DISPOSITIVO PARA DETECTAR FALLOS SUPERFICIALES EN UNA VARILLA O UN ALAMBRE METALICO EN MOVIMIENTO.

SE PRESENTA UN DISPOSITIVO PARA DETECTAR FALLOS SUPERFICIALES EN UNA VARILLA O ALAMBRE METALICO EN CALIENTE (11) QUE SE MUEVE A VELOCIDADES DE HASTA 130 MTS POR SEGUNDO,

EL DISPOSITIVO COMPRENDE MEDIOS DE AJUSTE DEL ALINEAMIENTO SITUADOS CORRIENTE ARRIBA Y CORRIENTE ABAJO (38) EN LOS CUALES SE INCLUYEN UNAS PRIMERAS BOBINAS (29) Y AL MENOS UN PAR DE BOBINAS SECUNDARIAS (13) COAXIALES CON LAS PRIMERAS BOBINAS, LAS PRIMERAS BOBINAS GENERAN UN FLUJO MAGNETICO ALTERNATIVO QUE PROVOCA CORRIENTES PARASITARIAS SOBRE LA SUPERFICIE DE LA VARILLA (11) QUE GENERAN EN LAS BOBINAS SECUNDARIAS UNA FLUJO DE REALIMENTACION MAGNETICO, LAS BOBINAS PRIMARIAS (29) Y SECUNDARIAS (13) DEFINEN UN DISPOSITIVO MEDIDOR (12), AL MENOS SE INCLUYEN DOS DISPOSITIVOS MEDIDORES (12) CON SU EJE LONGITUDINAL CAPAZ DE MOVERSE DESDE UNA POSICION ABIERTA (FIG. 2A) QUE DEFINE UN ORIFICIO DE ENTRADA (15), EN LA CUAL LOS DIFERENTES EJES LONGITUDINALES COINCIDEN SUBSTANCIALMENTE CON EL EJE NOMINAL DE SUMINISTRO DE LA VARILLA, HASTA UNA POSICION DE INSPECCION (FIG. 2B) QUE DEFINE UN ORIFICIO DE INSPECCION (15R), EN LA CUAL LOS EJES LONGITUDINALES SON SUBSTANCIALMENTE PARALELOS AL EJE NOMINAL DEL SUMINISTRO DE LA VARILLA (11) Y ESTAN SITUADOS SUBSTANCIALMENTE A LA MISMA DISTANCIA ALREDEDOR DE UNA CIRCUNFERENCIA CUYO CENTRO DESCANSA SUBSTANCIALMENTE SOBRE EL EJE NOMINAL DE SUMINISTRO DE LA VARILLA, EN DICHO DISPOSITIVO EL INDICE DE LLENADO DEL ORIFICIO DE INSPECCION RESULTANTE (15R) ES MAYOR DE 0.8 Y TIENDE A SER DE 0.95 O MAS, EL INDICE DE LLENADO SE DEFINE POR LA RELACION ENTRE EL AREA DE LA SECCION DE CORTE DE LA VARILLA/ALAMBRE Y EL AREA DEL ORIFICIO DE INSPECCION RESULTANTE (15R).

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: CEDA S.P.A. COSTRUZIONI ELETTROMECCANICHE E DISPOSITIVI D'AUTOMAZIONE.

Nacionalidad solicitante: Italia.

Dirección: VIA BONALDO STRINGHER 4,I-33042 BUTTRIO (UDINE).

Inventor/es: CIANI, LORENZO.

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 19 de Julio de 1995.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N27/90 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 27/00 Investigación o análisis de materiales mediante el empleo de medios eléctricos, electroquímicos o magnéticos (G01N 3/00 - G01N 25/00 tienen prioridad; medida o ensayo de variables eléctricas o magnéticas o de las propiedades eléctricas o magnéticas de los materiales G01R). › utilizando corrientes de Foucault.

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