Procedimiento y sistema para estimar una pérdida de producción energética de un módulo fotovoltaico.
Procedimiento para estimar una pérdida de producción energética de un módulo fotovoltaico defectuoso (Mi) que pertenece a una central fotovoltaica,
que comprende las etapas de:
· adquisición (E1) de una imagen térmica (Imi) del módulo fotovoltaico defectuoso (Mi) en funcionamiento;
· división (E2) de la imagen térmica adquirida en diferentes zonas (Zij) de temperatura y determinación de las temperaturas respectivas (Tij) relativas a las diferentes zonas a partir de la imagen térmica (Imi);
· obtención (E5) de una temperatura de referencia (Tref) de un módulo fotovoltaico de referencia;
· detección (E6), entre dichas zonas de temperatura, de al menos una zona caliente cuya temperatura es superior a la temperatura de referencia con una diferencia de temperatura superior o igual a un valor mínimo predefinido (ΔTmin);
· cálculo (E7) de una estimación de la pérdida de producción energética del módulo a partir de la diferencia de temperatura entre la temperatura de la zona caliente y la temperatura de referencia, de la superficie de la zona caliente y de un coeficiente de intercambio térmico del módulo.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2016/061838.
Solicitante: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE ET AUX ENERGIES ALTERNATIVES.
Nacionalidad solicitante: Francia.
Dirección: 25, rue Leblanc, Bâtiment "Le Ponant D" 75015 Paris FRANCIA.
Inventor/es: HA,DUY LONG, TSANAKAS,IOANNIS.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- H02S50/15 ELECTRICIDAD. › H02 PRODUCCION, CONVERSION O DISTRIBUCION DE LA ENERGIA ELECTRICA. › H02S GENERACIÓN DE ENERGÍA ELÉCTRICA MEDIANTE LA CONVERSIÓN DE LA RADIACIÓN INFRARROJA, LUZ VISIBLE O LUZ ULTRAVIOLETA, p. ej. UTILIZANDO MÓDULOS FOTOVOLTAICOS [FV] (obtención de energía eléctrica a partir de fuentes radiactivas G21H 1/12; dispositivos semiconductores inorgánicos sensibles a la luz H01L 31/00; dispositivos termoeléctricos H01L 35/00; dispositivos piroeléctricos H01L 37/00; dispositivos semiconductores orgánicos sensibles a la luz H01L 51/42). › H02S 50/00 Monitorización o ensayos de sistemas FV, p. ej equilibrio de carga o identificación de fallos. › utilizando medios ópticos, p. ej.mediante electroluminiscencia.
PDF original: ES-2794552_T3.pdf
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