PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA CORREGIR ERRORES DE ALINEACION ENTRE APARATOS.

Procedimiento para corregir errores de alineación entre un dispositivo sensor (T; T1, T2) y un dispositivo efector

(G; G1, G2, G3) controlado por el dispositivo sensor (T; T1, T2) a través de un servosistema de control mediante una corrección de un vector de error de alineación (B), caracterizado por los pasos de procedimiento siguientes: a) alineación del dispositivo sensor (T; T1, T2) con un blanco de medida (Ki), b) alineación de un sensor de medida de blanco (Sg) existente en el dispositivo efector (G; G1, G2, G3) con este blanco de medida (Ki), que representa así un blanco de medida común (Ki) del dispositivo sensor (T; T1, T2) y del dispositivo efector (G; G1, G2, G3), c) captación de un valor de desviación (Di) entre la posición de la línea de mira (0) del sensor de medida de blanco (Sg), tal como ésta resulta del dispositivo efector (G; G1, G2; G3) controlado por el dispositivo sensor (T; T1, T2), y la posición del blanco de medida (Ki), tal como ésta es percibida por el sensor de medida de blanco (Sg), d) empleo de un vector de error de alineación existente (B) como señal de entrada del sistema de control y e) realización recursiva de una corrección subsiguiente del vector de error de alineación (B) sobre la base del valor de desviación (Di) y según el método de los mínimos cuadrados de error.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: OERLIKON CONTRAVES AG.

Nacionalidad solicitante: Suiza.

Dirección: BIRCHSTRASSE 155,8050 ZURICH.

Inventor/es: TOTH, PETER, BADREDDIN, ESSAM, PROF.

Fecha de Publicación: .

Fecha Concesión Europea: 26 de Enero de 2005.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • SECCION F — MECANICA; ILUMINACION; CALEFACCION;... > ARMAS > APARATOS DE MIRA; PUNTERIA (aspectos ópticos G02B) > Aparatos de puntería; Medios de colocación (dispositivos... > F41G3/32 (Dispositivos para ensayos o verificación)
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PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA CORREGIR ERRORES DE ALINEACION ENTRE APARATOS.