(26/02/2020) Un aparato de captación de imágenes que comprende: elementos de lente; y regiones de captación de imágenes dispuestas respectivamente en correspondencia con los elementos de lente, en el que al menos dos de las regiones de captación de imágenes tienen tamaños diferentes, una región de captación de imágenes más pequeña entre las regiones de captación de imágenes que tiene un tamaño más pequeño entre los tamaños de las regiones de captación de imágenes se dispone con respecto a un elemento de lente entre los elementos de lente que tienen un diámetro más grande, y una región de captación de imágenes más grande entre las regiones de captación de imágenes que tiene un tamaño más grande entre los tamaños de las regiones de captación de imágenes…

(08/01/2020) Un aparato óptico que comprende: un sustrato semiconductor de silicio; una capa de absorción de silicio-germanio acoplada al sustrato semiconductor de silicio, incluyendo la capa de absorción una región de sensor óptico configurada para absorber fotones y para generar fotoportadores a partir de los fotones absorbidos; uno o más primeros conmutadores controlados por una primera señal de control, estando configurados los uno o más primeros conmutadores para recoger al menos una parte de los foto-portadores en base a la primera señal de control; y uno o más segundos conmutadores controlados por una segunda señal de control, estando configurados los uno o más segundos conmutadores para recoger al menos una parte de los foto-portadores en base a la segunda señal de control, en el que la segunda señal…

(06/11/2019) Procedimiento para el análisis de defectos de una conexión de cable entre un sustrato y un componente semiconductor de un producto , con un sistema de inspección , comprendiendo el sistema de inspección un primer dispositivo de proyección , una cámara de línea de exploración y un dispositivo de procesamiento, presentando el primer dispositivo de proyección al menos un equipo de proyección de hendidura , proyectándose una hendidura de luz sobre un cable de la conexión de cable por medio del equipo de proyección de hendidura, detectándose por medio de la cámara de exploración de línea luz de la hendidura luz reflejada en el cable en un plano de detección de la cámara de exploración…

(30/10/2019) Aparato óptico que comprende: un sustrato semiconductor de silicio [reivindicación 14]; una capa de germanio-silicio acoplada al sustrato semiconductor, incluyendo la capa de germaniosilicio una región de sensor óptico [p. 8, 1. 28-29] [reivindicación 1] configurada para absorber fotones y para generar foto-portadores a partir de los fotones absorbidos, en el que una composición de la capa de germanio-silicio difiere de una composición del sustrato semiconductor; uno o más primeros conmutadores controlados por una primera señal de control, estando configurados los uno o más primeros conmutadores para recoger al menos una parte de los foto-portadores en base a la primera señal de control; y uno o más segundos conmutadores controlados por una segunda señal de control, estando configurados…

(19/06/2019) Un dispositivo de formación de imágenes que comprende un sensor de formación de imágenes para registrar datos de imágenes (D1) de una escena (SC), una lente de formación de imágenes dispuesta en una trayectoria de la luz (LP) entre una apertura del dispositivo de formación de imágenes y el sensor de imagen , una fuente de luz infrarroja para iluminar la escena (SC), y un sistema de enfoque automático por infrarrojos para mover (SF) automáticamente la lente de formación de imágenes con el fin de establecer el sensor de imagen en enfoque, donde el sensor de imagen comprende una matriz de píxeles del sensor dispuestos cada uno como píxeles dobles que comprenden…

(08/05/2019) Procedimiento de procesamiento de enfoque, aplicado en un dispositivo terminal dotado de un primer conjunto de cámara para fotografiar imágenes y de un segundo conjunto de cámara para realizar un enfoque de fase, en el que el primer conjunto de cámara y el segundo conjunto de cámara pueden realizar un enfoque de manera 5 sincronizada, cada primera unidad de filtro en el primer conjunto de cámara corresponde a un punto de píxel en un primer sensor de imagen, cada segunda unidad de filtro en el segundo conjunto de cámara corresponde a un píxel de combinación en un segundo sensor de imagen, y cada píxel de combinación comprende n puntos…

(18/09/2018) Sensor de imagen , que comprende un sustrato , una pluralidad de píxeles dispuestos en una primera área (102a, 802, 852) del sustrato, y una unidad de control conectada operativamente a la pluralidad de píxeles y adaptada para polarizar selectivamente dichos píxeles y leerlos, estando el sensor de imagen caracterizado porque la unidad de control comprende: - un primer circuito de polarización (103a, 803a, 853a) para proporcionar una primera tensión de polarización (VDD); - un segundo circuito de polarización (103b, 803b, 853b) para proporcionar una segunda tensión de polarización (VSS), siendo la segunda tensión de polarización (VSS) sustancialmente simétrica a la primera tensión de polarización (VDD) con respecto a una referencia de tensión de manera que tengan signos opuestos con respecto a dicha referencia…

(26/07/2017) Un dispositivo de detección de la luz de múltiples profundidades de campo, que comprende al menos dos capas de pixeles de detección de la luz capaces de inducir una fuente de luz, en donde al menos dos capas de pixeles de detección de la luz se disponen una en la parte superior de la otra en un intervalo de una distancia preestablecida, de manera que diferentes señales de luz de una lente a una distancia específica del dispositivo de detección de la luz se enfocan a diferentes capas de pixeles de detección de la luz, en donde las diferentes señales de luz comprenden señales de luz a diferentes distancias, o señales de luz con diferentes longitudes de ondas,…