(11/10/2017) Un método para generar una imagen multidimensional de una muestra, que consiste en: - capturar una pluralidad de primeras imágenes bidimensionales de sustrato de una región superficial de la muestra con una primera modalidad de captura de imagen, donde la primera imagen bidimensional de sustrato es una imagen bidimensional de sustrato de electrones de superficie y se capturan al menos las ubicaciones de un material en la región superficial; - capturar una pluralidad de segundas imágenes bidimensionales de sustrato de la región superficial con una segunda modalidad de captura de imagen, que difiere de la primera modalidad de captura…

(20/09/2017) 1. Soporte de muestras planas para microscopio electrónico de barrido caracterizado porque comprende una pieza superior con orificios y una pieza inferior sin orificios, las cuales se encuentran dispuestas una sobre otra unidas mediante un sistema de sujeción y contienen a la muestra entre ambas. 2. Soporte, según la reivindicación 1, caracterizado porque el grosor de las piezas es de 2 a 5 milímetros. 3. Soporte, según las reivindicaciones 1 a 2, caracterizado porque el material de las piezas se encuentra seleccionado entre plástico rígido o vidrio. 4. Soporte, según las reivindicaciones 1 a 3, caracterizado porque el sistema de sujeción se encuentra seleccionado entre pinzas foldback o…

(28/01/2013) La invención se refiere a un procedimiento de segmentación de poros de una membrana polimérica porosa en una imagen de una sección transversal de dicha membrana. El procedimiento propuesto comprende las etapas aplicar un conjunto de máscaras a una ventana centrada en un píxel y calcular un parámetro de energía para cada filtro aplicado, asociándolo al píxel en el que está centrada la ventana. Posteriormente, desplazar la ventana por toda la imagen, aplicando el conjunto de máscaras y calculando los parámetros de energía. Con los parámetros de energía obtenidos, clasificar los píxeles en píxeles pertenecientes a una región porosa o a una región no porosa…

(09/07/2012) Método para fabricar nanoagujas en zonas de interés localizadas en el interior de muestras sólidas a escala nanométrica. Este método está relacionado con la preparación de muestras por FIB para su análisis por cualquier técnica donde es interesante estudiar una característica independiente del material, o donde es útil tener una característica concreta en una nanoaguja como para la fabricación de nanoagujas SNOM. La preparación de muestra por FIB permite seleccionar características concretas de la superficie de la muestra a escala nanométrica, pero cuando la zona de interés está localizada en el interior de una muestra sólida, es necesario una nueva metodología. Este método se presenta en la presente invención, donde se combina fabricación por FIB incluyendo la introducción de marcas en una capa…

(16/11/2000) Microscopio electrónico de barrido de baja energía y grabador por haz electrónica basados en una microlente plana integrada. El invento presentado es un dispositivo ultracompacto para realizar microscopía electrónica de baja energía (300eV) y litografía por múltiples haces electrónicos en la escala por debajo de 100nm. El dispositivo de dimensiones 1 x 1 x 0,05 cm {sup,3 consta de dos membranas finas con aberturas microscópicas para la focalización del haz electrónico mediante la aplicación de potenciales eléctricos, y de un deflector quadrupolar coplanario . El procedimiento de fabricación de microlente integrada se realiza en un único sustrato,…

(01/11/1993) EL INVENTO PROPORCIONA UN SISTEMA ELECTRONICO INTEGRADO OPTICO/DIFERENCIAL DE DETECCION DE SEÑAL DE BOMBEO/FORMACION DE IMAGEN PARA UN MICROSCOPIO DE DETECCION AMBIENTAL ELECTRONICO (ESEM). EL ESEM INCLUYE UN ALOJAMIENTO MAGNETICO DE LENTE DE OBJETIVO ESENCIALMENTE CILINDRICO QUE CONTIENE UN TUBO DE REVESTIMIENTO DE VACIO DISPUESTO AXIALMENTE Y UN ELEMENTO PARA ENFOCAR MAGNETICAMENTE UN HAZ DE ELECTRONES QUE PASA A TRAVES DE DICHO TUBO DE REVESTIMIENTO. UN ANILLO ANULAR FORMADO DE MATERIAL MAGNETICO TOPA CON DICHO ALOJAMIENTO MAGNETICO POR EL EXTREMO INFERIOR DEL MISMO Y CONTIENE AL MENOS DOS PASOS DE BOMBEO SITUADOS EN EL MISMO AXIALMENTE EN RELACION MUTUA.…