DISPOSITIVO DE MEDIDA DE LAS CARACTERISTICAS DE UN COMPONENTE DE HIPERFRECUENCIA.

(16/11/1992). Solicitante/s: THOMSON COMPOSANTS MICROONDES. Inventor/es: GEFFROY, DOMINIQUE, BITOUNE, SYLVIANE, GROSSIER, FRANCOIS, LE CREFF, MAURICE, RALALA, GERARD.

LA INVENCION CONCIERNE A UN DISPOSITIVO QUE, FIJADO SOBRE UN APARATO DE MEDIDA, PERMITE TENER ACCESO A LOS BORNES DE UN COMPONENTE DE HIPERFRECUENCIA, PARA MEDIDA DE SUS PARAMETROS "S". A FIN DE CONSEGUIR UNIONES MAS CORTAS ENTRE LAS LINEAS DE ACCESO (4+7) DEL DISPOSITIVO Y LOS BORNES DE ENTRADA Y SALIDA DEL COMPONENTE A MEDIR, LA INVENCION PREVE QUE LOS DOS BLOQUES DE ACCESO QUE SOPORTAN LAS LINEAS DE ACCESO, SEAN REGULABLES EN POSICION, CON RESPECTO AL COMPONENTE A MEDIR, SEGUN DOS GRADOS DE LIBERTAD, EN DISTANCIA Y EN TRASLACION LATERAL. EL COMPONENTE A MEDIR, CUALQUIERA QUE SEA SU TIPO (PULGA, ENCAPSULADO, EN CIRCUITO HIBRIDO) ESTA SOPORTADO POR UN BLOQUE , INSERTADO ENTRE LOS DOS BLOQUES DE ACCESO , Y DE DIMENSIONES IGUALES A LAS DEL COMPONENTE . APLICACION A LA MEDIDA DE LOS PARAMETROS "S", DE RUIDO, DE POTENCIA, EN HIPERFRECUENCIAS.