Método y aparato de colocación de pieza de trabajo.

Un método para colocar relativamente un circuito integrado y el eje de propagación de un láser u otro haz de energía dirigida durante el mapeo de sensibilidad de SEE de una memoria de microchip,

comprendiendo el método efectuar desplazamientos relativos del circuito integrado y el eje de propagación a lo largo de ejes ortogonales de manera que la intersección del eje de propagación con el circuito integrado se mueva a una velocidad sustancialmente constante a lo largo de una trayectoria en espiral, por lo que el eje de propagación es el eje de propagación de un láser pulsado u otro haz de energía dirigida;

el cambio en el radio por revolución entre vueltas sucesivas de la trayectoria en espiral es constante; y

el método se realiza con respecto al circuito integrado durante al menos dos recorridos de la trayectoria en espiral.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2011/067509.

Solicitante: MBDA UK LIMITED.

Inventor/es: CHUGG,ANDREW MICHAEL, WARD,JONATHAN JAMES, MCINTOSH,JAMES ROBERT.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R31/308 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; Ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › utilizando radiaciones electromagnéticas no ionizantes, p. ej. radiaciones ópticas.
  • G05B19/41 G […] › G05 CONTROL; REGULACION.G05B SISTEMAS DE CONTROL O DE REGULACION EN GENERAL; ELEMENTOS FUNCIONALES DE TALES SISTEMAS; DISPOSITIVOS DE MONITORIZACION O ENSAYOS DE TALES SISTEMAS O ELEMENTOS (dispositivos de maniobra por presión de fluido o sistemas que funcionan por medio de fluidos en general F15B; dispositivos obturadores en sí F16K; caracterizados por particularidades mecánicas solamente G05G; elementos sensibles, ver las subclases apropiadas, p. ej. G12B, las subclases de G01, H01; elementos de corrección, ver las subclases apropiadas, p. ej. H02K). › G05B 19/00 Sistemas de control por programa (aplicaciones específicas, ver los lugares apropiados, p. ej. A47L 15/46; relojes que implican medios anejos o incorporados que permiten hacer funcionar un dispositivo cualquiera en un momento elegido de antemano o después de un intervalo de tiempo predeterminado G04C 23/00; marcado o lectura de soportes de registro con una información digital G06K; registro de información G11; interruptores horarios o de programa horario que se paran automáticamente cuando el programa se ha realizado H01H 43/00). › caracterizado por la interpolación, p. ej. por el cálculo de puntos intermedios entre los puntos extremos programados para definir el recorrido a seguir y la velocidad del desplazamiento a lo largo de ese recorrido (G05B 19/25, G05B 19/31, G05B 19/37, G05B 19/39, G05B 19/40 tienen prioridad).
  • G05B19/418 G05B 19/00 […] › Control total de una fábrica, es decir, control centralizado de varias máquinas, p. ej. control numérico directo o distribuido (DNC), sistemas de fabricación flexibles (FMS), sistemas de fabricación integrados (IMS), fabricación integrada por computador (CIM).

PDF original: ES-2778753_T3.pdf

 

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