SISTEMA Y PROCEDIMIENTO PARA LA DETERMINACIÓN DE ÓRBITAS DE SATÉLITES.
Sistema y procedimiento para la determinación de órbitas de satélites que permite que a partir de,
por un lado, la recepción de la señal transmitida por un elemento reflector y, por otro lado, la señal transmitida directamente del satélite y/o la señal del satélite transmitida por otro elemento reflector, se realice una recepción homodina y/o heterodina de las señales recibidas y se obtenga, a través de un módulo de procesado digital de datos, un conjunto de elementos orbitales y/o un vector de estado del satélite a partir de la fase interferométrica de las señales recibidas.
Tipo: Patente de Invención. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: P201730749.
Solicitante: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA.
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: BARCELONA.
Inventor/es: BROQUETAS IBARS,Antonio, MARTIN FUSTER,Roger, FERNÁNDEZ USÓN,Marc, GRIMALDO SÁNCHEZ,Germán Angel.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- B64G3/00 TECNICAS INDUSTRIALES DIVERSAS; TRANSPORTES. › B64 AERONAVES; AVIACION; ASTRONAUTICA. › B64G ASTRONAUTICA; VEHICULOS O EQUIPOS A ESTE EFECTO (aparatos o métodos para obtener materiales de fuentes extraterrestres E21C 51/00). › Observación o seguimiento de vehículos espaciales (sistemas de radio, u otras ondas, para la navegación o el seguimiento G01S).
- G01B15/04 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 15/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de radiación de ondas o partículas (G01B 9/00, G01B 11/00 tienen prioridad). › para la medida de contornos o curvaturas.
PDF original: ES-2692175_A1.pdf
PDF original: ES-2692175_B2.pdf
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