(13/06/2019) La presente invención se refiere a un proceso implementado por computadora que consiste en etapas de fijado preciso, manipulación y mediciones masivas por microscopía de fuerza atómica (MFA, AFM o BioAFM) de manera automática de las propiedades físicas y mecánicas de diferentes tipos de muestras como células, bacterias solas o con interacción con nanopartículas, biomoléculas y otro tipo de nanoestructuras derivadas del carbono como el grafeno o partículas sintéticas. El proceso realiza múltiples mediciones en una sola muestra que están arregladas de forma precisa y continúa el procedimiento de forma automática a otras muestras. Al finalizar, el área de trabajo continúa con otras áreas realizando miles de nanoindentaciones en un tiempo muy corto de manera confiable y reproducible para…

(20/02/2013) La presente invención proporciona un dispositivo posicionador que presenta una alta estabilidad mecánica por lo que puede ser incorporado en un microscopio de sonda local, siendo operable en entornos criogénicos, en especial a bajas temperaturas, a muy bajas temperaturas, y a temperaturas menores que 100 mK, y adicionalmente en presencia de altos campos magnéticos. El dispositivo comprende una base solidaria del microscopio de sonda local, un portamuestras, unos medios de guiado entre la base y el portamuestras y un actuador situado fuera del recinto de bajas temperaturas. Unos medios de transmisión de fuerza aislantes térmicamente…