8 inventos, patentes y modelos de GOMEZ HERRERO,JULIO
CRISTALES DE GERMANIO ALFA DE POCAS LÁMINAS, PROCEDIMIENTOS PARA SU PREPARACIÓN Y USOS DE DICHOS CRISTALES.
Sección de la CIP Química y metalurgia
(08/08/2019). Solicitante/s: NANOINNOVA TECHNOLOGIES S.L. Clasificación: C01G17/00, C22B41/00.
La presente invención proporciona cristales de ¿-germanio de morfología laminar donde dicho cristal comprende una o más nanoláminas de germanio apiladas entre sí, así como dos procedimientos de obtención de dichos cristales. La invención también proporciona el polvo que comprende los cristales de ¿-germanio de la invención, dispersiones que comprenden el cristal de ¿-germanio de la invención o el polvo de la invención, así como la tinta que comprende dichas dispersiones.
Secciones de la CIP Química y metalurgia Técnicas industriales diversas y transportes
(02/08/2019). Solicitante/s: NANOINNOVA TECHNOLOGIES S.L. Clasificación: C09D11/00, C01G17/00, B82Y30/00, B82Y40/00.
Cristal de germanio.
La presente invención proporciona cristales de α-germanio de morfología laminar donde dicho cristal comprende una o más nanoláminas de germanio apiladas entre sí, así como dos procedimientos de obtención de dichos cristales. La invención también proporciona el polvo que comprende los cristales de α-germanio de la invención, dispersiones que comprenden el cristal de α-germanio de la invención o el polvo de la invención, así como la tinta que comprende dichas dispersiones.
PDF original: ES-2721672_A1.pdf
PDF original: ES-2721672_B2.pdf
SISTEMA PARA UN MICROSCOPIO DE FUERZAS ATÓMICAS.
Sección de la CIP Física
(09/05/2019). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC). Clasificación: G01B7/34.
La presente invención se refiere a un sistema que comprende un conjunto palanca-punta y un nanopilar magnético situado sobre el extremo de la punta del conjunto palanca-punta que ha sido depositado mediante la técnica de deposición inducida mediante haz de electrones focalizado. Además, la presente invención se refiere a un microscopio de fuerzas magnéticas que comprende dicho sistema y al uso de dicho sistema o microscopio para la realización de estudios simultáneos topográficos y magnéticos y/o de manipulación de muestras de tamaño micro y nanométrico en medio líquido, preferiblemente de muestras biológicas. Por tanto, la presente invención se engloba en el área de la nanotecnología, concretamente en el área de la fabricación de dispositivos para la caracterización de muestras de tamaño micro y nanométrico.
SISTEMA PARA UN MICROSCOPIO DE FUERZAS ATÓMICAS.
Sección de la CIP Física
(07/05/2019). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Clasificación: G01B7/34.
Sistema para un microscopio de fuerzas atómicas.
La presente invención se refiere a un sistema que comprende un conjunto palanca-punta y un nanopilar magnético situado sobre el extremo de la punta del conjunto palanca-punta que ha sido depositado mediante la técnica de deposición inducida mediante haz de electrones focalizado. Además, la presente invención se refiere a un microscopio de fuerzas magnéticas que comprende dicho sistema y al uso de dicho sistema o microscopio para la realización de estudios simultáneos topográficos y magnéticos y/o de manipulación de muestras de tamaño micro y nanométrico en medio líquido, preferiblemente de muestras biológicas. Por tanto, la presente invención se engloba en el área de la nanotecnología, concretamente en el área de la fabricación de dispositivos para la caracterización de muestras de tamaño micro y nanométrico.
PDF original: ES-2711860_A1.pdf
Procedimiento de obtención de microcontactos, microcontacto obtenible y uso del mismo.
Sección de la CIP Técnicas industriales diversas y transportes
(26/01/2016). Solicitante/s: UNIVERSIDAD AUTONOMA DE MADRID. Clasificación: B81C3/00.
Procedimiento de obtención de microcontactos, microcontacto obtenible y uso del mismo.
Se describe en este documento un procedimiento de obtención microelectrodo de microcontactos. El procedimiento de la invención se lleva a cabo con un microscopio, una mesa de traslación XY, y un manipulador XYZ. De tal manera que sobre un substrato con un elemento con alguna de sus dimensiones en la nanoescala adsorbido se coloca alineado con dicho elemento un portamuestras lleva fijado en al menos uno de sus extremos un material de polímero viscoelástico con una lámina, con una capa de un material inorgánico conductor eléctrico, para posteriormente transferir la capa de material inorgánico al substrato mediante presión. Al retirar la presión, la capa de material inorgánico queda adherida a la superficie del substrato despegándose de la de polímero viscoelástico, para posteriormente establecer un contacto entre el material inorgánico y al menos un circuito externo.
PDF original: ES-2557507_A1.pdf
PDF original: ES-2557507_B1.pdf
PROCEDIMIENTO DE CONTROL DE UN MICROSCOPIO DE BARRIDO.
(20/05/2013) Procedimiento de control de un microscopio de barrido.
Procedimiento de control con al menos dos lazos de control para un microscopio de barrido provisto de una micropalanca y un actuador adaptado para excitar la micropalanca, donde un primer lazo mantiene como variable controlada la amplitud de oscilación de la micropalanca y como variable manipulada la amplitud de la señal eléctrica introducida en el actuador y un segundo lazo usa como variable controlada amplitud de la señal eléctrica anterior y como variable manipulada la distancia punta-muestra. Gracias a este procedimiento es posible ignorar cambios de signo en la interacción punta-muestra.
PROCEDIMIENTO DE CONTROL DE UN MICROSCOPIO DE BARRIDO.
Sección de la CIP Física
(18/04/2013). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD AUTONOMA DE MADRID. Clasificación: G01Q60/34.
Procedimiento de control con al menos dos lazos de control para un microscopio de barrido provisto de una micropalanca y un actuador adaptado para excitar la micropalanca, donde un primer lazo mantiene como variable controlada la amplitud de oscilación de la micropalanca y como variable manipulada la amplitud de la señal eléctrica introducida en el actuador y un segundo lazo usa como variable controlada amplitud de la señal eléctrica anterior y como variable manipulada la distancia punta-muestra. Gracias a este procedimiento es posible ignorar cambios de signo en la interacción punta-muestra.
DISPOSITIVO INTERFASE DIGITAL PARA LA INTEGRACION DEL MODO DE IMAGEN EN ESPECTROSCOPIO DE FUERZA MONOMOLECULAR.
(29/01/2010) Dispositivo interfase digital para la integración del modo de imagen en espectroscopio de fuerza monomolecular.
Cuenta con un cabezal de detección de AFM conectado a un controlador de espectroscopia que se une a una tarjeta de obtención de datos instalada en un ordenador unido a un bloque procesador DSP que conecta con un bloque de conversión DAC-ADC . La muestra a analizar se monta en un elemento oscilante colocado sobre un posicionador 3D empujado por un motor y unido a un sensor de posición con sensores en tres direcciones. Un controlador de imagen conecta con la tarjeta , el bloque de conversión , el sensor…
