REFLECTOR DOBLE.
UN SISTEMA REFLECTOR DOBLE DISPONE DE DOS ESPEJOS PRIMARIOS COLOCADOS DE FORMA SEPARADA Y ORIENTADOS HACIA UN PUNTO FOCAL COMUN.
EL SISTEMA OPTICO DISPONE ADEMAS DE DOS ESPEJOS DEFLECTORES SECUNDARIOS SEPARADOS, ASI COMO DE ESPEJOS DEFLECTORES TERCIARIOS, PARA LA CONCENTRACION DEL RAYO EN UN PUNTO FOCAL COMUN. TANTO LOS ESPEJOS PRIMARIOS COMO LOS ESPEJOS DEFLECTORES SECUNDARIOS SON DEFLECTORES CONOCIDOS COMO OFF-AXIS, POR EJEMPLO SUS SUPERFICIES REPRESENTAN SECCIONES DE LA SUPERFICIE DE UN CUERPO DE ESPEJO GRANDE, HIPOTETICAMENTE ESFERICO. LOS ESPEJOS PRIMARIOS, COMO SECCIONES DE LA SUPERFICIE DE UN GRAN ESPEJO HIPOTETICAMENTE HIPERBOLICO, ESTAN INCLINADOS EN UN ANGULO CON RESPECTO AL EJE OPTICO COMUN Y ESTAN SITUADOS A UNA DISTANCIA PREDETERMINADA, DE TAL MODO QUE EL RAYO MARGINAL INTERNO DE LA RADIACION INCIDENTE SE ENCUENTRA MAS CERCA CON EL EJE OPTICO. LOS ESPEJOS PRIMARIOS DE MAS DE OCHO METROS EN DIAMETRO DEBE ESTAR FORMADO POR SEGMENTOS INDIVIDUALES ACOPLADOS A LOS CORRESPONDIENTES SEGMENTOS DE LOS ESPEJOS DEFLECTORES SECUNDARIOS QUE SE EN ENCUENTRAN DE FORMA OPUESTA A ELLOS EN EL CAMINO DEL RAYO POR MEDIO DE UN SISTEMA DE MEDIDA DE ALTA PRECISION ASISTIDO POR COMPUTADOR, DE FORMA QUE CADA DESVIACION DE LA POSICION DE LOS SEGMENTOS DEL ESPEJO PRIMARIO PUEDE SER EFECTUADA MEDIANTE ACTUACION DEL DESPLAZAMIENTO CORRECTIVO EN TIEMPO REAL DE LOS SEGMENTOS OPUESTOS CORRESPONDIENTE DE LOS ESPEJOS DEFLECTORES SECUNDARIOS.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: ANGSTENBERGER, KARL FRIEDRICH, DIPL.-ING.
HUGENELL, HERMANN.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: ALBRECHT-DURER-RING 29 A,D-67227 FRANKENTHAL.
Inventor/es: HUGENELL, HERMANN.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 10 de Diciembre de 1991.
Fecha Concesión Europea: 26 de Abril de 1995.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G02B27/58 FISICA. › G02 OPTICA. › G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 27/00 Aparatos o sistemas ópticos no previstos en ninguno de los grupos G02B 1/00 - G02B 26/00, G02B 30/00. › Optica para la apodización o la superresolución; Sistemas ópticos con apertura sintetizada.
Países PCT: Austria, Suiza, España, Francia, Reino Unido, Italia, Liechtensein, Suecia, Finlandia, Rumania, Oficina Europea de Patentes, Australia, Canadá, Hungría, Japón, República de Corea, Noruega, Estados Unidos de América, República Popular Democrática de Corea, Unión Soviética.
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