Configuración de adaptador de ensayo.
Una placa base (1) para un adaptador de ensayo configurado para permitir el ensayo de diversos dispositivos en una estación de ensayo,
comprendiendo la placa base:
una primera interfaz configurada para ser conectada con un parte (4) específica a un producto configurada para recibir y someter a ensayo un tipo específico de dispositivo bajo ensayo; y
una segunda interfaz configurada para ser conectada con una parte común (3), que comprende elementos de ensayo comunes a diversos dispositivos bajo ensayo,
caracterizada porque la placa base (1) es una tarjeta de circuitos impresos dispuesta para encaminar conexiones eléctricas desde la parte común (3) hacia elementos de ensayo de la parte (4) específica a un producto usada para someter a ensayo dicho dispositivo bajo ensayo.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/FI2009/050746.
Solicitante: JOT AUTOMATION OY.
Nacionalidad solicitante: Finlandia.
Dirección: Elektroniikkatie 17 90590 Oulu FINLANDIA.
Inventor/es: LEINO,LOIT, EIKO,PRIIDEL, KERNER,MADIS.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R1/04 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 1/00 Detalles o disposiciones de aparatos de los tipos incluidos en los grupos G01R 5/00 - G01R 13/00 y G01R 31/00 (detalles estructurales particulares a disposiciones electromecánicas para medir el consumo eléctrico G01R 11/02). › Carcasas; Organos de soporte; Disposiciones de bornas.
- G01R31/28 G01R […] › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
- H04M1/24 ELECTRICIDAD. › H04 TECNICA DE LAS COMUNICACIONES ELECTRICAS. › H04M COMUNICACIONES TELEFONICAS (circuitos para el control de otros aparatos vía cable telefónico y que no implican aparatos de conmutación telefónica G08). › H04M 1/00 Equipos de subestaciones, p. ej. para utilización por el abonado (servicios de abonado o instalaciones proporcionadas en las centrales H04M 3/00; aparatos con fichas de pago previo H04M 17/00; disposiciones de suministro de corriente H04M 19/08). › Disposiciones para las pruebas.
PDF original: ES-2713056_T3.pdf
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