(17/12/2014) Procedimiento para la obtención del punto de intercepción de tercer orden en circuitos analógicos lineales integrados en un cristal semiconductor mediante la medición de temperatura. La presente invención describe un procedimiento para la medida de la linealidad en circuitos analógicos lineales integrados en un cristal semiconductor, a través de la obtención del punto de intercepción de tercer orden mediante la medición de temperatura. La Fig. 1 muestra un cristal semiconductor que puede contener diferentes circuitos analógicos y/o digitales , siendo uno de ellos un circuito analógico lineal, en este caso un amplificador . El funcionamiento de dicho amplificador provoca una disipación de potencia y ésta un incremento de temperatura en la superficie del…

(10/10/2013) Procedimiento para la medición de la eficiencia de amplificadores de potencia integrados lineales clase A utilizando mediciones de temperatura en continua. La presente invención describe un procedimiento para la medición de la eficiencia de amplificadores de potencia integrados lineales clase A utilizando mediciones de temperatura en continua. La Fig. 1 muestra un circuito integrado que contiene un amplificador lineal de potencia clase A . La figura también muestra el generador que suministra una tensión continua para alimentar al amplificador y el generador de señal que el amplificador amplifica y entrega a la carga . Mediciones de la componente continua de la temperatura en puntos seleccionados del circuito integrado, en este caso el punto , permiten la medición de la eficiencia del amplificador sin necesidad de utilizar…