DISPOSICION PARA LA INSPECCION DE SECCIONES DE PLACAS SOLDADAS.
UN MECANISMO PARA INSPECCIONAR CONJUNTOS DE PLACAS CURVAS DE ALUMINIO CON UN ESPESOR DE AL MENOS 20 MM,
DESTINADA A LA FABRICACION DE DEPOSITOS LNG ESFERICOS GRANDES O SIMILAR COMPRENDE UNA PLANTILLA DE FIJACION (4) PARA LOS CONJUNTOS DE PLACAS (4) A INSPECCIONAR, Y MEDIOS DE INSPECCION Y MEDICION PERMITEN, EN UNA FIJACION SENCILLA DE UN CONJUNTO DE PLACAS (4) EN LA PLANTILLA DE FIJACION (3) LA INSPECCION DE UNA O VARIAS JUNTAS SOLDADAS (5). LA DISPOSICION COMPRENDE SOBRE UN LADO DEL CONJUNTO DE PLACAS (4) UN PRIMER CARRO (19) MOVIL A LO LARGO DE UN PRIMER SISTEMA DE CARRIL (9), DICHO CARRO (19) ESTA PROVISTO CON UNA FUENTE DE RAYOS X (20) Y, SOBRE EL OTRO LADO DEL CONJUNTO DE PLACAS (49 UN SEGUNDO CARRO 14 MOVIL A LO LARGO DE UN SEGUNDO SISTEMA DE CARRIL (8), DICHO SEGUNDO CARRO (14) ESTA PROVISTO CON UN MEDIO TRANSMISOR DE IMAGEN Y RECEPTOR DE RAYOS X (16, 17) PARA INSPECCION POR RAYOS X. PARA LA INSPECCIONAR LA FORMA DEL CONJUNTO DE PLACAS (4), UN DISPOSITIVO DE MEDICION LASER (11) ESTA SITUADO A UNA DISTANCIA CONSIDERABLE DEL CONJUNTO DE PLACAS (4).
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: KVAERNER MASA-YARDS OY.
Nacionalidad solicitante: Finlandia.
Dirección: MUNKKISAARENKATU 1,SF-00150 HELSINKI.
Inventor/es: GUSTAFSSON, JUKKA, SALMI, JARI, LAIHO, HEIKKI.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 3 de Abril de 2002.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/24 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de contornos o curvaturas.
- G01N23/18 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › Investigación de la presencia de defectos o de material extraño.
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