METODO PARA MEDIR SIMULTANEAMENTE LAS POSICIONES DE MAS DE UNA SUPERFICIE EN PROCESOS METALURGICOS.

UNA TECNICA Y METODO DE MEDICION PARA DETERMINAR SIMULTANEAMENTE LAS POSICIONES DE LAS SUPERFICIES DE BAÑOS DE METAL Y ESCORIA EN PROCESOS METALURGICOS.

EN LA INDUSTRIA DE PROCESOS METALURGICOS, POR EJEMPLO EN PROCESOS CONVERTORES, ES IMPORTANTE MEDIR EL GROSOR DE LA CAPA DE ESCORIA SOBRE EL BAÑO DE METAL ADEMAS DE DETERMINAR EL VOLUMEN REAL DE METAL PARA DETERMINAR EL PESO DE LA CARGA. UN GRAN NUMERO DE METODOS VARIOS HAN SIDO PROBADOS, PERO NINGUN METODO CONOCIDO RESULTA EN MEDICIONES RAPIDAS Y PRECISAS TANTO DE LAS SUPERFICIES DESDE UNA DISTANCIA Y SIN MECANISMOS MECANICOS. LA INVENCION AQUI PRESENTADO DESCRIBE UN METODO EN EL QUE ONDAS DE RADIO SON TRANSMITIDAS EN UNA BANDA DE FRECUENCIA PERPENDICULAR HACIA LAS SUPERFICIES, Y COMO UN RECEPTOR ES UTILIZADO PARA COMPARAR LA FASE DE LAS ONDAS REFLECTADAS RELATIVAS A LA ONDA TRANSMITIDA. EL CAMBIO DE FASE SE MIDE PARA UN NUMERO DE CANALES DE FRECUENCIA, Y UN TRANSFORMADOR ES ENTONCES UTILIZADO PARA TRANSFORMAR DESDE EL ESPACIO DE FRECUENCIA AL ESPACIO DE RETARDO DE TIEMPO QUE OTORGA LAS POSICIONES. EL METODO ES UTIL PARA MEDIR SUPERFICIES SUPERPUESTAS A LARGAS DISTANCIAS DESDE EL NIVEL DE REFERENCIA Y QUE SE ENCUENTRAN SEPARADAS POR LARGAS DISTANCIAS. LOS ERRORES ESTIMADOS DEL METODO SON TAN BAJOS COMO 2 {MI}M. SI UN INTERFEROMETRO ES UTILIZADO COMO ANTENA, ENTONCES LOS DATOS SERAN MUESTREADOS EN EL PLANO DE APERTURA Y LA ESTRUCTURA TRIDIMENSIONAL PUEDE SER RECONSTRUIDA.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: MEFOS-STIFTELSEN FOR METALLURGISK FORSKNING.

Nacionalidad solicitante: Suecia.

Dirección: BOX 812,S-951 28 LULEA.

Inventor/es: BAATH, LARS.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 3 de Febrero de 1994.

Fecha Concesión Europea: 24 de Septiembre de 2003.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • B22D2/00 SECCION B — TECNICAS INDUSTRIALES DIVERSAS; TRANSPORTES.B22 FUNDICION; METALURGIA DE POLVOS METALICOS.B22D COLADA DE METALES; COLADA DE OTRAS MATERIAS POR LOS MISMOS PROCEDIMIENTOS O CON LOS MISMOS DISPOSITIVOS (trabajo de materias plásticas o sustancias en estado plástico B29C; tratamientos metalúrgicos, empleo de sustancias específicas que se añaden al metal C21, C22). › Instalación de dispositivos indicadores o de medida, p. ej. de la temperatura o de la viscosidad del metal en fusión.
  • G01F23/28 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01F MEDIDA DEL VOLUMEN, FLUJO VOLUMETRICO, FLUJO MASICO O NIVEL DE LIQUIDOS; DOSIFICACION VOLUMETRICA.G01F 23/00 Indicación o medida del nivel de líquidos o materiales sólidos fluyentes, p. ej. indicación en términos de volumen, indicación por medio de una señal de alarma. › mediante la medida de variaciones de parámetros de ondas electromagnéticas o acústicas aplicadas directamente al líquido o material sólido fluyente.
  • G01N22/00 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › Investigación o análisis de materiales por la utilización de microondas (G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 24/00 tienen prioridad).
  • G01S13/88 G01 […] › G01S LOCALIZACION DE LA DIRECCION POR RADIO; RADIONAVEGACION; DETERMINACION DE LA DISTANCIA O DE LA VELOCIDAD MEDIANTE EL USO DE ONDAS DE RADIO; LOCALIZACION O DETECCION DE PRESENCIA MEDIANTE EL USO DE LA REFLEXION O RERRADIACION DE ONDAS DE RADIO; DISPOSICIONES ANALOGAS QUE UTILIZAN OTRAS ONDAS.G01S 13/00 Sistemas que utilizan la reflexión o la rerradiación de ondas de radio, p. ej. sistemas de radar; Sistemas análogos que utilizan la reflexión o la rerradiación de ondas cuya naturaleza o longitud de onda sea irrelevante o no especificada. › Sistemas de radar o análogos especialmente adaptados para aplicaciones específicas (prospección o detección electromagnética de objetos, p. ej. detección de campo cercano, G01V 3/00).

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Italia, Luxemburgo, Países Bajos, Finlandia, Oficina Europea de Patentes, Letonia, Australia, Barbados, Bulgaria, Brasil, Bielorusia, Canadá, China, República Checa, Hungría, Japón, República de Corea, Kazajstán, Sri Lanka, Madagascar, Mongolia, Malawi, Noruega, Nueva Zelanda, Polonia, República Popular Democrática de Corea.

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