Método para juzgar de forma automática una imagen de aglutinación mediante sistema MT, dispositivo, programa y medio de grabación.

Un método de determinación de un tipo de patrón de aglutinación para un patrón formado en un recipiente de reacción,

que comprende:

(A) establecer una pluralidad de espacios de referencia basados en uno o una pluralidad de tipos de imágenes de reacción típicas;

(B) establecer uno o una pluralidad de tipos de regiones unitarias en cada uno de los espacios de referencia obtenidos en (A) y determinar una distancia de Mahalanobis para cada región unitaria,

en donde el uno o una pluralidad de tipos de regiones unitarias comprenden una primera región unitaria que incluye una parte entera de una superficie inferior del recipiente de reacción que comprende una terraza sobre la cual se distribuyen aglutinados de una imagen de aglutinación típica y que incluye un entorno cercano de un centro en el que se acumulan no aglutinados de una imagen de no aglutinación típica, de manera que la primera región unitaria incluya una parte de la imagen de aglutinación típica o la imagen de no aglutinación típica en la que las partículas están más concentradas;

(C) establecer un valor umbral de cada una de las distancias de Mahalanobis obtenidas en (B);

(D) establecer una o una pluralidad de regiones unitarias para que una imagen de reacción sea determinada como una imagen del objeto y determinar la distancia de Mahalanobis para cada una de las regiones unitarias; y

(E) determinar el tipo de patrón de aglutinación para la imagen del objeto mediante la comparación del valor umbral establecido en (C) con las distancias determinadas en (D).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/JP2008/061663.

Solicitante: BECKMAN COULTER, INC..

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 250 S. KRAEMER BOULEVARD BREA, CA 92821 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: TAKAKURA,TOSHIAKI, SHIBUYA,TETSUNORI.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N21/17 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Sistemas en los que la luz incidente es modificada con arreglo a las propiedades del material examinado (en los que el material examinado es ópticamente excitado para producir un cambio de la longitud de onda de la luz incidente G01N 21/63).
  • G01N33/543 G01N […] › G01N 33/00 Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N 1/00 - G01N 31/00. › con un soporte insoluble para la inmovilización de compuestos inmunoquímicos.
  • G01N35/00 G01N […] › Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto.

PDF original: ES-2610820_T3.pdf

 

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