DISPOSICION DE PIXELS QUE TIENE ELEMENTOS DE PIXEL DE FORMACION DE IMAGENES INTEGRADOS CON ELEMENTOS DE CIRCUITO PERIFERICO.

EN UN SISTEMA DE PIXELS QUE TIENE UN SISTEMA DE ELEMENTOS DE PIXELS,

UNA PLURALIDAD DE LINEAS SELECCIONADAS DE FILAS, UNA PLURALIDAD DE LINEAS SELECCIONADAS DE COLUMNAS Y UNA PLURALIDAD DE LINEAS DE SEÑALES, SE PRESENTA UN ELEMENTO DE PIXEL PARA MINIMIZAR EL ESPACIO MUERTO DE UNA MATRIZ CAPTADORA DE IMAGENES GENERAL QUE INCLUYE MUCHOS SISTEMAS DE PIXELS. EL ELEMENTO DE PIXEL INCLUYE UN DISPOSITIVO FOTOTRANSDUCTOR PARA DETECTAR LA LUZ, TRANSMITIR LUZ O EMITIR LUZ Y UN PAR DE TRANSISTORES DE CONMUTACION EN SERIE ACOPLADOS ENTRE EL DISPOSITIVO FOTOTRANSDUCTOR Y UNA LINEA DE SEÑAL PREDETERMINADA. ADEMAS, EL ELEMENTO DE PIXEL INCLUYE AL MENOS UN TRANSISTOR CONFIGURABLE QUE ES INDEPENDIENTE DEL PAR DE TRANSISTORES DE CONMUTACION. ESTE TRANSISTOR CONFIGURABLE QUEDA INTERCONECTADO A OTROS TRANSISTORES CONFIGURABLES DESDE OTROS ELEMENTOS DE PIXELS POR TODO EL SISTEMA PARA PODER IMPLEMENTAR FUNCIONES DESEADAS, POR EJEMPLO UN CIRCUITO DE EXPLORACION, Y UN CIRCUITO DE AMPLIFICACION PARA ASI MINIMIZAR EL ESPACIO MUERTO DE CADA SISTEMA DE PIXELS Y, EN CONSECUENCIA, EL SISTEMA CAPTADOR DE IMAGENES GENERAL. EL ESPACIO MUERTO QUE HAY ALREDEDOR DE LA PERIFERIA DEL SISTEMA SE MINIMIZA PERMITIENDO QUE MULTIPLES SISTEMAS LINDEN CON LOS CUATRO LADOS PARA FORMAR UN SISTEMA DE FORMACION DE IMAGENES COMPUESTO RELATIVAMENTE GRANDE.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: SARNOFF CORPORATION.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 201 WASHINGTON ROAD,PRINCETON, NEW JERSEY 08540.

Inventor/es: SAUER, DONALD, J.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 27 de Mayo de 1994.

Fecha Concesión Europea: 22 de Julio de 1998.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • H01L27/146 SECCION H — ELECTRICIDAD.H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (utilización de dispositivos semiconductores para medida G01; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos análogos H04R; fuentes de luz eléctrica en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación). › H01L 27/00 Dispositivos que consisten en una pluralidad de componentes semiconductores o de otros componentes de estado sólido formados en o sobre un sustrato común (detalles H01L 23/00, H01L 29/00 - H01L 51/00; conjuntos que consisten en una pluralidad de dispositivos de estado sólido individuales H01L 25/00). › Estructuras de captadores de imágenes.
  • H04N3/15

Países PCT: Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Oficina Europea de Patentes, Canadá, Japón, República de Corea.

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