UN MICROSCOPIO ELECTRONICO PERFECCIONADO.
Un microscopio electrónico perfeccionado, que comprende una fuente de electrones,
una lente condensadora, una lente objetivo, y un mecanismo de conmutación para selección del modo de funcionamiento TEM o STEM, caracterizado porque una lente auxiliar que está dispuesta cerca de la lente objetivo forma parte del mecanismo de conmutación.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: N.V. PHILIPS' GLOEILAMPENFABRIEKEN.
Nacionalidad solicitante: Países Bajos.
Fecha de Solicitud: 24 de Mayo de 1978.
Fecha de Publicación: .
Fecha de Concesión: 19 de Junio de 1979.
Clasificación Internacional de Patentes:
- H01J37/04 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H). › H01J 37/00 Tubos de descarga provistos de medios o de un material para ser expuestos a la descarga, p. ej. con el propósito de sufrir un examen o tratamiento (H01J 33/00, H01J 40/00, H01J 41/00, H01J 47/00, H01J 49/00 tienen prioridad). › Disposiciones de electrodos y partes asociadas para generar o controlar la descarga, p. ej. dispositivo electronóptico, dispositivo ionóptico.
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