CONECTOR DE PRUEBA.
Conector de prueba, que comprende: un primer alojamiento (51) realizado en un material aislante que presenta un espesor predeterminado y que presenta una abertura (51a) en su parte central;
un segundo alojamiento (52; 66) realizado en un material aislante e instalado de manera insertada en la abertura (51a) del primer alojamiento (51) de manera que unas paredes laterales respectivas del primer alojamiento y del segundo alojamiento son adyacentes entres sí; y unos primer y segundo elastómeros (53, 54; 64, 65) instalados respectivamente en unas superficies superior e inferior (52a, 52b) del segundo alojamiento (52; 66); caracterizado porque el conector de prueba comprende además un bloque (55) de clavijas de contacto que presenta una pluralidad de clavijas (55a; 61; 61a) metálicas dispuestas con separaciones constantes, presentando las clavijas (55a) metálicas unos granos en una dirección constante sobre las mismas en la dirección de grano y estando dobladas en una dirección perpendicular a la dirección de grano, y que presenta una cinta (55b; 62; 62a) aislante pegada a un lado o a ambos lados de las clavijas metálicas para fijar la pluralidad de clavijas (55a; 61; 61a) para que puedan moverse juntas; y porque el bloque (55) de clavijas de contacto está instalado de manera insertada entre los primer y segundo alojamientos (51, 52; 66) y está en contacto con los primer y segundo elastómeros (53, 54; 64, 65) en las proximidades de ambas partes finales (55c; 63) de las clavijas (55a; 61; 61a) de contacto.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: CHUNG, UN-YOUNG.
Nacionalidad solicitante: República de Corea.
Dirección: 345-2, BUHANG-RI, SHILCHON-MYEON,KWANGJU-KUN , KYUNGKI-DO 464.
Inventor/es: CHUNG, UN-YOUNG.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 8 de Octubre de 1999.
Fecha Concesión Europea: 25 de Mayo de 2005.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/02
- G01R31/28 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.
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