Método de recogida de información de estado de dispositivo y kit de recogida de información de estado de dispositivo usado para el mismo.

Método de recogida de información de estado de dispositivo para recoger información de estado de dispositivo de cada uno de un número de dispositivos (2) a gestionar,

en el que el número de dispositivos (2) a gestionar se divide entre un grupo (7) de recogida directa que comprende algunos dispositivos gestionados (2) cuya información de estado de dispositivo es recogida mediante una operación de detección mediante una unidad portátil (4) para la detección de estado de dispositivo de cada uno de los dispositivos gestionados (2) y un grupo (8a, 8b) de recogida indirecta que comprende los otros dispositivos gestionados (2) cuya información de estado de dispositivo es recogida mediante una comunicación entre cada dispositivo (2) y una unidad estacionaria (5, 6) dispuesta para ser capaz de detectar la información de estado de dispositivo del dispositivo (2),

caracterizado por

determinar la frecuencia de recogida de la información de estado de dispositivo en cada uno del número de dispositivos (2) según al menos una situación o un estado actual real del mismo,

determinar la totalidad o parte de los dispositivos gestionados (2) con una misma determinación de frecuencia de recogida en los mismos como los dispositivos gestionados (2) a incluir en el grupo de recogida directa; y

determinar los dispositivos gestionados (2) que no forman parte del grupo de recogida directa como los dispositivos gestionados (2) a incluir en el grupo de recogida indirecta.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/JP2009/070460.

Solicitante: TLV CO. LTD..

Nacionalidad solicitante: Japón.

Dirección: 881 Nagasuna Noguchi-cho Kakogawa-shiHyogo 675-8511 JAPON.

Inventor/es: NAGASE, MAMORU.

Fecha de Publicación: 11 de Abril de 2018.

Clasificación Internacional de Patentes:

G01M99/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01M ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARATOS, NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › Ensayo de estructuras o aparatos, no previstos en los otros grupos de esta subclase.
G05B19/418 G […] › G05 CONTROL; REGULACION. › G05B SISTEMAS DE CONTROL O DE REGULACION EN GENERAL; ELEMENTOS FUNCIONALES DE TALES SISTEMAS; DISPOSITIVOS DE MONITORIZACION O ENSAYOS DE TALES SISTEMAS O ELEMENTOS (dispositivos de maniobra por presión de fluido o sistemas que funcionan por medio de fluidos en general F15B; dispositivos obturadores en sí F16K; caracterizados por particularidades mecánicas solamente G05G; elementos sensibles, ver las subclases apropiadas, p. ej. G12B, las subclases de G01, H01; elementos de corrección, ver las subclases apropiadas, p. ej. H02K). › G05B 19/00 Sistemas de control por programa (aplicaciones específicas, ver los lugares apropiados, p. ej. A47L 15/46; relojes que implican medios anejos o incorporados que permiten hacer funcionar un dispositivo cualquiera en un momento elegido de antemano o después de un intervalo de tiempo predeterminado G04C 23/00; marcado o lectura de soportes de registro con una información digital G06K; registro de información G11; interruptores horarios o de programa horario que se paran automáticamente cuando el programa se ha realizado H01H 43/00). › Control total de una fábrica, es decir, control centralizado de varias máquinas, p. ej. control numérico directo o distribuido (DNC), sistemas de fabricación flexibles (FMS), sistemas de fabricación integrados (IMS), fabricación integrada por computador (CIM).
H04Q9/00 ELECTRICIDAD. › H04 TECNICA DE LAS COMUNICACIONES ELECTRICAS. › H04Q SELECCION (conmutadores, relés, selectores H01H; redes de comunicación inalámbricas H04W). › Disposiciones en sistemas de control a distancia o de telemetría para llamar selectivamente a una subestación a partir de una estación principal, subestación en la cual un aparato deseado es escogido para aplicar una señal de control o para obtener valores medidos.

PDF original: ES-2671544_T3.pdf

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