CONTROL DE DESCARGAS INTERNAS PARCIALES EN UN TRANSFORMADOR ELECTRICO.
EN UN METODO PARA MONITORIZAR DESCARGAS PARCIALES EN UN TRANSFORMADOR ELECTRICO DE POTENCIA (1) BAJO CONDICIONES DE FUNCIONAMIENTO NORMALES,
SE DETECTA EL CAMPO MAGNETICO EN UN AISLADOR DE ALTA TENSION (2) EN EL TRANSFORMADOR DE POTENCIA CON UN SENSOR INDUCTIVO (6) QUE COMPRENDE AL MENOS UNA BOBINA (6A, 6B) DISPUESTA EN EL AISLADOR, Y EL CAMPO ELECTRICO EN EL AISLADOR SE DETECTA CON UN SENSOR CAPACITIVO (5). LAS SEÑALES DE SALIDA DE LOS SENSORES SON SUMINISTRADAS A UNA UNIDAD DE PROCESAMIENTO DE SEÑALES (3) EN LA CUAL CADA UNA DE LAS SEÑALES DE SALIDA ES FILTRADA EN UN FILTRO DE PASO DE BANDA SEPARADO (101, 102), DESPUES DE LO CUAL LAS SEÑALES DE SALIDA FILTRADAS DE LOS SENSORES SON MULTIPLICADAS ENTRE SI. SE FORMA UNA SEÑAL DE SALIDA (PDI) DESDE LA UNIDAD DE PROCESAMIENTO DE SEÑALES DEPENDIENDO DEL RESULTADO DE LA MULTIPLICACION PARA EL PROPOSITO DE DETECTAR DESCARGAS PARCIALES INTERNAS EN EL TRANSFORMADOR.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: ABB RESEARCH LTD..
Nacionalidad solicitante: Suiza.
Dirección: P.O. BOX 8131,8050 ZURICH.
Inventor/es: LEIJON, MATS, ERIKSSON, THOMAS.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 12 de Marzo de 2008.
Clasificación PCT:
- G01R31/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46).
- G01R31/02
- G01R31/06
- G01R31/12 G01R […] › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de la rigidez dieléctrica o de la tensión de ruptura.
- G01R31/34 G01R 31/00 […] › Ensayo de máquinas dinamoeléctricas.
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