(01/01/2003). Solicitante/s: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Inventor/es: BENKE, HARALD-PETER, HORBACH, ROBERT, KUTZER, HEINZ.

Aparato para la comprobación de un dispositivo eléctrico de impulsión, y/o un dispositivo mecánico asociado con el dispositivo de impulsión que consiste, en particular, en un instrumento o bien en un elemento de accionamiento, en cuyo caso el dispositivo de impulsión y/o el dispositivo mecánico tienen una unidad asociada que tiene conexiones (C, U, L, I) y en cuyo caso el módulo de diagnóstico puede ser conectado a las conexiones (C, U, L, I), caracterizado porque un dispositivo de suministro de potencia queda dispuesto para el módulo de diagnóstico y puede ser activado con intermedio de, como mínimo, una de las conexiones (U1 a Un) a la unidad o con intermedio de una señal externa.

(16/12/2002). Solicitante/s: CIRCUIT LINE S.P.A. Inventor/es: NUCCI, FERNANDO.

UNA MAQUINA Y UN MONTAJE DE PRENSA RELATIVO PARA SOMETER ELECTRICAMENTE A PRUEBA A UNA TARJETA DE CIRCUITO IMPRESO, CONSTA DE UN ARMAZON QUE SOPORTA LA PRENSA CON PLANOS PARALELOS. DICHA PRENSA TIENE UNA ZONA DE CARGA DE CIRCUITO IMPRESO, UNA ZONA DE PRUEBAS Y UNA ZONA DE ESTACIONAMIENTO PARA LA CABEZA SUPERIOR DE LA PRENSA, TAMBIEN COMO ELEMENTOS PARA MOVER DICHA CABEZA DESDE LA ZONA DE PRUEBAS HASTA LA ZONA DE ESTACIONAMIENTO Y VICEVERSA, PARA PERMITIR UNA CARGA MANUAL DE LOS CIRCUITOS QUE VAN A SER SOMETIDOS A PRUEBA DIRECTAMENTE EN LA ZONA DE PRUEBAS Y ELEMENTOS PARA MOVER LAS TARJETAS DE CIRCUITO DESDE LA ZONA DE CARGA HASTA LA ZONA DE PRUEBAS Y VICEVERSA, EN EL CASO DE CARGA AUTOMATICA O SEMIAUTOMATICA, CREANDO DE ESTE MODO DOS SECCIONES DE TRABAJO DISTINTAS QUE PUEDEN SER USADAS SELECTIVAMENTE POR UN OPERADOR INDIVIDUAL.

(01/08/2002). Ver ilustración. Solicitante/s: CSELT CENTRO STUDI E LABORATORI TELECOMUNICAZIONI S.P.A.. Inventor/es: BELFORTE, PIERO, MAGGIONI, FLAVIO.

MODULO CONSTRUCTIVO DE UN EQUIPO ELECTRONICO DE COMUNICACION, ASOCIADO A MEDIOS QUE LO CONECTAN A UN SISTEMA DE ENSAYO Y DIAGNOSTICO. ESTOS MEDIOS PUEDEN CONECTARSE AL MENOS TEMPORALMENTE Y DE FORMA NO INVASIVA, Y COMPRENDEN: SONDAS DE ACCIONAMIENTO , IMPULSADAS POR SEÑALES DE CONTROL PROPORCIONADAS POR EL SISTEMA DE ENSAYO Y DIAGNOSTICO, PARA LA INSERCION AUTOM TICA Y PROGRAMADAS EN SEÑALES DE ENSAYOS EN PUNTOS PREDETERMINADOS DEL MODULO, Y SONDAS DE MONITORIZACION PARA RECIBIR DE LOS PUNTOS DE CONTROL Y TRANSFERIR AL SISTEMA DE ENSAYO Y DIAGNOSTICO SEÑALES EXISTENTES EN EL MODULO. LAS SONDAS VAN CONECTADAS AL SISTEMA DE ENSAYO Y DIAGNOSTICO POR MEDIO DE CABLES MICROCOAXIALES APANTALLADOS . UNOS DISPOSITIVOS DE ACONDICIONAMIENTO , ASOCIADOS A LOS CABLES , CONECTADOS A LAS SONDAS DE ACCIONAMIENTO PROPORCIONAN UN AISLAMIENTO GALV NICO ENTRE EL SISTEMA DE ENSAYO Y DIAGNOSTICO Y LOS MODULOS QUE SE PRUEBAN.

(01/04/2002). Ver ilustración. Solicitante/s: CSELT CENTRO STUDI E LABORATORI TELECOMUNICAZIONI S.P.A.. Inventor/es: BELFORTE, PIERO, MAGGIONI, FLAVIO.

LA SONDA CONSTA DE UN TRANSISTOR DEL QUE, CUANDO ESTA EN USO, EL COLECTOR Y EL EMISOR SE CONECTAN AL PUNTO DE INSERCION DE FALLOS (PI) Y A UN NIVEL DE SEÑAL DE REFERENCIA (M; (MAS MENOS) V CC , RESPECTIVAMENTE. LA INSERCION DE FAL LOS SE LLEVA A CABO PROVOCANDO LA CONDICION DE SATURACION DEL TRANSISTOR. LOS EFECTOS DEL ACOPLAMIENTO CAPACITIVO PARASITARIO ENTRE EL COLECTOR Y LA BASE DEL TRANSISTOR SE ELIMINAN COLOCANDO ENTRE LA BASE Y EL EMISOR UN CAPACITOR CUYA CAPACITANCIA ES SUSTANCIALMENTE SUPERIOR A LA DE DICHA CAPACITANCIA PARASITARIA. TAMBIEN SE PROPORCIONAN MEDIOS PARA LA SUPERVISION DE LA CORRIENTE ABSORBIDA EN CORRESPONDENCIA CON EL PUNTO DE INSERCION DE FALLOS.

(01/03/2002). Solicitante/s: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT PUNZMANN, HORST. Inventor/es: DIETL, FRANZ, PUNZMANN, HORST, FISCH, ALFONS, VOGEL, FRANK.

Dispositivo de diagnosis para el reconocimiento de conexiones falsas o interrupciones de la línea de un sensor inductivo que consta de una bobina arrollada alrededor de un núcleo magnético, cuya señal de salida es convertida en una señal digital de sensor (Vsalida) para el procesamiento posterior en un dispositivo de control o de regulación en una electrónica de evaluación , con un divisor de la tensión conectado entre las conexiones del sensor inductivo , al que se alimenta una tensión de referencia (Vref ) en su toma , a través de una resistencia (R), con un dispositivo de evaluación , en el que se acondiciona la señal de diagnosis (Vdiag) que se puede tomar en la toma y se compara la señal acondicionada con valores umbrales (S1, S2, S3, S3'), siendo reconocida una conexión errónea o una interrupción de la línea cuando se exceden o no se alcanzan dichos valores umbrales.

(01/09/2000). Solicitante/s: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Inventor/es: GNAN, GUNTHER, DIPL.-ING., KAISER, WOLFGANG, DIPL.-ING. , PREISS, FRANK, DIPL.-PHYS., SCHMUTZLER, WERNER.

LOS DISPOSITIVOS DE COMPROBACION PARA LA ELIMINACION DE PERTURBACIONES EN CONEXIONES DE ABONADOS, ERAN HASTA AHORA CALIBRADOS EN EL BANCO DE PRUEBAS, LO QUE SUPONIA UN COSTE EXCESIVO. DEBIDO AL PROCEDIMIENTO EN CUESTION, SEGUN LA INVENCION, ES FACTIBLE AHORA UN AUTO-CALIBRADO DEL DISPOSITIVO DE COMPROBACION DURANTE EL SERVICIO.

(01/11/1999). Solicitante/s: MAGNETI MARELLI S.P.A.. Inventor/es: SALERNO, FRANCO.

EL SISTEMA UTILIZA UN OSCILADOR (OSC) EL CUAL EN UNA FASE DE DIAGNOSTICO SE CONECTA ENTRE EL SENSOR (SENS) Y EL DETECTOR (RIV). LA FRECUENCIA DEL OSCILADOR (OSC) DEPENDE EN LA CAPACIDAD PRESENTE EN LA ENTRADA (IN), SI EL SENSOR (SENS) EN CONECTADO, LA FRECUENCIA CAE DENTRO DEL ANCHO DE BANDA DEL DETECTOR (RIV) Y POR LO TANTO EXISTE UNA SEÑAL DE SALIDA MAYOR QUE EL LIMITE DE DISCRIMINACION; SI EL SENSOR (SENS) ESTA SEPARADO, LA FRECUENCIA DEL OSCILADOR (OSC) SERA TAN ELEVADA COMO PARA SALIRSE DEL ANCHO DE BANDA DEL DETECTOR (RIV) Y POR LO TANTO HABRA UNA SEÑAL DE SALIDA (OUT) INFERIOR AL LIMITE DE DISCRIMINACION; EN EL CASO DE UN CIRCUITO SENSOR (SENS), EL OSCILADOR (OSC) ES BLOQUEADO, LO QUE TAMBIEN PERMITE UNA DISCRIMINACION DE ESTA CONDICION.

(16/06/1999). Solicitante/s: SIEBA AG. Inventor/es: RIESER, HANSJORG, STAUBLI, HERBERT, SCHMOKER, PETER, DR.

EL DISPOSITIVO SIRVE PARA LA COMPROBACION DE MODULOS ELECTRICOS (M). PARA ELLO ESTA PREVISTO POR LO MENOS UN RECIPIENTE (B) QUE PRESENTA ABERTURAS (OP), EN CADA UNA DE LAS CUALES SE PUEDE INTRODUCIR UN MODULO (M) DE TAL MODO QUE LA ABERTURA (OP) ES CERRADA POR LO MENOS APROXIMADAMENTE ESTANCA Y EL RECIPIENTE (B) POR LO MENOS TIENE UN ACCESO (ZG), QUE SE PUEDE UNIR CON LA SALIDA (AG) DE UN GRUPO (T/F-A), QUE ES APROPIADO PARA LA SALIDA DE UN MEDIO (M) DE TEMPERATURA Y/O CONTENIDO DE HUMEDAD SELECCIONABLES. EL DISPOSITIVO HACE POSIBLE LA COMPROBACION DEL FUNCIONAMIENTO DE LOS MODULOS (M) MIENTRAS SE VARIA EL GRADIENTE DE TEMPERATURA O SE DESARROLLAN OTRAS COMPROBACIONES.

(01/04/1999). Solicitante/s: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Inventor/es: LEWIS, DAVID ANDREW, FREIERMUTH, PETER EDWARD, GINN, KATHLEEN SCOTT, HALEY, JEFFREY ALAN, LAMAIRE, SUSAN JARVIS, MILLS, GAVIN TERENCE, REDMOND, TIMOTHY ALVIDATSANG, YUK LUN, VAN HORN, JOSEPH JOHN, VIEHBECK, ALFRED, WALKER, GEORGE FREDERICK, YANG, JER-MING, LONG, CLARENCE SANFORD.

SE DESCRIBEN METODOS MICROONDAS PARA COMBUSTIONAR, TENSIONAR ELECTRICA Y TERMICAMENTE Y REDUCIR LA CORRIENTE DE DISPERSION DE UNION RECTIFICADORA EN CHIPS SEMICONDCUTORES TOTALMENTE PROCESADOS Y AL NIVEL DE SECTORES, TAMBIEN COMO COMBUSTIADORES EN SUSTRATOS DE EMPAQUETADO DE CHIPS SEMICONDUCTORES TENSORES Y LA COMBINACION DE UN CHIP SEMICONDUCTOR MONTADO SOBRE UN SUSTRATO DE EMPAQUETADO DE CHIP SEMICONDUCTOR. LOS DISPOSITIVOS DE COMBUSTION MICROONDAS EN UN PERIODO DE TIEMPO SUSTANCIALMENTE MAS CORTO QUE LAS TECNICAS DE COMBUSTION CONVENCIONALES EVITAN LA NECESIDAD DE SOPORTES DE PIEZAS DE TRABAJO ESPECIALES QUE SE REQUERIAN PARA TECNICAS DE COMBUSTION Y TENSION CONVENCIONALES. ADICIONALMENTE LOS METODOS MICROONDAS REDUCEN LA CORRIENTE DE DISPERSION DE LAS UNIONES RECTIFICADORAS, TAL COMO LAS UNIONES PN Y UNIONES DE DIODO BARRERA SCOTTKY DE LOS DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES EN CHIPS SEMICONDUCTORES TOTALMENTE PROCESADOS Y SECTORES.

(01/08/1998). Solicitante/s: REITINGER, ERICH. Inventor/es: REITINGER, ERICH.

DISPOSICION PARA LA COMPROBACION DE GALLETAS DE SEMICONDUCTORES O SIMILARES. UNA DISPOSICION PARA LA COMPROBACION DE GALLETAS DE SEMICONDUCTORES O SIMILARES PRESENTA UNA MESA DE PRUEBA PARA EL ALOJAMIENTO DE LAS GALLETAS DE SEMICONDUCTORES O SIMILARES A COMPROBAR, ASI COMO UN SOPORTE PARA EL ALOJAMIENTO DE APOYOS DE SONDAS O SIMILARES; LA MESA DE PRUEBA ESTA DISPUESTA DENTRO DE UN RECEPTACULO, QUE ESTA CONFIGURADO ABIERTO HACIA ARRIBA; EL RECEPTACULO ESTA CUBIERTO POR UNA PLACA, QUE CONTIENE UN ORIFICIO PARA EL PASO DE LAS ONDAS O SIMILARES Y DENTRO DEL RECEPTACULO HAY PREVISTOS LOS ELEMENTOS DE SALIDA QUE ESTAN CONECTADOS A TRAVES DE UNA ACOMETIDA A UNA FUENTE PARA AIRE, GAS, O SIMILAR.

(16/04/1998). Solicitante/s: SOCIETE ANONYME DES ETS CATU. Inventor/es: BOUCHEZ, BERNARD, FOUGASSIES, JEAN-LOUIS, MONTEILLET, PHILIPPE.

EL APARATO DE CONTROL CONFORME A LA INVENCION TIENE, EN COMBINACION, ELEMENTOS DE CONEXION (P'1, P'2, T') ADECUADOS PARA SU RAMIFICACION SOBRE LOS CONTACTOS DE POLO Y TIERRA DEL ZOCALO DE UNA TOMA DE CORRIENTE, UN DISPOSITIVO INDICADOR DE FASE , ADECUADO PARA SITUAR GEOMETRICAMENTE LA FASE RESPECTO A LOS CONTACTOS DE POLO DE ESTE ZOCALO, Y UN DISPOSITIVO DE PRUEBA ADECUADO PARA ENVIAR UN IMPULSO DE DEFECTO SOBRE EL ELEMENTO DE CONEXION (P'1, P'2) CORRESPONDIENTE AL DE LOS CONTACTOS DE POLO DE ESTE ZOCALO EN EL QUE ESTA EL CONTACTO DE FASE. APLICACION AL CONTROL DE LA CAPACIDAD DE DESCONEXION DEL DISPOSITIVO DE PROTECCION DIFERENCIAL COLOCADO HACIA ARRIBA.

(01/10/1997). Solicitante/s: MINNESOTA MINING AND MANUFACTURING COMPANY. Inventor/es: CAMPBELL, JEFFREY D., GEARING, GRAHAM O.

UN DETECTOR (FIG. 1) PARA DETECTAR CASOS DE DESCARGA ELECTROSTATICA EN UN COMPONENTE ELECTRONICO , UN CONJUNTO O UN SISTEMA Y QUE INCLUYE UN ELEMENTO DE VISUALIZACION QUE PRODUCE UNA INDICACION INMEDIATA CUANDO SE EXPONE A UN CAMBIO EN EL NIVEL DE VOLTAJE, UN SENSOR DE DESCARGA ELECTROSTATICA , Y UN ELEMENTO DE CIRCUITO PARA CONECTAR EL SENSOR AL ELEMENTO DE VISUALIZACION . EN UNA REALIZACION (FIG 2), EL DETECTOR Y EL TABLERO, U OTRO DISPOSITIVO QUE SE VAYA A CONTROLAR , SE COLOCAN EN UN ALOJAMIENTO QUE TIENE UNA VENTANA DE ACCESO VISUAL CON EL ELEMENTO DE VISUALIZACION DEL DETECTOR VISIBLE A TRAVES DE LA VENTANA DE ACCESO Y CON EL DETECTOR COLOCADO EN EL DISPOSITIVO ELECTRONICO QUE SE ESTA CONTROLANDO.

(01/05/1997). Solicitante/s: ROBERT BOSCH GMBH. Inventor/es: HORBEL, MICHAEL, DIPL.-ING. , SEITEL, HANS, DIPL.-ING., HOENNINGER, HARALD, DIPL.-PHYS., PRUELLAGE, ARNO, DIPL.-ING.

SE PROPONE UN PROCEDIMIENTO Y UN DISPOSITIVO PARA LA COMPROBACION DE UNIDADES DE CONTROL QUE SIRVE PARA LA PRUEBA DE FUNCIONAMIENTO Y CALIDAD DE LAS UNIDADES DE CONTROL. EL PROCEDIMIENTO COMPRENDE UN CONTROL DE SUCESOS DE DIVERSOS PASOS DE COMPROBACION CON AYUDA DE SEÑALES DEFINIDAS DESDE Y HACIA EL DISPOSITIVO DE COMPROBACION, CON LO QUE SE REDUCE EL TIEMPO DE PRUEBA. ADEMAS, EL PROCEDIMIENTO COMPRENDE UNA COMPROBACION CON AYUDA DE SEÑALES RECTANGULARES APLICADAS A LA UNIDAD DE CONTROL QUE SON DETECTADAS POR DICHA UNIDAD Y QUE SE CEDEN AL DISPOSITIVO DE COMPROBACION CON LO QUE SE AUMENTA EL VOLUMEN DE COMPROBACION.

(01/05/1997). Solicitante/s: ITA INGENIEURBURO FUR TESTAUFGABEN GMBH. Inventor/es: BUKS, MANFRED.

PROCEDIMIENTO PARA COMPROBAR CIRCUITOS DE SEMICONDUCTORES INTEGRADOS SOLDADOS EN PLATINAS Y UTILIZACION DE UN COMPROBADOR DE TRANSISTORES PARA ESTE PROCEDIMIENTO. PROCEDIMIENTO PARA COMPROBAR LOS CIRCUITOS DE SEMICONDUCTORES INTEGRADOS Y SOLDADOS SOBRE PLATINAS DETERMINANDO LAS CORRIENTES QUE FLUYEN ENTRE LOS TERMINALES DE UN CIRCUITO DE SEMICONDUCTORES INTEGRADO AL APLICAR TENSION, EN EL QUE SE DETERMINAN LAS CARACTERISTICAS TIPICAS DE CONTROL O CONEXION DE UN TRANSISTOR PARASITARIO DEL CIRCUITO DE SEMICONDUCTORES INTEGRADOS CON UN COMPROBADOR DE TRANSISTORES CONTACTADO EN LA PLATINA CON LOS TERMINALES QUE CONDUCEN AL TRANSISTOR PARASITARIO DEL CIRCUITO DE SEMICONDUCTORES INTEGRADO.

(16/12/1996). Solicitante/s: LSI LOGIC CORPORATION. Inventor/es: ROSTOKER, MICHAEL D., DANGELO, CARLOS, KOFORD, JAMES.

UNAS SEÑALES (INCLUYENDO SONDAS) DE UN SISTEMA EXTERNO SON CONECTADAS SELECTIVAMENTE A UNA PLURALIDAD DE MATRICES NO SINGULADAS SOBRE UN SECTOR SEMICONDUCTOR CON UN MINIMO NUMERO DE CONEXIONES Y UN MECANISMO DE SELECCION ELECTRONICA ALOJADO EN EL SECTOR .EL MECANISMO SE CONECTA A LA MATRIZ INDIVIDUAL MEDIANTE LINEAS CONDUCTORAS SOBRE EL SECTOR . EL MECANISMO ES CAPAZ DE PROPORCIONAR LAS SEÑALES EXTERNAS ( O CONECTAR LAS SONDAS EXTERNAS) A UNA MATRIZ SIMPLE O GRUPOS DE LAS MATRICES , Y ELECTRONICAMENTE "CAMINAR A TRAVES " DE LA COMPLETA PLURALIDAD DE MATRICES . PUEDEN PROVEERSE TAMBIEN,LINEAS REDUNDANTES CONDUCTORAS ASI COMO DIODOS Y/O FUSIBLES EN UNION CON LAS MISMAS, PARA PROTEGERSE CONTRA VARIOS FALLOS QUE PUEDEN SUCEDER EN ESTAS. LOS MECANISMOS DE SELECCION ELECTRONICA REDUNDANTE PUEDEN ASEGURAR LA CAPACIDAD DE PROVEER SELECTIVAMENTE SEÑALES A LAS MATRICES.

(16/11/1996). Solicitante/s: ALCATEL MOBILE COMMUNICATION FRANCE. Inventor/es: REUSENS, PETER, DARTOIS, LUC, DULONGPONT, JACQUES.

LA PRESENTE INVENCION SE REFIERE A UN CIRCUITO INTEGRADO QUE COMPRENDE UNA CELULA ESTANDAR , UNA CELULA DE APLICACION Y UNA CELULA DE PRUEBA PREVISTA EN PARTICULAR PARA GRABAR O PARA MODIFICAR DESDE EL EXTERIOR DEL CIRCUITO INTEGRADO EL VALOR DE SEÑALES DE COMUNICACION QUE TRANSITAN ENTRE ESTA CELULA ESTANDAR Y ESTA CELULA DE APLICACION. LA CELULA ESTANDAR QUE EJECUTA INSTRUCCIONES PROPORCIONADAS SOBRE UN BUS DE INSTRUCCION (3B4) POR UNA MEMORIA DE PROGRAMA LOCALIZADA EN LA CELULA DE APLICACION EN RESPUESTA A UNA DIRECCION DE INSTRUCCION TRANSPORTADA POR UN BUS DE DIRECCION DE INSTRUCCION (3A4), CONSTITUYENDO LOS CONDUCTORES DE ESTOS BUSES ENLACES DE COMUNICACION, ESTA CELULA DE PRUEBA COMPRENDE MEDIOS DE DERIVACION PARA SUSTITUIR UNA INSTRUCCION AL MENOS DE LA MEMORIA DE PROGRAMA POR UNA INSTRUCCION ERRONEA DE SUSTITUCION PREVIAMENTE GRABADA EN EL CIRCUITO INTEGRADO EN RESPUESTA A UN ESTADO DETERMINADO DE AL MENOS CIERTOS ENLACES DE COMUNICACION.

(16/02/1996). Solicitante/s: AT&T CORP.. Inventor/es: JARWALA, NAJMI T., YAU, CHI W., RUTKOWSKI, PAUL W.

SE DIFUNDE UN METODO PARA GENERACION DE UNA SEÑAL DE CONTROL (TMS) QUE SE PUEDE USAR PARA CONTROLAR LA ACTIVIDAD DE PRUEBA DE UN SISTEMA DE EXPLORACION DE LIMITES . EL METODO SE INICIA CARGANDO UNA MACROINSTRUCCION DE CONTROL MULTI-BIT (STI,DTI O DSTI) EN UN REGISTRO CUYA SALIDA SE ACOPLA EN EL RETORNO A SU ENTRADA. DESPUES DE LA CARGA DE LA MACROINSTRUCCION, SE ADIVINA SU IDENTIDAD MEDIANTE UN CONTROLADOR MACRO QUE SIRVE PARA DECODIFICAR UNA SEÑAL MULTI-BIT (IT) CUYO ESTADO ES INDICATIVO DEL TIPO DE MACRO. EL CONTROLADOR MACRO ACTUA EL REGISTRO PARA DESPLAZAMIENTO DE LOS BIT DE CONTROL MACRO EN UNA SECUENCIA DEPENDIENTE DE LA IDENTIDAD DE LA MACRO AL OBJETO DE GENERAR LA SEÑAL DE CONTROL APROPIADA. SEGUN SE DESPLAZA CADA UNO DE LOS BIT, SE DESPLAZAN DE RETORNO DENTRO DEL REGISTRO, PARA PERMITIR QUE LA MISMA SECUENCIA DE BIT SE DESPLACE REPETIDAMENTE.

(16/12/1995). Ver ilustración. Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Inventor/es: LOZANO, M., CANE, C., PERELLO, C., GRACIA, I.

LA ESTRUCTURA DE TEST PARA LA CARACTERIZACION DEL LASTCH-UP EN CIRCUITOS CMOS EN UN DISPOSITIVO QUE PERMITE LA DETERMINACION EN LA SENSIBILIDAD DE DISTINTAS GEOMETRIAS Y PROCESOS TECNOLOGICOS AL FENOMENO INDESEADO CONOCIDO POR LATCH-UP. MEDIANTE LA COMBINACION DE UN DISPOSITICO P-N-P-N SENSIBLE, UNA CAPACIDAD CMOS Y UNA RESISTENCIA INTEGRADA SE CONSIGUE IMPLEMENTAR UN OSCILADOR ASTABLE CUYA SEÑAL DE SALIDA PERMITE OBTENER DIRECTAMENTE LOS PARAMETROS CARACTERISTICOS LATCH-UP SIMPLEMENTE VISUALIZANDOLA MEDIANTE UN OSCILOSCOPIO ANALOGICO O DIGITAL. LA ESTRUCTURA PUEDE IMPLEMENTARSE EN CUALQUIER TECNOLOGIA CMOS LSI O VLSI, POR SUPERPOSICION DE UN MINIMO DE NUEVE NIVELES DE MASCARA CON UN DISEÑO TIPICO COMO EL PRESENTADO. LA APLICACION ES DENTRO DEL MUNDO DE LA INDUSTRIA MICROELECTRONICA.

(01/07/1995). Solicitante/s: SEXTANT AVIONIQUE S.A.. Inventor/es: BOCQUET, BENOæT, HETYEI, JOSEPH, LANGLOIS, PATRICK.

UN CIRCUITO ELECTRONICO DETECTA LA PUESTA EN CIRCUITO ABIERTO DE AL MENOS UNO DE LOS DIODOS DE RECTIFICACION (31-36, 31'-36'), Y ACCIONA UNA ALARMA EN CASO DE DETECCION. PARA DETECTAR LA PUESTA EN CIRCUITO ABIERTO DE UNO DE LOS DIODOS, EL CIRCUITO ELECTRONICO DETECTA EL FRANQUEAMIENTO TEMPORAL DE UN UMBRAL BAJO (SB) POR LA TENSION (VC) EN LA SALIDA DEL RECTIFICADOR. LA INVENCION SE APLICA EN PARTICULAR A LOS TRANSFORMADORES-RECTIFICADORES DE GRAN POTENCIA EMBARCADOS A BORDO DE AERONAVES.

(01/05/1995). Solicitante/s: AT&T CORP.. Inventor/es: MORAN, JOSEPH MICHAEL, RUSSELL, THOMAS CUTLER.

UNOS DISPOSITIVOS ELECTRONICOS, COMO UN CIRCUITO INTEGRADO HIBRIDO QUE TIENE PUNTOS DE COMPROBACION SEPARADOS A MENOS DE 1250 (MU)M, SON EVALUADOS EFICAZMENTE UTILIZANDO UN PROCESO DE DOS SONDAS. EN ESTE PROCESO LAS SONDAS SON DESPLAZADAS ENTRE PUNTOS DE COMPROBACION MEDIANTE UN PATRON DE DESPLAZAMIENTO QUE REDUCE LA DISTANCIA DEL MOVIMIENTO CON TOTAL INDEPENDENCIA DE CUALQUIER ORDEN IMPUESTA POR LAS PROPIAS REDES O POR LAS COMPROBACIONES A HACER. ADEMAS, LA COMPROBACION SE HACE DE TAL FORMA QUE EL TIEMPO DE MOVIMIENTO ES EL FACTOR LIMITE.

(16/12/1994). Solicitante/s: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Inventor/es: ZIMMERMANN, WALTER.

UN SOPORTE DE MEDIDA, EN ESPECIAL PARA COMPONENTES DE MICROONDAS TAMBIEN DEBE SATISFACER LAS EXIGENCIAS DE PRECISION DE MEDIDA DE LOS COMPONENTES DE MICROONDAS MONTABLES CON DISPOSITIVOS AUTOMATICOS. EL SOPORTE POSEE UNA CORREDERA (6 A 9) PARA INTRODUCIR EL COMPONENTE A MEDIR EN EL SOPORTE Y PARA POSICIONAR Y CONTACTAR EL COMPONENTE EN EL SOPORTE.

(16/12/1993). Solicitante/s: HUGHES AIRCRAFT COMPANY. Inventor/es: DOAN, TAM D.

LA ADECUACION DE FILETES POR LA QUE UN CABLE ES SOLDADO A UNA PLATAFORMA EN UNA TABLA DE CIRCUITO IMPRESO ES EVALUADO POR PROVEER ILUMINACION DIFUSA DE ANGULO BAJO DESDE UNA LAMPARA FLUORESCENTE CIRCULAR Y OBSERVAR LA IMAGEN CON UNA CAMARA DE TELEVISION . LA INFORMACION DE LA IMAGEN ELECTRONICA ES DIGITALIZADA Y ANALIZADA PARA PRODUCIR UNA SEÑAL CORRESPONDIENTE A LA ADECUACION DE LOS FILETES Y ASI LA ADECUACION DE LA UNION DE SOLDADURA. LA INSPECCION AUTOMATICA ES REALIZADA Y LA SEÑAL PUEDE SER EMPLEADA PARA TRANSLADAR LA TABLA DE CABLEADO IMPRESO A ,UNA NUEVA POSICION PARA INSPECCION AUTOMATICA DE OTRA UNION DE SOLDADURA.

(16/11/1992). Solicitante/s: THOMSON COMPOSANTS MICROONDES. Inventor/es: GEFFROY, DOMINIQUE, BITOUNE, SYLVIANE, GROSSIER, FRANCOIS, LE CREFF, MAURICE, RALALA, GERARD.

LA INVENCION CONCIERNE A UN DISPOSITIVO QUE, FIJADO SOBRE UN APARATO DE MEDIDA, PERMITE TENER ACCESO A LOS BORNES DE UN COMPONENTE DE HIPERFRECUENCIA, PARA MEDIDA DE SUS PARAMETROS "S". A FIN DE CONSEGUIR UNIONES MAS CORTAS ENTRE LAS LINEAS DE ACCESO (4+7) DEL DISPOSITIVO Y LOS BORNES DE ENTRADA Y SALIDA DEL COMPONENTE A MEDIR, LA INVENCION PREVE QUE LOS DOS BLOQUES DE ACCESO QUE SOPORTAN LAS LINEAS DE ACCESO, SEAN REGULABLES EN POSICION, CON RESPECTO AL COMPONENTE A MEDIR, SEGUN DOS GRADOS DE LIBERTAD, EN DISTANCIA Y EN TRASLACION LATERAL. EL COMPONENTE A MEDIR, CUALQUIERA QUE SEA SU TIPO (PULGA, ENCAPSULADO, EN CIRCUITO HIBRIDO) ESTA SOPORTADO POR UN BLOQUE , INSERTADO ENTRE LOS DOS BLOQUES DE ACCESO , Y DE DIMENSIONES IGUALES A LAS DEL COMPONENTE . APLICACION A LA MEDIDA DE LOS PARAMETROS "S", DE RUIDO, DE POTENCIA, EN HIPERFRECUENCIAS.

(16/07/1992). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Inventor/es: LOZANO, M., CANE, C., FELIPO, J., NAVARRO, Z., TARRADES, J.

CAJA DE FARADAY PARA MESAS AUTOMATICAS DE PUNTAS PARA EL TEST ELECTRICO DE CIRCUITOS INTEGRADOS, CARACTERIZADA PORQUE SIENDO ACOPLABLE A LAS MESAS DE PUNTAS AUTOMATICAS Y SIGUIENDO SINCRONAMENTE EL MOVIMIENTO CON EL SOPORTE PORTA OBLEAS, ESTA CONSTITUIDA POR: A) UNA PARTE SUPERIOR FIJA CON UNA COMPUERTA DESLIZANTE PARA LA OBSERVACION DEL MICROSCOPIO. B) UNA PARTE INFERIOR MOVIL, QUE SIGUE LOS MOVIMIENTOS XY DEL PORTA-OBLEAS, Y REALIZA LOS MOVIMIENTOS EN EL EJE Z CON UNA AMPLITUD REGULABLE Y SINCRONAMENTE. C) UN PISTON NEUMATICO QUE ACTUA SOBRE UN SISTEMA DESLIZANTE Y PRODUCE EL MOVIMIENTO VERTICAL Z. ESTE PISTON ESTA MANDADO POR UNA ELECTROVALVULA. LA SEÑAL DE CONTROL DE LA ELECTROVALVULA ES LA MISMA QUE PILOTA EL MOVIMIENTO VERTICAL DEL PORTA-OBLEAS.

(16/11/1991). Solicitante/s: MANIA ELEKTRONIK AUTOMATISATION ENTWICKLUNG UND GERATEBAU GMBH. Inventor/es: DRILLER, HUBERT, DIPL.-PHYS., MANG, PAUL.

UN APARATO PARA COMPROBAR PLACAS CONDUCTORAS, CON UNA MULTITUD DE PUNTOS DE CONTACTO EN UN CAMPO DE CONTACTO , CONECTADO A UN DISPOSITIVO ELECTRONICO DE MANDO Y MEDICION, PUDIENDO UNIRSE MEDIANTE CLAVIJAS CON LOS PUNTOS DE CONTACTO DE LAS PLACAS CONDUCTORAS A COMPROBAR. LOS PUNTOS DE CONTACTO EN EL APARATO DE CONTROL DE PLACAS CONDUCTORAS TIENEN UN APOYO DE MUELLES FRENTE A LA PRESION DE CONTACTO. PARA QUE EL CONTACTO DE UNA PLACA CONDUCTORA A COMPROBAR EN UN MODULO DE PUNTOS DE CONTACTO DE 1/20 PULGADAS O 1,27 CM SEA OPTIMO TANTO EN SU COSTO COMO EN SU DUREZA, SE PREVEE QUE LOS PUNTOS DE CONTACTO SEAN DE MUELLES DE PRESION DE CONDUCCION ELECTRICA, INTRODUCIDAS EN TALADROS DE UN CAMPO DE MUELLES DE CONTACTO DE MATERIAL AISLANTE Y EN LOS QUE SE PUEDEN INTRODUCIR LAS CLAVIJAS DE COMPROBACION DIRECTAMENTE.

(01/09/1990). Ver ilustración. Solicitante/s: BIANCHI & IBARRONDO, S.A. Inventor/es: SALAVERRIA GARNACHO, ANGEL MARIA.

MODULO DIDACTICO DE ANALISIS DE CIRCUITOS ELECTRICOS O ELECTRONICOS REALES CON ORDENADOR, DESTINADO A REALIZAR PRACTICAS REALES CON FINES PEDAGOGICOS Y COMPRENDE SEPARADAMENTE UN MODULO SOPORTE COMUN, UN COMPLEMENTO DE SINGULARIZACION, QUE REUNE FISICAMENTE LOS COMPONENTES REALES DE LA PRACTICA A REALIZAR, Y MEDIOS DE VINCULACION ELECTRICOS Y MECANICOS ENTRE EL COMPLEMENTO DE SINGULARIZACION Y EL MODULO COMUN; ESTE ULTIMO POSEYENDO LA FUENTE DE ALIMENTACION ELECTRICA PARA DICHO COMPLEMENTO Y PARA UN CONVERTIDOR ANALOGICO-DIGITAL QUE INTRODUCE EN UN ORDENADOR PARA SU PROCESO LOS DATOS TOMADOS DEL REFERIDO COMPLEMENTO DE SINGULARIZACION.