SUSTANCIA CENTELLEANTE Y ELEMENTO DE GUIA DE ONDAS CENTELLEANTE.
Material centelleante basado en un cristal de silicato que incluye lutecio (Lu) y cerio (Ce),
caracterizado porque la composición del cristal está representada por la fórmula química Lu1_ yMeyA1_xCexSiO5, en la que A es Lu y al menos un elemento seleccionado del grupo compuesto por Gd, Se, Y, La, Pr, Nd, Sm, Eu, Tb, Dy, Ho, Er, Tm e Yb, Me es al menos un elemento seleccionado del grupo compuesto por Ti, Zr, Sn, Hf, As, V, Nb, Sb, Ta, Mo y W, x es un valor entre 1x10-4f.u. y 0, 2f.u. y es un valor entre 1x10-5f.u. y 0, 05f.u.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: ZAVARTSEV, JURY DMITRIEVICH
STUDENIKIN, PAVEL ALEXEEVICH.
Nacionalidad solicitante: Federación de Rusia.
Dirección: UL. 13-AYA PARKOVAYA, 32-28,,MOSCOW, 105484.
Inventor/es: ZAVARTSEV, JURY DMITRIEVICH, STUDENIKIN, PAVEL ALEXEEVICH.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 27 de Mayo de 1998.
Fecha Concesión Europea: 4 de Octubre de 2006.
Clasificación Internacional de Patentes:
- C09K11/79 QUIMICA; METALURGIA. › C09 COLORANTES; PINTURAS; PULIMENTOS; RESINAS NATURALES; ADHESIVOS; COMPOSICIONES NO PREVISTAS EN OTRO LUGAR; APLICACIONES DE LOS MATERIALES NO PREVISTAS EN OTRO LUGAR. › C09K SUSTANCIAS PARA APLICACIONES NO PREVISTAS EN OTRO LUGAR; APLICACIONES DE SUSTANCIAS NO PREVISTAS EN OTRO LUGAR. › C09K 11/00 Sustancias luminiscentes, p. ej. electroluminiscentes, quimiluminiscentes. › que contienen silicio.
- G01T1/20 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01T MEDIDA DE RADIACIONES NUCLEARES O DE RAYOS X (análisis de materiales por radiaciones, espectrometría de masas G01N 23/00; tubos para determinar la presencia, intensidad, densidad o energía de una radiación o de partículas H01J 47/00). › G01T 1/00 Medida de los rayos X, rayos gamma, radiaciones corpusculares o de las radiaciones cósmicas (G01T 3/00, G01T 5/00 tienen prioridad). › con detectores de centelleo.
- G02B6/18
Clasificación PCT:
- C09K11/79 C09K 11/00 […] › que contienen silicio.
- G01T1/20 G01T 1/00 […] › con detectores de centelleo.
- G01T1/203 G01T 1/00 […] › siendo el detector de materia plástica.
- G02B6/028 G […] › G02 OPTICA. › G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 6/00 Guías de luz; Detalles de estructura de las disposiciones que comprenden guías de luz y otros elementos ópticos, p. ej. medios de acoplamiento. › con núcleo o revestimiento de índice de refracción calibrado.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.
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