W.L. GORE & ASSOCIATES, INC.. Inventor/es: BUDNAITIS, JOHN J., LEONG, JIMMY.
LA PRESENTE INVENCION ESTA RELACIONADA CON UN SISTEMA Y UN METODO PARA REALIZAR EL EXAMEN DE FIABILIDAD DE LOS DISCOS DE SEMICONDUCTORES, Y PARTICULARMENTE, UN APARATO DE FRITADO MUY PLANO Y UN METODO PARA USARLO EN EL FRITADO NIVELADO DE DISCOS (WLBI), EL FRITADO DE MATRICES CUADRICULADAS (DDBI) Y EL FRITADO DE MATRICES EMPAQUETADAS (PDBI). EL SISTEMA DE FRITADO SE COMPONE DE UN SUSTRATO DE FRITADO DE BASE PLANA, UN MIEMBRO CONECTOR EN EL EJE Z TEMPORAL Y UNA HOJA DE CONTACTO NIVELADO DE DISCOS EN EL EJE Z CONECTADA ELECTRICAMENTE A OTRA PARA EXAMINAR DISCOS, MATRICES CUADRICULADAS, Y COMPONENTES ELECTRONICOS EMPAQUETADOS, SU MONTAJE Y USO.
MANIPULADOR DE PRUEBAS DE IC.
(16/04/2000) ESTA INVENCION SE RELACIONA CON UN MANIPULADOR DE PRUEBA DE IC CON UNA CAMARA DE TEMPERATURA CONSTANTE QUE COMPRENDE SEIS PORTADORES DE IC PLANETARIOS , UN MECANISMO DE MONTAJE DE LOS PORTADORES PLANETARIOS Y UN MECANISMO DE ARRASTRE DE ROTACION PERMANENTE PARA ROTAR INTERMITENTEMENTE EL MECANISMO . CADA PORTADOR DE IC PLANETARIO TIENE CUATRO SUPERFICIES (S) DE ROTACION SIMETRICA CON RESPECTO A UN EJE (71A) DEL PLANETA, ACTUANDO LAS CUATRO SUPERFICIES (S) CONO UNAS PARTES DE SOPORTE DE IC. LOS PORTADORES DE IC PLANETARIOS ESTAN COLOCADOS EN UN SISTEMA ANULAR SOBRE EL MECANISMO DE MONTAJE DEL PORTADOR PLANETARIO QUE PUEDE ROTAR ALREDEDOR DE UN EJE (72A) DE UN SOL. LOS SEIS PORTADORES DE IC DE LOS…
METODO DE PRUEBA DE CIRCUITO.
(16/10/1997). Solicitante/s: SCHLUMBERGER TECHNOLOGIES LIMITED. Inventor/es: MCKEON, ALICE, ROGEL-FAVILA, BENJAMIN, WAKELING, ANTONY.
LA INVENCION ACTUAL SE REFIERE AL METODO PARA PROBAR CIRCUITOS DIGITALES O ANALOGICOS. SI SE DETECTA UN FALLO DESPUES DE QUE SE HAYA APLICADO UN ESTIMULO, Y SE REALIZAN MEDICIONES DE PRUEBA EN ALGUNOS NUDOS DE CIRCUITOS , SE TOMARAN MEDIDAS PARA LOCALIZAR LOS COMPONENTES DEL CIRCUITO DEFECTUOSOS. SE SELECCIONA AL MENOS OTRO NUDO POSTERIOR, PARA MEDIRLO EN BASE A LOS NIVELES DE INFORMACION QUE DICHOS NUDOS PODRAN PROPORCIONAR. MEDICIONES POSTERIORES AYUDAN A LOCALIZACIONES DEFECTUOSAS. LOS NIVELES DE INFORMACION DE LOS CIRCUITOS ANALOGICOS SE DETERMINAN CALCULANDO LOS FACTORES DE DISCRIMINACION QUE DEPENDEN DE GAMAS DE TENSION POSIBLES EN NUDOS DE CIRCUITOS INMESURABLES SI SE CONSIDERA A VARIOS COMPONENTES COMO DEFECTUOSOS. LA INFORMACION GANADA MEDIANTE LA MEDIDA EN UN NUDO POSTERIOR SE UTILIZA PARA REDUCIR LAS GAMAS DE TENSION A FIN DE AYUDAR A SELECCIONAR OTRO NUDO PARA MEDIR.
