PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA LA DETERMINACION DEL PERFIL TRANSVERSAL Y DEL PERFIL LONGITUDINAL DEL ESPESOR DE UNA BANDA CONTINUA DE MATERIAL.

Procedimiento para la determinación del perfil transversal y del perfil longitudinal del espesor de una banda de material continua

(2) a) en el cual con ayuda de una unidad de medición (6) se determina en al menos dos puntos de medición (22) espesores de banda (D), donde los puntos de medición (22) están colocados transversalmente a la dirección de avance de la banda y distanciados entre sí, b) en el cual se fija la posición longitudinal (24) del perfil longitudinal del espesor a determinar a lo largo de la dirección de avance de la banda, c) en el cual el espesor de la banda (Do) se mide directamente en la posición longitudinal (24) por la unidad de medición y se ajusta a cero el valor de un valor de corrección (-K), d) en el cual se ajusta la unidad de medición (6) transversalmente a la dirección de avance de la banda y se determina la magnitud del ajuste (-P) en relación con la posición longitudinal, e) en el cual a partir de los espesores de la banda (D) determinados en los puntos de medición (22) se calcula el incremento (k) de los espesores de banda (D) transversalmente a la dirección de avance de la banda, f) en el cual el valor de corrección (-K) se calcula como una suma del valor de corrección hasta ahora (-K) y del producto del incremento (k) y de la magnitud del ajuste (-P), g) en el cual de los espesores de banda (D) determinados en los puntos de medición (22) se calcula el espesor de banda medio (Dm), h) en el cual el espesor de banda corregido (Dok) en la posición longitudinal (24) se calcula como la suma del espesor de banda (Dm) y el nuevo valor de corrección (-K), i) en el cual se repiten los pasos d) hasta h) dentro de un ciclo de ajuste de modo iterativo, hasta que la unidad de medición (6) se haya ajustado hasta una posición de ajustado máximo transversalmente a la posición longitudinal y de regreso hasta una posición en la cual se mide directamente el espesor de banda (Do) en la posición longitudinal (24) por la unidad de medición, y en el cual el perfil transversal del espesor se determina del espesor de banda (Dm) determinado de modo iterativo y el perfil longitudinal del espesor, del espesor de banda (Dok) corregido de modo iterativo.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: IMS MESSSYSTEME GMBH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: DIESELSTRASSE 55,42579 HEILIGENHAUS.

Inventor/es: FLORMANN, PAUL.

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 18 de Mayo de 2005.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES... > Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización... > G01B11/06 (para la medida del espesor)
  • SECCION G — FISICA > METROLOGIA; ENSAYOS > MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES... > Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización... > G01B15/02 (para la medida del espesor)
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PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA LA DETERMINACION DEL PERFIL TRANSVERSAL Y DEL PERFIL LONGITUDINAL DEL ESPESOR DE UNA BANDA CONTINUA DE MATERIAL.