EQUIPOS DE INSPECCIÓN PARA DISPOSITIVOS EMISORES DE LUZ.

1. Un equipo de inspección para un dispositivo emisor de luz, que comprende:



un bastidor;

un tablero superior unido al bastidor y configurado para moverse con relación al bastidor en una primera dirección;

una plataforma de soporte unida con el tablero superior y configurada para moverse con relación al tablero superior en una segunda dirección, en donde la segunda dirección es perpendicular a la primera dirección;

un módulo de inspección para el dispositivo emisor de luz conectado a la plataforma de soporte; y

un accesorio que comprende un dispositivo de fijación de fibra óptica, en el que cuando el tablero superior se mueve para apoyarse contra el accesorio, el módulo de inspección se une con el dispositivo de fijación de fibra óptica.

2. El equipo de inspección de la reivindicación 1, en el que el tablero superior comprende una pluralidad de estructuras limitantes, y la plataforma de soporte está limitada de manera movible por las estructuras limitantes.

3. El equipo de inspección de la reivindicación 1, en el que el módulo de inspección tiene una pluralidad de primeros pilares de posicionamiento, el dispositivo de fijación de fibra óptica tiene una pluralidad de primeros orificios de posicionamiento, y cuando el tablero superior se mueve para apoyarse contra el accesorio, los primeros pilares de posicionamiento de los módulos de inspección se insertan y coinciden respectivamente con los primeros orificios de posicionamiento del dispositivo de fijación de fibra óptica.

4. El equipo de inspección de la reivindicación 3, en el que un extremo de al menos uno de los primeros pilares de posicionamiento orientado hacia el dispositivo de fijación de fibra óptica tiene un chaflán.

5. El equipo de inspección de la reivindicación 1, en el que el módulo de inspección tiene una ranura, y el dispositivo de fijación de fibra óptica tiene un tapón configurado para insertarse en la ranura.

6. El equipo de inspección de la reivindicación 5, en el que el módulo de inspección comprende una pluralidad de chips de inspección, el tapón del dispositivo de fijación de fibra óptica tiene una pluralidad de orificios receptores de fibra, y cuando el tablero superior se mueve para apoyarse contra el accesorio, los chips de inspección son alineados con los orificios receptores de fibra respectivamente.

7. El equipo de inspección de la reivindicación 1, en el que la plataforma de soporte comprende una pluralidad de segundos pilares de posicionamiento, el accesorio tiene una pluralidad de segundos orificios de posicionamiento, y cuando el tablero superior se mueve para apoyarse contra el accesorio, los segundos pilares de posicionamiento de la plataforma de soporte son respectivamente insertados y coincidentes con los segundos orificios de posicionamiento del accesorio.

8. El equipo de inspección de la reivindicación 1, en el que la plataforma de soporte comprende una placa de base, una placa de soporte, y al menos un miembro de conexión, la placa de base está unida con el tablero superior, el miembro de conexión está conectado entre la placa de base y la placa de soporte, y el módulo de inspección está dispuesto en la placa de soporte.

9. El equipo de inspección de la reivindicación 8, en el que la placa de soporte de la plataforma de soporte tiene una primera abertura, y cuando el tablero superior se mueve para apoyarse contra el accesorio, el módulo de inspección se une con el dispositivo de fijación de fibra óptica a través de la primera abertura.

10. El equipo de inspección de la reivindicación 1, en el que el accesorio comprende además una caja, la caja tiene una segunda abertura, y cuando el tablero superior se mueve para apoyarse contra el accesorio, el módulo de inspección se une con el dispositivo de fijación de fibra óptica a través de la segunda abertura.

Tipo: Modelo de Utilidad. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: U201930386.

Solicitante: Test Research, Inc.

Nacionalidad solicitante: Taiwan, Provincia de China.

Dirección: 7F., No.45, Dexing West Road, Shilin District 11158 Taipei City.

Inventor/es: YANG,Shih-wei, TSAO,Yi.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R31/44 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; Ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de lámparas.

PDF original: ES-1227112_U.pdf

 

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