CIP-2021 : G01R 31/302 : Ensayos sin contacto.
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12).
G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46).
G01R 31/302 · · Ensayos sin contacto.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
Determinación de parámetros eléctricos de una tarjeta sin contacto.
(08/06/2016) Un aparato de determinación de uno o más parámetros eléctricos de un dispositivo de almacenamiento de datos sin contacto que incluye una antena de tarjeta con una bobina de uno o más devanados conectada a un microchip de tarjeta, comprendiendo el aparato:
un analizador de impedancia configurado para medir datos de impedancia de una sonda de captación que interactúa través de un campo electromagnético con el dispositivo de almacenamiento de datos sin contacto y para determinar los datos de impedancia medidos como una función de al menos una de entre: frecuencia,
corriente y tensión;
una unidad simuladora configurada para determinar los datos de impedancia calculados de un modelo computarizado de la sonda de captación que interactúa a través de un campo electromagnético modelizado con un modelo computarizado…
Método y sistema para determinar la retirada de artículos en una zona de interrogación de RFID.
(20/05/2015) Un sistema de RFID , comprendiendo el sistema:
al menos un lector de RFID que transmite señales de interrogación en una zona de interrogación, en donde cada lector de RFID transmite señales de interrogación que tienen una cantidad de energía de RF directa y recibe señales de respuesta desde los artículos en la zona de interrogación que tienen una cantidad de energía de RF reflejada; y
un circuito de detección , determinando el circuito de detección la presencia de un artículo en la zona de interrogación basándose al menos en parte en la cantidad de energía de RF reflejada,
caracterizado por que
el circuito de detección detecta un nivel acumulativo de energía reflejada para determinar la retirada de un número dado de artículos de una estantería en la zona de interrogación, en donde la circuitería de detección…
Procedimiento de determinación de la sensibilidad de los componentes electrónicos frente a partículas.
(05/11/2013) Un procedimiento de caracterización de la sensibilidad a las interacciones energéticas de un componente electrónicoen el que:
- se pone el componente electrónico en servicio,
- se excita el componente electrónico así puesto en servicio por excitaciones producidas por una radiación láser,
- se mide un defecto de funcionamiento del componente electrónico puesto en servicio correspondiente a estasexcitaciones,
- se establece una cartografía de zonas de sensibilidad del componente en que estas excitaciones tienen unefecto,
- se aplica a la cartografía de zonas de sensibilidad un programa de agresión por una partícula que provocainteracciones…
DISPOSITIVO PARA LA PRUEBA DE PLATINAS DE CIRCUITOS.
(16/04/2003). Solicitante/s: ITA INGENIEURBIRO FIR TESTAUFGABEN GMBH. Inventor/es: BUKS, MANFRED, HOSSEINI, KARIM.
Dispositivo para la prueba de componentes electrónicos , con un dispositivo de excitación que contacta galvánicamente el componente y lo excita mediante la conexión de una tensión para la creación de un campo en el espacio circundante, así como con un dispositivo de medición que se posiciona con un primer electrodo cerca del componente, caracterizado porque el dispositivo de medición se separa galvánicamente del componente y porque el dispositivo de medición presenta un amplificador de medición que se configura para la medición de una diferencia de tensión entre el primer electrodo y un segundo electrodo , dispuesto en el campo a una distancia de éste.
PROCEDIMIENTO PARA EL CONTROL DE UNA TARJETA DE CIRCUITO IMPRESO EQUIPADA, EN ESPECIAL, EL CONTROL DE LAS SOLDADURAS DE LA TARJETA Y APARATO PARA LA APLICACION DE DICHO PROCEDIMIENTO.
(16/10/1994). Solicitante/s: BULL S.A.. Inventor/es: QUINTARD, ALAIN.
EL INVENTO SE REFIERE A UN PROCEDIMIENTO PARA EL CONTROL DE UNA TARJETA DE CIRCUITO IMPRESO EQUIPADA, EN ESPECIAL DE LAS SOLDADURAS DE LA TARJETA, Y UTILIZABLE DE FORMA VENTAJOSA EN TARJETAS EQUIPADAS CON COMPONENTES DE MONTAJE EN LA SUPERFICIE (CMS). SEGUN EL INVENTO, EL PROCEDIMIENTO DE CONTROL CONSTA DE AL MENOS LAS SIGUIENTES FASES: - CALENTAMIENTO DE CORTA DURACION DE LA TARJETA (O DE UNA PARTE EXTENSA DE LA MISMA); - TOMA DE UNA IMAGEN TERMOGRAFICA DE LA TARJETA (O DE DICHA PARTE EXTENSA) TRAS PARAR EL CALENTAMIENTO, PREFERENTEMENTE DESDE EL MOMENTO EN QUE ESTE SE PARA; TRATAMIENTO DE LA IMAGEN POR DETECCION DE LA SEPARACION TERMICA EN RELACION A UN UMBRAL PREDEFININDO PARA LAS ZONAS DE LA TARJETA A CONTROLAR, POR EJEMPLO LAS AREAS DE RECEPCION DE SOLDADURA. EL INVENTO SE REFIERE IGUALMENTE A UN APARATO PARA LA APLICACION DEL PROCEDIMIENTO DE CONTROL.