Un procedimiento para detectar fallos a tierra en una línea eléctrica LVDC y un dispositivo electrónico para el mismo.
Un procedimiento (100) para detectar fallos en una línea (500) eléctrica LVDC caracterizado por que comprende las etapas siguientes:
- adquirir (101) una primera señal (VLOW) de detección indicativa de las componentes de baja frecuencia de una corriente (IG) de desequilibrio entre una pluralidad de conductores de dicha línea eléctrica, en el que dicha primera señal de detección es obtenida por medio de un filtrado de pasa baja de una señal (VM1) de medición correspondiente indicativa de dicha corriente de desequilibrio;
- adquirir (102) una segunda señal (VHIGH) de detección indicativa de las componentes de alta frecuencia de dicha corriente (IG) de desequilibrio, en el que dicha segunda señal de detección es obtenida por medio de un filtrado de pasa alta de una señal (VM2) de medición correspondiente indicativa de dicha corriente de desequilibrio;
- obtener (103) una tercera señal (RT) de detección calculando la relación entre dichas señales (VLOW, VHIGH) de detección primera y segunda;
-- comprobar (104) si hay presente o no una corriente (IF) de CC hacia tierra comparando dicha tercera señal (RT) de detección con un primer valor (TH1) umbral.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E15179858.
Solicitante: ABB S.P.A..
Nacionalidad solicitante: Italia.
Dirección: VIA VITTOR PISANI 16 20124 MILANO ITALIA.
Inventor/es: RAGAINI,ENRICO, CARMINATI,MARCO.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/02
- G01R31/08 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Localización de defectos en los cables, líneas de transmisión o redes.
PDF original: ES-2676067_T3.pdf
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