SISTEMA PARA PROCESAR UNA MUESTRA EN LITOGRAFIA POR INTERFERENCIA DE HACES LASER.
(03/10/2011) Sistema para procesar una muestra en litografía por interferencia de haces láser, según el cual sobre un plano espacial se sitúan un número "2n" de espejos para la incidencia sobre ellos de "2n" haces láser , siendo el plano espacial paralelo a un plano en el que se sitúa la muestra a procesar y el punto "P" de interferencia de los haces láser , que queda sobre las bisectrices de las parejas de haces láser , estando cada pareja de haces láser en un plano normal al plano de la muestra, la cual es susceptible de desplazarse y girar respecto de tres ejes cartesianos
PROCESO DE PROTOTIPADO MULTIPLE PARA MICROSENSORES MECANICOS DE TIPO CAPACITIVO.
(02/02/2011) Proceso de prototipado múltiple para microsensores mecánicos de tipo capacitivo, basado en la identidad del valor de un determinado número de parámetros geométricos: en los microsensores mecánicos, con los pasos de:- Definir en un sustrato microestructuras .- Definir sobre las microestructuras una placa de condensador .- Posicionar en una segunda capa de sustrato superior una segunda placa de condensador rígida.- Definir en una tercera capa de sustrato inferior , unas cavidades .- Apilar y pegar las tres capas de sustrato (5, 8 y 10)
CIRCUITO CONVERSOR DE CAPACIDAD-FRECUENCIA PARA TRANSDUCTORES CAPACITIVOS.
(25/06/2010) Circuito conversor de capacidad-frecuencia para transductores capacitivos, formado por un oscilador en anillo que incluye condensadores de capacidad variable con la magnitud a medir, un contador binario que proporciona una salida digital binaria, un conversor de paralelo a serie y un bloque de lógica de control que coordina las operaciones entre los componentes citados
CIRCUITO OSCILADOR EN ANILLO DE BAJO CONSUMO CON PROTECCION FRENTE A VARIACIONES DE TENSION DE ALIMENTACION.
(01/06/2010) Circuito oscilador en anillo de bajo consumo con protección frente a variaciones de tensión de alimentación, comprendiendo una fuente de alimentación de configuración cascodo y un oscilador en anillo que posee un circuito de protección frente a variaciones de la tensión formado por transistores PMOS y transistores NMOS, en donde la fuente de alimentación proporciona una tensión de alimentación al circuito oscilador en anillo , en cuya salida "OUT" se obtiene un tren de pulsos cuya frecuencia es independiente de las variaciones de la tensión de alimentación
CONVERTIDOR CAPACIDAD-FRECUENCIA CON LA CAPACIDAD VARIABLE COMO FUENTE DE ALIMENTACION DEL OSCILADOR.
(01/06/2010) Convertidor capacidad-frecuencia con la capacidad variable como fuente de alimentación del oscilador, comprendiendo un dispositivo de capacidad variable , el cual alimenta a un oscilador que proporciona un tren de pulsos (Vpulse) a un contador del que se obtiene una salida binaria (tsalida) que es función del tiempo de descarga del condensador del dispositivo de capacidad variable y de la tensión (Vcap) entre los, terminales de la capacidad
SISTEMA DE LITOGRAFIA POR INTERFERENCIA DE LASER.
Sección de la CIP Física
(03/09/2009). Ver ilustración. Solicitante/s: INSTITUTE OF APPLIED PHYSICS
CENTRO DE ESTUDIOS E INVESTIGACIONES TECNICAS DE GUIPUZCOA (CEITG)
OPTOELECTRONICS RESEARCH CENTRE, TAMPERE UNIVERSITARY OF TECHNOLOGY. Clasificación: G03F7/20.
Sistema de litografía por interferencia de láser, que consiste en la aplicación de una radiación láser por pulsos de alta potencia, dividiéndose dicha radiación en haces que después se recombinan mediante reflexión para incidir sobre el material de aplicación, con parámetros de configuración, para definir patrones de gran superficie en un único paso sobre el material.
METODO PARA LA DETERMINACION DEL NUMERO DE METANO DE GASES COMBUSTIBLES.
Secciones de la CIP Física Técnicas industriales diversas y transportes
(16/09/2008). Ver ilustración. Solicitante/s: NATURCORP MULTISERVICIOS, S.A.
KOSORKUNTZA, A.I.E.
WARTSILA NSD. IBERICA, S.A. Clasificación: G01N33/22, B81B1/00, G01N25/18.
Método para la determinación del número de metano de gases combustibles, que comprende la medición de la conductividad térmica del gas a analizar y la determinación analítica de la correlación entre dicha conductividad y el número de metano, a partir de gases de composición conocida, de cuyos valores se deduce la expresión#NM = a{sub,0}.{la} + a{sub,1} #en la NM es el Número de Metano, {la} la conductividad térmica y a{sub,0} y a{sub,1} los coeficientes obtenidos en la regresión lineal. La medición de la conductividad térmica se lleva a cabo mediante un dispositivo que comprende un elemento calefactor y un elemento sensor , ubicados sobre otros tantos micropuentes definidos en un sustrato de silicio monocristalino . Los elementos calefactor y sensor están relacionados con tomas de corriente a través de pistas de conexión que discurren sobre el sustrato de silicio.
