8 inventos, patentes y modelos de SCHYNS,MARC

(20/05/2019) Procedimiento para la medición sin contacto, simultánea y en tiempo real del grosor (e) y de la temperatura (T) de una capa de óxido depositada sobre un sustrato metálico, preferentemente una banda de acero en movimiento destinada a un tratamiento ulterior de galvanización por inmersión en caliente, utilizando una instalación que comprende una fuente de luz que forma, por medio de un primer medio óptico , preferentemente una lente, una pequeña mancha luminosa en la superficie del sustrato, un obturador posicionado entre la fuente de luz y el sustrato, un segundo medio óptico , preferentemente una lente, que forma…

(20/03/2013) Procedimiento para el establecimiento del levantamiento topográfico micrométrico global y la determinación enlínea de parámetros de rugosidad 2D y 3D de una superficie S en desplazamiento, preferentemente una superficiede acero, según el cual se utiliza: - una fuente (4, 4') de luz láser que emite un haz que pasa a través de una o varias fibras ópticas y un sistemaóptico que realiza por lo menos una línea micrométrica de longitud por lo menos igual a una anchura decampo de visión de 500 mm, proyectándose dicha línea micrométrica sobre dicha superficie según un ángulode incidencia a comprendido entre 10 y 80º, y preferentemente entre 25 y 65º, con respecto a un eje óptico Z,utilizándose también la fuente láser (4, 4') para realizar una iluminación que…

(18/03/2010) Procedimiento de caracterización en línea de una superficie (S) en movimiento, preferentemente una chapa galvanizada, que utiliza principalmente: - un primer conjunto, denominado conjunto A, que consiste en por lo menos un microscopio industrial equipado con un objetivo de gran distancia de trabajo , una lente de adaptación de cámara, un aparato de adquisición de imágenes con una salida analógica o digital, una iluminación de tipo campo claro y/o campo oscuro que comprende un láser , un sensor de distancia , y un motor que actúa sobre el desplazamiento lineal según el eje (Z), es decir el desplazamiento según el eje óptico del microscopio con el fin de permitir el enfocado correcto del sistema, estando dicho conjunto A montado sobre un conjunto denominado…

(01/06/2009) Procedimiento para la inspección de la superficie de un cuerpo cilíndrico , en el que: #- se observa por lo menos una zona de dicha superficie por medio de un dispositivo de inspección que presenta un eje óptico orientado hacia dicha zona con vistas a determinar el estado de superficie de dicho cilindro ; #- se capta y se analiza una imagen de dicha zona proporcionada por dicho dispositivo de inspección , siendo el análisis de dicha imagen captada comparado con el análisis de una imagen de referencia, siendo detectadas las diferencias que existen entre el análisis de la imagen captada y el análisis de dicha imagen de referencia; #- se ajusta por lo menos la orientación de dicho eje óptico de manera que reduzca…

(01/09/2008) Procedimiento para la medición de distancias por vía óptica, preferentemente por triangulación láser, sobre una banda o superficie metálica especular o casi especular en desplazamiento continuo en una instalación, preferentemente de galvanización de acero por inmersión en caliente, caracterizado porque comprende las siguientes etapas: -un haz luminoso, denominado haz incidente, es emitido por una fuente , preferentemente una fuente láser, incorporada en un cabezal de medición , proyectando dicha fuente un motivo en forma de una pluralidad de puntos, preferentemente una línea, dispuestos según un eje perpendicular a la dirección de desplazamiento de la superficie metálica, según una dirección de incidencia sobre una parte fija no especular, de dicha instalación; -en primer…

(01/07/2008) Procedimiento para la medición sin contacto y en tiempo real del espesor (e) de una capa de óxido depositada sobre un sustrato metálico, preferentemente una banda de acero en movimiento destinada a un tratamiento ulterior de galvanización con remojado en caliente, que utiliza una instalación que comprende una fuente de luz que presenta un espectro esencialmente continuo y que forma, por medio de un primer medio óptico , preferentemente una lente, una pequeña mancha luminosa en la superficie del sustrato, un obturador posicionado entre la fuente de luz y el sustrato, un segundo medio óptico , preferentemente una lente, que forma…